NI將半導(dǎo)體ATE數(shù)字功能引入PXI平臺(tái)

　　NI(美國(guó)國(guó)家儀器公司，National Instruments，簡(jiǎn)稱NI) 作為致力于幫助工程師和科學(xué)家應(yīng)對(duì)全球最嚴(yán)峻的工程挑戰(zhàn)的平臺(tái)系統(tǒng)供應(yīng)商，今日宣布推出了NI PXle-6570基于圖形向量的數(shù)字通道板卡和NI數(shù)字圖形向量編輯器。 該產(chǎn)品將射頻集成電路、電源管理IC、微機(jī)電(MEMS)系統(tǒng)設(shè)備以及混合信號(hào)IC的制造商從傳統(tǒng)半導(dǎo)體自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備(ATE)的封閉式架構(gòu)中解放出來(lái)。

　　傳統(tǒng)ATE的測(cè)試覆蓋率通常無(wú)法滿足最新半導(dǎo)體設(shè)備的要求。通過將半導(dǎo)體行業(yè)成熟的數(shù)字測(cè)試模式引入到基于PXI開放平臺(tái)的半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)(STS)中,并使用功能強(qiáng)大且人性化的編輯器和調(diào)試器進(jìn)行優(yōu)化，用戶可以利用先進(jìn)的PXI儀器來(lái)降低射頻和模擬IC的測(cè)試成本并提高吞吐量。

　　“PXI數(shù)字模式儀器為半導(dǎo)體工程師提供所有高端數(shù)字測(cè)試平臺(tái)才具備的數(shù)字性能，因此它的問世無(wú)疑是為STS錦上添花，” NI半導(dǎo)體測(cè)試副總裁Ron Wolfe表示， “如果生產(chǎn)車間的PXI具備這個(gè)功能，他們就可以在滿足先進(jìn)器件的成本和測(cè)試要求的同時(shí)，輕松將其擴(kuò)展到其他產(chǎn)品的測(cè)試上。”

　　NI PXIe-6570數(shù)字模式儀器以非常實(shí)惠的價(jià)格為無(wú)線設(shè)備供應(yīng)鏈和物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備常用IC提供了所需的測(cè)試功能。它具有100 MVector/秒的圖形向量執(zhí)行速率，在單個(gè)子系統(tǒng)中具有獨(dú)立的源、捕獲引擎、電壓/電流參數(shù)函數(shù)以及高達(dá)256個(gè)同步數(shù)字引腳。 用戶可充分利用PXI的開放性和STS，根據(jù)需求任意地增加或減少所需的器件，以滿足測(cè)試配置所需的器件引腳和測(cè)試點(diǎn)數(shù)。

　　全新的數(shù)字模式編輯器軟件具有以下功能：器件引腳映射圖、規(guī)范和圖形向量編輯環(huán)境，有助于更快速地制定測(cè)試計(jì)劃;各種內(nèi)置工具，如多站點(diǎn)和多儀器并行收發(fā)可實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品從開發(fā)到投產(chǎn)的無(wú)縫對(duì)接;shmoo圖和交互式引腳視圖等工具，可更高效地調(diào)試和優(yōu)化測(cè)試。

　　使用相同PXI硬件、TestStand、LabVIEW和數(shù)字模式編輯器軟件進(jìn)行特性分析和產(chǎn)品測(cè)試，可減少數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)所需的工作，從而縮短產(chǎn)品上市時(shí)間。 STS配置內(nèi)外的PXI硬件占地空間小，可節(jié)省廠房空間，而且可使用特性分析實(shí)驗(yàn)室臺(tái)上的標(biāo)準(zhǔn)墻插式電源供電。

　　“PXI已被證明是一個(gè)出色的軟硬件集成解決方案，可同時(shí)適用于產(chǎn)線車間和特性分析實(shí)驗(yàn)室，”Wolfe補(bǔ)充道，“NI基于圖形向量的數(shù)字通道板卡和數(shù)字圖形向量編輯器是重要的創(chuàng)新產(chǎn)品，可幫助器件制造商和測(cè)試室降低測(cè)試成本以及優(yōu)化測(cè)試程序開發(fā)。”

　　許多半導(dǎo)體公司正基于NI平臺(tái)和生態(tài)系統(tǒng)來(lái)構(gòu)建智能化的測(cè)試系統(tǒng)。 不僅僅是生產(chǎn)適用的STS系列、1 GHz帶寬矢量信號(hào)收發(fā)儀，fA級(jí)源測(cè)量單元以及TestStand半導(dǎo)體模塊, 這些系統(tǒng)受益于覆蓋了直流到毫米波的600多款PXI產(chǎn)品。 它們采用PCI Express第三代總線接口，具有高吞吐量數(shù)據(jù)傳輸能力，同時(shí)具有子納秒級(jí)同步以及集成的定時(shí)和觸發(fā)。用戶可以利用LabVIEW和TestStand軟件環(huán)境的高效生產(chǎn)力，以及一個(gè)由合作伙伴、附加IP、應(yīng)用工程師團(tuán)隊(duì)組成的活躍生態(tài)系統(tǒng)，大幅降低測(cè)試成本，縮短上市時(shí)間，開發(fā)面向未來(lái)的測(cè)試設(shè)備，滿足未來(lái)RF和混合信號(hào)測(cè)試的各種挑戰(zhàn)。

　　如需了解NI的更多半導(dǎo)體測(cè)試產(chǎn)品，請(qǐng)?jiān)L問www.ni.com/semiconductor