LED芯片的制造工藝流程及檢測項目分析
檢測項目:
本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/201612/325398.htm一、芯片各項性能參數(shù)測試
Wd(主波長)、Iv(亮度)、Vf(順向電壓)、Ir(漏電)、ESD(抗靜電能力)等芯片的光電性能測試,金鑒作為第三方檢測機構(gòu)能夠鑒定供應(yīng)商提供的產(chǎn)品數(shù)據(jù)是否達標(biāo)。
二、芯片缺陷查找
檢測內(nèi)容:
1.芯片尺寸測量,芯片尺寸及電極大小是否符合要求,電極圖案是否完整。
2.芯片是否存在焊點污染、焊點破損、晶粒破損、晶粒切割大小不一、晶粒切割傾斜等缺陷。
LED芯片的受損會直接導(dǎo)致LED失效,因此提高LED芯片的可靠性至關(guān)重要。蒸鍍過程中有時需用彈簧夾固定芯片,因此會產(chǎn)生夾痕。黃光作業(yè)若顯影不完全及光罩有破洞會使發(fā)光區(qū)有殘余多出的金屬。晶粒在前段制程中,各項制程如清洗、蒸鍍、黃光、化學(xué)蝕刻、熔合、研磨等作業(yè)都必須使用鑷子及花籃、載具等,因此會有晶粒電極刮傷的情況發(fā)生。
芯片電極對焊點的影響:芯片電極本身蒸鍍不牢靠,導(dǎo)致焊線后電極脫落或損傷;芯片電極本身可焊性差,會導(dǎo)致焊球虛焊;芯片存儲不當(dāng)會導(dǎo)致電極表面氧化,表面玷污等等,鍵合表面的輕微污染都可能影響兩者間的金屬原子擴散,造成失效或虛焊。
3.芯片外延區(qū)的缺陷查找
LED外延片在高溫長晶過程中,襯底、MOCVD反應(yīng)腔內(nèi)殘留的沉積物、外圍氣體和Mo源都會引入雜質(zhì),這些雜質(zhì)會滲入磊晶層,阻止氮化鎵晶體成核,形成各種各樣的外延缺陷,最終在外延層表面形成微小坑洞,這些也會嚴(yán)重影響外延片薄膜材料的晶體質(zhì)量和性能。金鑒檢測研發(fā)出快速鑒定芯片外延區(qū)缺陷的檢測方法,能夠低成本、快速地檢測出芯片外延層80%的外延缺陷,幫助LED客戶選擇高質(zhì)量的外延片、芯片。
4.芯片工藝和清潔度觀察
電極加工是制作LED芯片的關(guān)鍵工序,包括清洗、蒸鍍、黃光、化學(xué)蝕刻、熔合、研磨,會接觸到很多化學(xué)清洗劑,如果芯片清洗不夠干凈,會使有害化學(xué)物殘余。這些有害化學(xué)物會在LED通電時,與電極發(fā)生電化學(xué)反應(yīng),導(dǎo)致死燈、光衰、暗亮、發(fā)黑等現(xiàn)象出現(xiàn)。因此,鑒定芯片化學(xué)物殘留對LED封裝廠來說至關(guān)重要?! ?strong>案例分析(一):
某客戶紅光燈珠發(fā)現(xiàn)暗亮問題,但一直找不出原因,委托金鑒分析失效的原因。金鑒經(jīng)過一系列儀器分析排除封裝原因后,對供應(yīng)商提供的裸晶進行檢測,發(fā)現(xiàn)每一個芯片的發(fā)光區(qū)域均有面積不等的污染物,能譜分析結(jié)果顯示該污染物包含C、O兩種元素,表明污染物為有機物。我們建議客戶注重對芯片廠商的生產(chǎn)工藝規(guī)范和車間環(huán)境的考核,并加強對芯片的來料檢驗。
案例分析(二):
某客戶生產(chǎn)的一批燈珠出現(xiàn)漏電問題,委托金鑒查找原因。金鑒通過掃描電鏡鑒定這批燈珠漏電原因為靜電擊穿,并對供應(yīng)商提供的裸晶進行檢測,發(fā)現(xiàn)芯片外延層表面有大量黑色空洞,這些缺陷表明外延層晶體質(zhì)量較差,PN結(jié)內(nèi)部存在缺陷??斩吹陌l(fā)現(xiàn),幫助客戶明確責(zé)任事故的負(fù)責(zé)方,替客戶挽回?fù)p失。
注:LED芯片的制造工藝流程LED芯片的制造工藝流程圖
外延片→清洗→鍍透明電極層→透明電極圖形光刻→腐蝕→去膠→平臺圖形光刻→干法刻蝕→去膠→退火→SiO2沉積→窗口圖形光刻→SiO2腐蝕→去膠→N極圖形光刻→預(yù)清洗→鍍膜→剝離→退火→P極圖形光刻→鍍膜→剝離→研磨→切割→芯片→成品測試。
在生長成外延片后,下一步就開始對LED外延片做電極(P極,N極),接著就開始用激光機或鉆石刀切割LED外延片,制造成芯片后,然后在晶圓上的不同位置抽取九個點做參數(shù)測試。這主要是對電壓、波長、亮度進行測試,符合正常出貨標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)的晶圓片繼續(xù)下一步的操作,不符合要求的,就放在一邊另行處理。晶圓切割成芯片后,需要100%的目檢(VI/VC),操作者要在放大30倍數(shù)的顯微鏡下進行目測。接著使用全自動分類機根據(jù)不同的電壓、波長、亮度的預(yù)測參數(shù)對芯片進行全自動化挑選、測試和分類。最后對LED芯片進行檢查(VC)和貼標(biāo)簽。芯片類型、批號、數(shù)量和光電測量統(tǒng)計數(shù)據(jù)記錄在標(biāo)簽上,附在蠟光紙的背面。藍膜上的芯片將做最后的目檢測試,目檢標(biāo)準(zhǔn)與第一次相同,確保芯片排列整齊和質(zhì)量合格。這就是LED芯片的制造流程。
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