新聞中心

EEPW首頁 > 測試測量 > 業(yè)界動態(tài) > NI舉辦第十三屆“PXI 技術(shù)和應用論壇”,引領(lǐng)PXI發(fā)展新潮流

NI舉辦第十三屆“PXI 技術(shù)和應用論壇”,引領(lǐng)PXI發(fā)展新潮流

作者: 時間:2016-06-22 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  (美國國家儀器公司,National Instruments,簡稱)作為致力于為工程師和科學家提供解決方案來幫助他們應對全球最嚴峻工程挑戰(zhàn)的供應商,近日在上海舉辦了第十三屆“技術(shù)和應用論壇”(Technology & Application Conference,即 TAC)。本次PXI TAC的主題為“更智能的系統(tǒng)-更智能的系統(tǒng)測試”,吸引了600余名行業(yè)領(lǐng)軍人物、技術(shù)專家和相關(guān)機構(gòu)代表,共同分享最新、最全、最前沿的測試領(lǐng)域技術(shù)干貨,探討PXI技術(shù)的發(fā)展趨勢和應用案例。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/201606/292994.htm

  在今年的PXI TAC上,發(fā)布了7位半數(shù)字萬用表(DMM)、802.11ax無線測試解決方案、用于毫米波(mmWave)的軟件無線電(SDR)和模塊化源測量單元(SMU)等多款業(yè)界首創(chuàng)的PXI新產(chǎn)品,再度引領(lǐng)PXI技術(shù)發(fā)展的新潮流,致力于幫助用戶打造更加智能的系統(tǒng)測試解決方案。同時,15家國內(nèi)外知名PXI供應商和系統(tǒng)集成商亮相本次PXI TAC,展示了他們基于PXI技術(shù)開發(fā)的各項產(chǎn)品和技術(shù)應用。

  

“”

 

  自NI推出PXI技術(shù)以來,PXI平臺現(xiàn)已成為了自動化測試和控制的主流平臺。和傳統(tǒng)儀器相比,PXI平臺具有較高的測量能力,低延遲和高帶寬,軟件靈活定義,集成定時和同步,高處理性能,尺寸、重量、功耗小,平臺儀器齊全等優(yōu)點;并且PXI平臺可以作為整個系統(tǒng)的中心,連接已有的其他儀器,如LXI,VXI,USB,GPIB等,在最大可能減少系統(tǒng)瓶頸的情況下,保持已有設(shè)備投資。因此,越來越多的客戶使用PXI平臺的儀器開展自動化測試。據(jù)Frost & Sullivan預測,到2021年,PXI平臺作為整個儀器行業(yè)的主力增長力量,將會一直以超過15%的增長率持續(xù)增長。

  

“圖:NI全球市場高級副總裁Ajit

 

  圖:NI全球市場高級副總裁Ajit Gokhale

  NI始終致力于PXI技術(shù)的不斷進步,并在這一領(lǐng)域不斷投入和持續(xù)創(chuàng)新。隨著以物聯(lián)網(wǎng)為代表的智能系統(tǒng)的興起,智能設(shè)備呈爆炸式增長態(tài)勢,對測試和測量任務(wù)提出更加嚴峻的挑戰(zhàn)。“在物聯(lián)網(wǎng)的大背景下,智能設(shè)不斷涌現(xiàn),形成了更智能的系統(tǒng),這就必然需要更加智能的測試系統(tǒng)。憑借開放靈活的軟件、模塊化的硬件和完整的生態(tài)系統(tǒng),PXI平臺獲得了自動化測控領(lǐng)域工程師的一致認可,”NI全球市場高級副總裁Ajit Gokhale表示,“作為PXI平臺的發(fā)明者和市場領(lǐng)導者, NI多年來堅持將PXI TAC打造成開放、自由的技術(shù)交流平臺。我們期待與各界同仁攜手,促成PXI平臺的持續(xù)創(chuàng)新,應對測試測量任務(wù)越來越嚴峻的挑戰(zhàn)。”



關(guān)鍵詞: NI PXI

評論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉