新聞中心

EEPW首頁 > 手機(jī)與無線通信 > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 【E問E答】到底選擇實(shí)時(shí)采樣還是等效時(shí)間采樣?

【E問E答】到底選擇實(shí)時(shí)采樣還是等效時(shí)間采樣?

作者: 時(shí)間:2016-04-07 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

  實(shí)時(shí)技術(shù)到底有什么意義?很明顯,Windows并不是一種實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)。許多人認(rèn)為,如果應(yīng)用軟件要成為實(shí)時(shí)軟件,那么它必須進(jìn)行匯編。這是我最近一次客戶拜訪談話的主題,首先它起于對軟件的討論,后來轉(zhuǎn)到示波器上?,F(xiàn)在的問題是,什么時(shí)候應(yīng)該使用實(shí)時(shí)示波器?什么時(shí)候等效時(shí)間示波器是更好的選擇?我認(rèn)為,這個(gè)問題值得注意。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/201604/289368.htm

  盡管有大量的不同的采樣技術(shù)實(shí)現(xiàn)方案,但當(dāng)前數(shù)字示波器采用兩種基本采樣方法:。可以進(jìn)一步分成兩個(gè)小類:隨機(jī)和順序等效時(shí)間采樣。每種方法都有不同的優(yōu)勢,具體要視進(jìn)行的測量類別而定。

  特別適合頻率范圍不到示波器最大采樣率一半的信號。在這種情況下,示波器可以在波形的一次“掃描”中采集遠(yuǎn)遠(yuǎn)足夠的樣點(diǎn),構(gòu)建準(zhǔn)確的圖像,如下面圖1所示。是使用數(shù)字示波器捕獲快速信號、單次信號、瞬態(tài)信號的唯一方式?!皩?shí)時(shí)”帶寬與采樣率的關(guān)系為:帶寬=采樣率/2.5。

    

 

  圖1:實(shí)時(shí)采樣模式從一個(gè)觸發(fā)事件采集一個(gè)記錄中的所有點(diǎn)。

  [圖示內(nèi)容:]

  Waveform Constructed with Record Points: 使用多個(gè)記錄點(diǎn)構(gòu)建的波形

  Sampling Rate: 采樣率

  在測量高頻信號時(shí),示波器可能不能在一次掃描中收集足夠的樣點(diǎn)??梢允褂玫刃r(shí)間采樣,準(zhǔn)確地采集頻率超過采樣率/2.5的信號。等效時(shí)間采樣通過從每次重復(fù)中捕獲少量信息,構(gòu)建重復(fù)信號的圖像,如下面圖2所示。波形緩慢構(gòu)建,象一串燈一樣,一個(gè)接一個(gè)地亮起。示波器可以準(zhǔn)確地捕獲頻率成分遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于示波器采樣率的信號。

    

 

  圖2:等效時(shí)間采樣模式在多個(gè)觸發(fā)后采集波形點(diǎn)。這個(gè)實(shí)例顯示了等效時(shí)間采樣的隨機(jī)采樣方法。

  [圖示內(nèi)容:]

  Waveform Constructed with Record Points: 使用多個(gè)記錄點(diǎn)構(gòu)建的波形

  1stAcquisition Cycle: 第一個(gè)采集周期

  2nd Acquisition Cycle: 第二個(gè)采集周期

  3rd Acquisition Cycle: 第三個(gè)采集周期

  nth Acquisition Cycle: 第n個(gè)采集周期

  從技術(shù)上說,生成非常短、非常精確的“Dt”要比隨機(jī)采樣器要求的準(zhǔn)確測量樣點(diǎn)相對于觸發(fā)點(diǎn)的垂直位置和水平位置更容易。這個(gè)精確測量的延遲為順序采樣器提供了更好的時(shí)間分辨率。

  最后,我們對照比較一下實(shí)時(shí)示波器和采樣示波器:

  實(shí)時(shí)示波器

  - 只要求一次觸發(fā),可以在“single-shot”(單次)模式下捕獲信號

  - 電壓輸入范圍更高(5V,而等效時(shí)間示波器為1 V)

  - 長存儲深度,適合進(jìn)行調(diào)試(例如,可以觀察相鄰數(shù)據(jù)點(diǎn)中的瞬態(tài)事件)

  采樣示波器

  - 實(shí)時(shí)示波器擁有高達(dá)30+ GHz的帶寬,但采樣示波器的帶寬更高,達(dá)70+ GHz

  - 噪聲/抖動(dòng)本底更低(低于200 ps rms)

  - 適合進(jìn)行檢定。例如,TDR(時(shí)域反射計(jì))等擁有重復(fù)性特點(diǎn)的應(yīng)用



評論


技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉