一種低電壓低溫漂的基準電流源
0 引 言
基準電流源在模擬和混合信號系統(tǒng)中占有非常重要的地位,在A/D轉(zhuǎn)換器,D/A轉(zhuǎn)換器以及很多模擬電路如運算放大器、濾波器等電路中起著至關(guān)重要的作用。目前出現(xiàn)了幾種基準電流的設(shè)計方式。文獻[1]提出的電路測試的溫度系數(shù)為50 ppm/℃。文獻[2]是一種非帶隙電路通過二階溫度補償產(chǎn)生基準電流,溫度系數(shù)為28 ppm/℃。文獻[3]提出一種低溫漂低電源電壓調(diào)整率CMOS基準電流源,其溫度系數(shù)為6.9 ppm/℃,但溫度范圍為-40~85℃,相對變化范圍較小。文獻[4]利用帶隙基準電路產(chǎn)生正溫系數(shù)基準電壓和遷移率的負溫效應(yīng)相互抵消,產(chǎn)生基準電流。但溫度系數(shù)仍大于15 ppm/℃。在此設(shè)計一種CMOS基準電流源,首先通過二階補償?shù)牡蛪簬痘鶞孰娐返玫交鶞孰妷海缓笥蛇@個基準電壓偏置NMOS的輸出管得到基準電流。這個輸出管將被設(shè)計工作在零溫漂點附近,在零溫漂點上,通過輸出管的閾值電壓和遷移率隨溫度的變化率相互補償,從而減小了溫度對偏置電流的影響。
1 零溫漂偏置點設(shè)計
作為一個電流源應(yīng)有非常高的輸出電阻,所以將電流源設(shè)置在輸出管的漏端。如圖1所示,基準電流的穩(wěn)定性主要取決于偏置電壓VREF,M1的閾值電壓VTH1以及遷移率μn。當輸出管M1工作在飽和區(qū)時,基準電流可表示為:
式中:Cox為單位面積的柵氧化層電容;W1和L1分別為溝道的有效寬度和長度;文中的VREF是由一個與溫度基本無關(guān)的二階補償?shù)牡蛪簬痘鶞孰娐返玫降?。但閾值電壓VTH1以及遷移率μn都和溫度有關(guān),當溫度在0~100℃時,VTH1隨溫度的最大變化值有150 mV左右。從式(1)可以看出,IREF會隨溫度有較大的變化。但當輸出管工作在零溫漂的偏置點上時,就可以得到一個與溫度基本無關(guān)的基準電流源,式(2)和式(3)分別給出閾值電壓VTH1以及遷移率μn與溫度的關(guān)系:
式中:αμ也是一個負常數(shù)。
將式(2)和式(3)代入式(1)得:
由于NMOS的溝道摻雜濃度在1015~1016cm-3左右,這時的負常數(shù)αμ將十分接近-2。在這種情況下,如果:
式中:VZTC是當輸出管工作在零溫漂點的偏置電壓。將式(5)代入式(4)就可以得到一個基本與溫度無關(guān)的基準電流源。
式中:IZTC是當輸出管工作在零溫漂點的基準電流。
圖2給出在不同的溫度下,輸出管M1的漏電流隨柵電壓變化的特征曲線,結(jié)果表明在CSMC 0.5/μmCMOS工藝中,輸出管M1的零溫漂點為(IZTC=215.4μA,VZTC=1.244 4 V)。
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