紅外碳硫分析儀檢測(cè)系統(tǒng)不穩(wěn)定影響因素探討

　　被測(cè)物質(zhì)信號(hào)與檢測(cè)系統(tǒng)中的工作電源輸出值、紅外源輻射功率、斬波馬達(dá)頻率、紅外光檢測(cè)器、A／D模數(shù)轉(zhuǎn)換器、以及外部干擾因素都有很大關(guān)系，影響其系統(tǒng)的原因如下。

　　3．1工作電源

　　檢測(cè)系統(tǒng)工作電源有±15V、5．5V、24V、5V，它是保證檢測(cè)系統(tǒng)正常工作的先決條件，這部分電路工作狀況及輸出值不正常的原因?yàn)椋?/p>

　?。?）部分器件老化，造成輸出值不穩(wěn)定，紋波大。正常情況電源輸出允許波動(dòng)范圍應(yīng)在±10％內(nèi)，若超出范圍視為不正常。

　?。?）部分器件損壞無(wú)輸出或輸出波形不對(duì)。通過(guò)測(cè)量電路中主要工作點(diǎn)電壓與正常值進(jìn)行對(duì)比，可找出損壞元件。

　　3．2紅外光源

　　紅外光源發(fā)射的紅外輻射與光輻射功率成正比。光輻射功率變化直接影響到信號(hào)輸出大小的變化，這樣的變化將引起檢測(cè)器基線的變化，即紅外輻射有無(wú)或大小，檢測(cè)器基線將隨之反映出來(lái)。引起紅外光源輻射信號(hào)變化的原因有以下幾種：

　?。?）光源逐漸老化，光輻射減弱，信號(hào)輸出低。碳和硫檢測(cè)器的基線輸出值也會(huì)逐漸降低，當(dāng)?shù)陀谡７秶鷷r(shí)儀器將報(bào)警。

　　（2）光源加熱絲斷裂或脫焊，無(wú)信號(hào)輸出。測(cè)量光源加熱絲電阻值是否正確（正確值一般為5Q左右）。

　　（3）光源加熱絲虛焊及電源插頭氧化導(dǎo)致接觸不良。由于接觸電阻發(fā)生變化，信號(hào)輸出忽高忽低變化值特別大，這種情況往往被人們忽視。

　　3．3斬波馬達(dá)

　　斬波馬達(dá)是將光信號(hào)調(diào)制成具有一定頻率的信號(hào)送人到檢測(cè)器，這樣設(shè)計(jì)是把紅外光信號(hào)斬波成方波信號(hào)，確保信號(hào)經(jīng)電路放大后的穩(wěn)定性。因此，馬達(dá)工作不正常，將引起檢測(cè)器信號(hào)輸出小甚至無(wú)輸出，主要有以下原因：

　?。?）斬波馬達(dá)不轉(zhuǎn)動(dòng)；其一是工作電源故障，其二是斬波馬達(dá)轉(zhuǎn)動(dòng)軸卡住。

　?。?）由于馬達(dá)長(zhǎng)期轉(zhuǎn)動(dòng)磨損，軸套間隙大，馬達(dá)葉片轉(zhuǎn)動(dòng)不穩(wěn)定，甚至葉片碰到檢測(cè)池池壁受阻、卡住。

　　（3）斬波馬達(dá)工作調(diào)制頻率脫離正常值，引起通過(guò)光孔的光忽大忽小，檢測(cè)器的接收信號(hào)波動(dòng)甚至為零。

　　3．4紅外線檢測(cè)器

　　紅外線檢測(cè)器是氣體分析儀的關(guān)鍵部件，通過(guò)紅外線輻射把光信號(hào)轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，正常工作情況下應(yīng)保證環(huán)境溫度穩(wěn)定，避免干擾信號(hào)。易出現(xiàn)的情況是：

　?。?）器件損壞無(wú)輸出信號(hào)。

　?。?）器件老化靈敏度低，輸出信號(hào)噪聲大。

　?。?）器件焊點(diǎn)氧化、虛焊接觸不良，輸出信號(hào)不穩(wěn)定。

　　3．5前置放大器

　　前置放大器將檢測(cè)器輸出的微弱信號(hào)進(jìn)行放大、濾波、直流放大。該系統(tǒng)每部分的微小變化都將引起放大器的變化 J，最易發(fā)生的問(wèn)題主要有以下幾方面。

　　（1）微信號(hào)放大器性能下降。檢查時(shí)應(yīng)主要關(guān)注濾波電容，接地是否良好。

　?。?）調(diào)零電位器、增益調(diào)節(jié)電位器接觸不良。使用一段時(shí)間后將電位器左右旋轉(zhuǎn)幾下，確保接觸良好。

　?。?）四運(yùn)放放大器放大倍數(shù)降低，造成后續(xù)分析結(jié)果偏低。

　　3．6 A／D轉(zhuǎn)換板

　　電壓信號(hào)通過(guò)16轉(zhuǎn)1芯片進(jìn)行信號(hào)采集，再經(jīng)A／D芯片轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)并送人計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理，這個(gè)過(guò)程易產(chǎn)生干擾信號(hào)，導(dǎo)致系統(tǒng)監(jiān)視窗口觀察工作條件、樣品檢測(cè)積分過(guò)程及計(jì)算受到影響，主要原因是：

　?。?）A／D轉(zhuǎn)換板的器件老化質(zhì)量下降，造成干擾信號(hào)增加，數(shù)字信號(hào)紊亂。

　?。?）儀器接地不好，外界干擾信號(hào)，導(dǎo)致采集數(shù)據(jù)遺漏。

　?。?）A／D轉(zhuǎn)換板與總線插槽接觸不良，導(dǎo)致采集數(shù)據(jù)丟失。

　　4 結(jié)論

　　通過(guò)對(duì)不穩(wěn)定影響因素的分析，對(duì)電子器件老化、性能下降所帶來(lái)的信號(hào)輸出值不穩(wěn)定或無(wú)輸出，紋波大，輸出信號(hào)噪聲大，采集數(shù)據(jù)遺漏或丟失等一系列問(wèn)題的解決及提高設(shè)備的利用率起到重要的作用。