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第1天-ARM匯編指令CMP/CMN/TST/TEQ

作者: 時間:2016-11-26 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
譯注:CMP 和 CMP 是算術(shù)指令,TEQTST 是邏輯指令。把它們歸入一類的原因是它們的 S 位總是設(shè)置的,就是說,它們總是影響標志位。
CMN : 比較取負的值
(Compare Negative)
CMN{條件}{P} , status = op_1 - (- op_2)
CMN 同于 CMP,但它允許你與小負值(操作數(shù) 2 的取負的值)進行比較,比如難于用其他方法實現(xiàn)的用于結(jié)束列表的 -1。這樣與 -1 比較將使用:
CMN R0, #1 ; 把 R0 與 -1 進行比較
詳情參照 CMP 指令。
 
CMP : 比較
(Compare)
CMP{條件}{P} , status = op_1 - op_2
CMP 允許把一個寄存器的內(nèi)容如另一個寄存器的內(nèi)容或立即值進行比較,更改狀態(tài)標志來允許進行條件執(zhí)行。它進行一次減法,但不存儲結(jié)果,而是正確的更改標志。標志表示的是操作數(shù) 1 比操作數(shù) 2 如何(大小等)。如果操作數(shù) 1 大于操作操作數(shù) 2,則此后的有 GT 后綴的指令將可以執(zhí)行。
明顯的,你不需要顯式的指定 S 后綴來更改狀態(tài)標志... 如果你指定了它則被忽略。
 
TEQ : 測試等價
(Test Equivalence)
TEQ{條件}{P} , Status = op_1 EOR op_2
TEQ 類似于 TST。區(qū)別是這里的概念上的計算是 EOR 而不是 AND。這提供了一種查看兩個操作數(shù)是否相同而又不影響進位標志(不象 CMP 那樣)的方法。加上 P 后綴的 TEQ 還可用于改變 R15 中的標志(在 26-bit 模式中)。詳情請參照 psr.html,在 32-bit 模式下如何做請參見這里。
 
TST : 測試位
(Test bits)
TST{條件}{P} , Status = op_1 AND op_2
TST 類似于 CMP,不產(chǎn)生放置到目的寄存器中的結(jié)果。而是在給出的兩個操作數(shù)上進行操作并把結(jié)果反映到狀態(tài)標志上。使用 TST 來檢查是否設(shè)置了特定的位。操作數(shù) 1 是要測試的數(shù)據(jù)字而操作數(shù) 2 是一個位掩碼。經(jīng)過測試后,如果匹配則設(shè)置 Zero 標志,否則清除它。象 CMP 那樣,你不需要指定 S 后綴。
TST R0, #%1 ; 測試在 R0 中是否設(shè)置了位 0。


關(guān)鍵詞: ARM匯編指令CMPCMNTSTTE

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