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晶體管測試儀簡介

作者: 時間:2012-06-01 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

圖1中的簡單可以判斷出晶體管的類型,并且能幫助檢測出晶體管的發(fā)射極、集電極和基極。其方法是檢查被測晶體管三個端子T1、T2和T3之間流過的各種可能電流方向的組合。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/193797.htm

  

  電路使用兩只CD4022或CD4017計(jì)數(shù)器IC1和IC2;一只單門方波振蕩器G4;以及一個CD4011四與非門,G1至G3。每個測試端子串接一對LED,用于指示電流的方向。LED的顏色直接表示出晶體管的結(jié)端。

  圖2是一個簡單示意圖,有助于理解測試的過程。每個端子都有一對NPN晶體管Q1與Q3和PNP晶體管Q4與Q6,連接到-V或+V上,它們在端子之間建立了所需電勢差。電路生成端子之間所有可能或需要的+V與-V組合,以建立起結(jié)的關(guān)系。Q7和Q8作為電壓轉(zhuǎn)換器,而G1至G3是抑制器,防止T1至T3出現(xiàn)同時為+V和-V的沖突情況。

  

  當(dāng)一只正常晶體管插在測試端子之間時,它限制電流只能沿某些方向流動。串聯(lián)的LED表示出這些方向,因此指示出了晶體管的類型。例如,對NPN晶體管,LED發(fā)光為紅-綠-紅;而對PNP晶體管,發(fā)光為綠-紅-綠。

  了解這點(diǎn)以后,就能輕松地選擇出晶體管的基極。至于集電極與射極的區(qū)別,必須了解其特性,即在反偏時,基-射結(jié)的擊穿要比基-集電極結(jié)更容易,后者在正常工作情況下是反偏的。

  由于晶體管的基-集電極反偏擊穿電壓各不相同,因此電路提供了一種改變電源電壓的簡單方式(圖3)。隨著電壓的升高,與發(fā)射極連接的兩只LED都發(fā)光,而集電極只有一個LED發(fā)光(圖2中b和d)。±4V的基本電壓足夠用于檢測晶體管的基極或類型。如將電源電壓從±4V增至±15V,就可以測試很多種晶體管的發(fā)射極??紤]到串聯(lián)LED的壓降,這個范圍可為基射結(jié)提供最高26V以上的反向擊穿電壓。

  

  本電路經(jīng)過了測試,可正常工作。但是,測試時采用的是CD4520計(jì)數(shù)器與CD4028解碼器(因?yàn)槭诸^沒有CD4022/CD4017 IC),這種替換應(yīng)該不成問題。關(guān)鍵是電壓電平,對CMOS器件的邏輯1或邏輯0來說,它們基本是相同的。另外,也可以只采用兩個電源電壓:±5V用于檢測基極,±15V用于檢測射極。



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