新聞中心

EEPW首頁 > EDA/PCB > 設(shè)計應(yīng)用 > 基于FPGA的24×24位低功耗乘法器的設(shè)計

基于FPGA的24×24位低功耗乘法器的設(shè)計

作者: 時間:2011-02-10 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

式中:Pdynamic是動態(tài)功耗;Pshort是短路功耗;Pleakage是漏電流功耗。當(dāng)CMOs的輸入信號發(fā)生翻轉(zhuǎn)時,會形成一條從電源到地的電流Id對負(fù)載電容進(jìn)行充電,從而產(chǎn)生Pdynamic。一般情況下,Pdynamic占系統(tǒng)功耗的70 %~90%。因此,有效地降低Pdynamic也就降低了電路功耗。
為了降低CMOS輸入信號的翻轉(zhuǎn)活動率,本文對部分積相加過程中用到的全加器和半加器進(jìn)行了必要的改進(jìn),從而避免當(dāng)乘數(shù)y的某一位是“0”時輸入信號的翻轉(zhuǎn),本文的全加器和半加器的結(jié)構(gòu)如圖3所示。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/191368.htm


圖3中,xi+1,xi分別是被乘數(shù)的某一位,yi是乘數(shù)的某一位,ci,ci+1,co是加法器的進(jìn)位輸出信號,si是加法器的和。
從圖1中可以看到,y經(jīng)過編碼以后得到兩個數(shù)b和c,其中,b是二進(jìn)制數(shù),c是21位二進(jìn)制數(shù)。由式(5)可得到下式:
z=x×b-x×c (7)
為了降低的延遲,將b和c分別分成三部分(即 b[23:16],b[15:8],b[7:0],c[20:16],c[15:8]和c[7:O]),x分別與這6個數(shù)相乘可以得到6組部分積,每一組部分積分別采用圖4所示的陣列加法器相加,即得到6個部分積和(sb2,sb1,sb0,sc2,sc1,sc0)。圖4中的HA,F(xiàn)A0,F(xiàn)A1分別對應(yīng)圖3中的HA,F(xiàn)A0,F(xiàn)A1;ADD是FA0改進(jìn)前的全加器。則sb2,sb1和sb0錯位相加可以得到x×b的積sb,sc2,sc1和sc0錯位相加可以得到x×c的積sc,所有這些錯位相加以及得到最后的乘積z都是通過超前進(jìn)位加法器來實現(xiàn)的。


在由sb,sc得到z的兩個47位二進(jìn)制數(shù)相加過程中,用到了3個如圖5所示的16位二進(jìn)制加法器,它包括4個4位超前進(jìn)位加法器和1個超前進(jìn)位單元(其中,Pi為進(jìn)位傳播函數(shù),Gi為進(jìn)位產(chǎn)生函數(shù))。錯位相加過程中用到的超前進(jìn)位加法器與圖5中16位超前進(jìn)位加法器結(jié)構(gòu)類似,在此不再闡述。



4 仿真與功耗測試結(jié)果
圖6所示是的功能仿真波形圖,可以看到,本文所介紹的的功能是正確的。


本文所介紹的乘法器是由VerilogHDL編程實現(xiàn)的,因此,在Altera的芯片EP2C70F896C中進(jìn)行功耗測試,功耗測試過程中環(huán)境變量設(shè)置如表1所示。



關(guān)鍵詞: FPGA 24位 低功耗 乘法器

評論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉