使用多通道寬帶示波器進(jìn)行MIMO射頻測試和調(diào)試的方

本文主要討論天線串?dāng)_損害、相位噪聲和定時誤差對MIMO下行鏈路系統(tǒng)性能的影響，以及采用了時間相干多通道示波器和89600矢量信號分析儀(VSA)軟件的故障診斷技術(shù)，希望能夠幫助工程師深入了解誤差機(jī)制對硬件誤差矢量幅度(EVM)性能和系統(tǒng)級射頻發(fā)射機(jī)性能的影響。本文將以LTE作為研究對象，其概念也可應(yīng)用到其他信號格式中，例如 Mobile WiMAX。

　　LTE MIMO參考信號和EVM

　　LTE MIMO交叉生成一個貫穿頻域和時域的已知信號，稱為參考信號(RS)。該信號是恢復(fù)MIMO 信號的基礎(chǔ)，因?yàn)樗试S每個接收天線針對各個發(fā)射機(jī)建立一個信號參考。圖1顯示了如何將參考信號的各個符號分配到兩個天線下行鏈路信號的子載波中。

　　如圖所示，y軸表示參考信號的子載波分配(每六個子載波)，x軸表示時間交叉。注意，從占用子載波和時間(符號)兩方面查看天線0和天線1之間參考信號的變化。

　　圖 1DD兩個天線的下行鏈路參考符碼的正交結(jié)構(gòu)

　　誤差矢量幅度(EVM)是描述射頻發(fā)射機(jī)性能的重要系統(tǒng)指標(biāo)。通過對RS EVM和復(fù)合EVM 進(jìn)行比較，不僅可以幫助工程師深入了解發(fā)射機(jī)硬件設(shè)計減損，還能夠幫助診斷天線串?dāng)_、放大器增益壓縮失真、相位噪聲和其他誤差機(jī)制等特定減損。

　　下面的案例將闡明如何利用RS EVM和復(fù)合EVM 來深入了解可能會影響系統(tǒng)性能誤差的減損類型。該案例還將重點(diǎn)研究發(fā)射天線定時誤差對參考信號正交性的影響，并在解釋天線串?dāng)_、星座圖和EVM測量結(jié)果時，說明如何考慮這種影響。

　　案例研究——MIMO下行鏈路射頻發(fā)射機(jī)測量

　　本案例研究中使用的四通道 MIMO 測試設(shè)置如圖 2 左側(cè)所示，它是由四個帶有任意波形發(fā)生器的安捷倫信號發(fā)生器和一個安捷倫四通道Infiniium 90000A系列示波器組成。如下所示，多通道示波器非常適合雙通道和四通道 的MIMO 測量，因?yàn)樗鼈兲峁r間相干多通道輸入、可測量射頻調(diào)制載波的寬帶寬，以及更深層的存儲器來分析多個數(shù)據(jù)幀，數(shù)據(jù)幀可通過 Agilent 89600 矢量信號分析(VSA)軟件進(jìn)行解調(diào)。

　　使用VSA軟件和多通道寬帶示波器進(jìn)行基線四通道MIMO測量的結(jié)果如圖2右側(cè)所示。圖2左側(cè)顯示了兩層(共四層)空間多路復(fù)用數(shù)據(jù)的16 QAM 物理下行鏈路共享通道(PDSCH)星座圖(此處沒有顯示第2和第3層)。VSA顯視屏的右上方顯示了射頻頻譜圖，VSA顯視屏的右下方顯示了誤差匯總表。注意，基線測試案例的剩余復(fù)合EVM(VSA 顯示屏右下方)小于 0.8%，說明0層和1層的星座圖狀態(tài)很清晰(VSA 顯示屏的左側(cè))。

　　圖 2DD使用 Agilent Infiniium 90000A 系列示波器進(jìn)行四通道 MIMO 測試設(shè)置和基線測量的結(jié)果

　　多通道示波器和 VSA 軟件通常被用于兩通道或四通道中頻-射頻發(fā)射機(jī)/上變頻器硬件被測裝置(DUT)，以進(jìn)行MIMO測試。由于DUT不適于測試，因此需要使用 Agilent SystemVue仿真器建模具有仿真設(shè)計減損的四通道射頻發(fā)射機(jī)。每個發(fā)射機(jī)均由中頻/射頻帶通濾波器、LO 混頻器和功率放大器(PA)組成。功率放大器指定了10kHz頻率偏置時的LO相位噪聲以及1dB增益壓縮點(diǎn)。發(fā)射機(jī)的輸出端使用了定制模型子網(wǎng)，對天線串?dāng)_進(jìn)行建模，然后使用ESG接收機(jī)將仿真的IQ波形(包含仿真的設(shè)計減損)下載到四個ESG中，如圖3所示。

　　圖 3DD包括相位噪聲、PA 增益壓縮和天線串?dāng)_減損的仿真射頻發(fā)射機(jī)設(shè)計