新聞中心

EEPW首頁(yè) > 光電顯示 > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 如何提高LED測(cè)試的效率并減少產(chǎn)品壽命損耗

如何提高LED測(cè)試的效率并減少產(chǎn)品壽命損耗

作者: 時(shí)間:2013-03-14 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

可以看出,當(dāng)電流更加微小時(shí),如果不使用Low current mode(即相當(dāng)于普通的電源),則經(jīng)過(guò)很長(zhǎng)一段時(shí)間的等待以后,電壓仍然無(wú)法上升到設(shè)定值,也就是說(shuō)待測(cè)一直未被點(diǎn)亮,無(wú)法開始。而當(dāng)使用了IT6200系列電源的low current mode以后,電壓快速上升到設(shè)定值,繼而點(diǎn)亮待測(cè),開始進(jìn)行

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/199883.htm

結(jié)論

面對(duì)產(chǎn)業(yè)的巨大商機(jī)和美好前景,艾德克斯IT6200系列直流電源供應(yīng)器以其保護(hù)LED壽命、提高LED測(cè)試效率的顯著優(yōu)勢(shì),雙范圍、高壓測(cè)試等為L(zhǎng)ED測(cè)試所專門打造的功能特點(diǎn),成為L(zhǎng)ED產(chǎn)業(yè)以及LED測(cè)試系統(tǒng)生產(chǎn)、集成廠商首屈一指的選擇。


上一頁(yè) 1 2 下一頁(yè)

評(píng)論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉