中規(guī)模集成電路功能測(cè)試儀的設(shè)計(jì)
1.4 SG3524的測(cè)試
SG3524內(nèi)部方框圖如圖5所示。輸入直流電源UIN從15腳進(jìn)入后分2路:一路作為放大器、比較器、振蕩器以及邏輯電路和控制電路的電源;另一路作為基準(zhǔn)電壓源,產(chǎn)生+5 V基準(zhǔn)電壓輸出到16引腳,作為外部電壓基準(zhǔn)。在振蕩器部分的引腳7和引腳6上外接定時(shí)電容CT和定時(shí)電阻RT,得到所需的振蕩頻率。SG3524測(cè)試原理圖如圖6所示,連接成一個(gè)典型的降壓型開關(guān)電源電路,利用誤差放大器構(gòu)成電壓負(fù)反饋。通過(guò)改變?nèi)颖壤禂?shù)就可以改變輸出電壓,單片機(jī)通過(guò)測(cè)取引腳3上的脈沖頻率,通過(guò)MAX197測(cè)取輸出端的電壓,即可判斷SG3524芯片的好壞。測(cè)試中暫時(shí)沒(méi)有考慮過(guò)流保護(hù)功能的測(cè)試。本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/195011.htm
2 操作和軟件結(jié)構(gòu)
測(cè)試儀的基本工作流程是:接通電源后,電源指示燈亮,表明電源工作正常,顯示器顯示等待測(cè)試信息,表明可以開始測(cè)試操作。由按鍵1選擇所要測(cè)試的芯片,顯示光標(biāo)停留的芯片型號(hào)表示是當(dāng)前待測(cè)芯片。每按1次選擇鍵,光標(biāo)指向下一個(gè)型號(hào),不斷地按鍵可以循環(huán)選擇。當(dāng)光標(biāo)移到所要測(cè)試的芯片時(shí),按下確定鍵2,接下來(lái)由單片機(jī)控制,開始自動(dòng)測(cè)試該芯片,此時(shí)對(duì)應(yīng)該芯片的指示燈亮;然后由外部電路或單片機(jī)給待測(cè)芯片一定的模擬或數(shù)字輸入量,經(jīng)過(guò)每個(gè)芯片的測(cè)試電路后,通過(guò)MAX197進(jìn)行處理(或直接送到單片機(jī)),與單片機(jī)中預(yù)存的標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行比較。如果測(cè)試值在標(biāo)準(zhǔn)值附近的一定范圍內(nèi),則芯片正常,測(cè)試指示燈常亮,液晶顯示器顯示OK;否則,芯片出錯(cuò),測(cè)試指示燈閃爍,液晶顯示器顯示BAD。此芯片測(cè)試完畢,按下復(fù)位鍵3,即回到初始狀態(tài),可以進(jìn)行下一輪測(cè)試。軟件流程圖如圖7所示。
實(shí)驗(yàn)樣機(jī)經(jīng)老師、學(xué)生使用,測(cè)試效果非常理想,測(cè)試準(zhǔn)確率可達(dá)90%以上,給教學(xué)提供了方便。
評(píng)論