ICT及ICT測(cè)試原理

應(yīng)用：小電阻如 0.1Ω~10Ω，小電感，小電容量測(cè)時(shí)會(huì)受到 cable 和探針接觸不良的影響，而造成測(cè)試不穩(wěn)，而四線量測(cè)就可以解決這些問題。
由二線式改樗南呤攪坎夥ǖ男薷乃得魅縵攏
　a. relay board需做以下修改，JA， JB， JC 跳線拿掉， 使之開路OPEN。
　b. JA0， JA1， JA2， JA3， JB0， JB1， JB2， JB3， JG0， JG1， JG2， JG3

c. 此時(shí)Relay board只剩下32點(diǎn)， 因櫚詼連接器已被當(dāng)成sense使用。
　d. 程式方面須做如下設(shè)定：

e. 在此設(shè)定下，電阻值最小可量測(cè)到0.01Ω。


寬頻而準(zhǔn)確的相位分離量測(cè)法
對(duì)于在RC或RL并聯(lián)電路中的R.L.C. 可用相位測(cè)量法，分別量出其零件值，由于信號(hào)源頻率寬廣(100Hz到1MHz)，因此可以偵測(cè)的范圍優(yōu)于一般的ICT，像下圖線路中的零件都可以準(zhǔn)確量測(cè)。

三端點(diǎn)、四端點(diǎn)量測(cè)
可對(duì)三端點(diǎn)的零件如 TRANSISTOR，DIGITAL TRANSISTOR，F(xiàn)ET，SCR等?；蛩亩它c(diǎn)零件如 PHOTO COUPLER，做正確的測(cè)試，如有反插或零件損壞，必可測(cè)出。TRANSISTOR的β值也可量測(cè)。
　
電解電容極性測(cè)試
以三端點(diǎn)法偵測(cè)鋁質(zhì)電解電容極性反插，可測(cè)率100%；以測(cè)漏電流方式偵測(cè)電解電容極性反插，可測(cè)率極高。

軟件系統(tǒng)　
JET-300擁有超越一般ICT的軟體功能，無論是在測(cè)試前的程序制作支持軟體, 或是測(cè)試后的不良信息和數(shù)據(jù)分析，都有高水平的表現(xiàn)。在微軟中文窗口環(huán)境下執(zhí)行的系統(tǒng)程序，操作容易，功能強(qiáng)大。

最差零件(焊點(diǎn))排行榜
系統(tǒng)可打印出不良數(shù)最多的零件(前十名)和不良次數(shù)最多的焊點(diǎn)( 前十點(diǎn))供廠商做品質(zhì)控制或制程改善的參考。

測(cè)試數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)的日?qǐng)?bào)表和月報(bào)表
圖表上半的長(zhǎng)條圖用以顯示當(dāng)月份每日累積OPEN/SHORT，零件不良率及整個(gè)測(cè)試的可接受率。圖表的下半派圖用以清楚明了地顯示當(dāng)日各不良原因的百分比。

網(wǎng)絡(luò)實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng)
如果把多臺(tái)ICT連到內(nèi)部網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng) ，則每一臺(tái)ICT的測(cè)試統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)都可以在網(wǎng)絡(luò)上的任何一臺(tái)計(jì)算機(jī)上顯示，管理者可以很方便地隨時(shí)查看生產(chǎn)線的狀況。

網(wǎng)絡(luò)錯(cuò)誤訊息查詢系統(tǒng)
只要把ICT 和檢修站都連到內(nèi)部網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng), 則在檢修站就可以檢視到不良板的所有錯(cuò)誤訊息，包括：打印機(jī)的印出訊息和錯(cuò)誤圖形顯示。

待測(cè)板圖形顯示功能
可在待測(cè)板不良發(fā)生時(shí)，明白顯示不良零件或焊點(diǎn)的位置，亦可在零件位置查詢時(shí)顯示零件的位置，此功能可大大縮短不良品檢修的時(shí)間和程序調(diào)適的時(shí)間。如果廠內(nèi)有網(wǎng)絡(luò)聯(lián)機(jī)系統(tǒng)，則此圖形亦可在維修站的屏幕上顯示出來。