一種準(zhǔn)確地預(yù)測由泄漏電流引起的 PLL 基準(zhǔn)雜散噪聲之簡單方法
本文給出了一種簡單的模型,可用來在 PLL 系統(tǒng)中準(zhǔn)確地預(yù)測由于充電泵和 / 或運算放大器泄漏電流引起的基準(zhǔn)雜散噪聲的大小。知道如何預(yù)測這類噪聲有助于在 PLL 系統(tǒng)設(shè)計的早期明智地選擇環(huán)路參數(shù)。
本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/201612/328184.htmPLL快速回顧
鎖相環(huán) (PLL) 是一種負反饋系統(tǒng),將一個相位和頻率隨溫度和時間變化不夠穩(wěn)定之較高頻電路 (通常是一個壓控振蕩器 VCO) 的相位和頻率鎖定到一個比較穩(wěn)定和頻率較低的電路 (通常是一個溫度補償或恒溫晶體振蕩器,即 TCXO 或 OCXO) 上。 作為一個黑盒子,PLL 可以看作是一個頻率倍增器。
當(dāng)需要高頻本機振蕩 (LO) 源時,會使用 PLL。應(yīng)用實例有很多,包括無線通信、醫(yī)療設(shè)備和儀表。
圖 1 顯示了一個用來產(chǎn)生 LO 信號的 PLL 系統(tǒng)基本構(gòu)件。該 PLL 集成電路 (IC) 通常包含所有時鐘分頻器 (R 和 N)、相位 / 頻率檢測器 (PFD) 和充電泵 (用兩個電流源 ICP_UP 和 ICP_DN 表示)。
圖 1:PLL 基本構(gòu)件
VCO 輸出和基準(zhǔn)時鐘 (圖中是 OCXO 輸出) 經(jīng)過各自的整數(shù)分頻器 (分別為 N 和 R) 分頻后,相互加以比較。PFD 構(gòu)件以 fPFD 速率控制充電泵,從或向環(huán)路濾波器吸收或提供電流脈沖,以調(diào)節(jié) VCO 微調(diào)端口 (V_Tune) 的電壓,直至兩個時鐘分頻器輸出的頻率和相位都相等為止。二者的頻率和相位相等時,就稱為 PLL 鎖定了。LO 頻率與基準(zhǔn)頻率 fREF 的關(guān)系由以下等式確定:
在圖 1 中,因為反饋分頻器 (N 分頻器) 只能接受整數(shù)值,所以該 PLL 稱為整數(shù) N PLL。如果這個分頻器既可以接受整數(shù)值又可以接受非整數(shù)值,那么該環(huán)路就稱為分數(shù) N PLL。本文僅討論整數(shù) N PLL,分數(shù) N PLL 采用不同的工作機制。
整數(shù) N PLL 的非理想性
PLL IC 會給系統(tǒng)帶來非理想性,主要是相位噪聲和雜散。
相位噪聲
圖 1 所示 PLL 系統(tǒng)用作基準(zhǔn)時鐘相位噪聲的低通濾波器和 VCO 相位噪聲的高通濾波器。低通和高通濾波器的截至頻率由該 PLL 的環(huán)路帶寬 (LBW) 決定。理想的情況是 ,LO 相位噪聲跟隨被轉(zhuǎn)換為 LO 頻率 (即:乘以 N/R) 的基準(zhǔn)時鐘之相位噪聲一直到 LBW,并隨后跟隨 VCO 的相位噪聲。PLL IC 所產(chǎn)生的噪聲將使轉(zhuǎn)換區(qū)中的相位噪聲升高。
圖 2 是 PLLWizardTM 產(chǎn)生的相位噪聲曲線,PLLWizard 是凌力爾特公司免費提供的 PLL 設(shè)計和仿真工具。該圖顯示了由基準(zhǔn) (“Ref @ RF”) 和 VCO (“VCO @ RF”) 在輸出端導(dǎo)致的總輸出相位噪聲 (“Total”) 和單獨的噪聲。在紅色橢圓圈標(biāo)出的區(qū)域,可以非常容易地看到該 IC 的噪聲。
圖 2:紅色橢圓圈標(biāo)出的區(qū)域是 PLL IC 相位噪聲區(qū)
雜散噪聲
圖 1 所示電源 (V_OCXO、V_CP 和 V_VCO) 上任何不想要的信號都可能轉(zhuǎn)換成 LO 信號上的雜散噪聲。仔細設(shè)計這些電源可極大地降低甚至消除這些雜散。然而,與充電泵有關(guān)的雜散噪聲是不可避免的。但是,仔細設(shè)計 PLL 系統(tǒng)也可以降低這類噪聲。這類雜散噪聲常稱為基準(zhǔn)雜散噪聲,但此處的基準(zhǔn)并不意味著基準(zhǔn)時鐘頻率,而是指的 fPFD。整數(shù) N PLL 產(chǎn)生的 LO 信號在 fPFD 及其諧波處有雙邊帶雜散噪聲。
圖 3 顯示了 2.1GHz LO 信號的頻譜。fPFD 為 1MHz (N=2100),基準(zhǔn)時鐘頻率為 10MHz (R = 10)。環(huán)路帶寬為 40kHz。值得一提的是,由于采用了凌力爾特公司超低噪聲和雜散的 PLL IC LTC6945,所以這里測得了世界級的雜散噪聲電平。
產(chǎn)生基準(zhǔn)雜散的原因
在穩(wěn)態(tài)操作中 PLL 被鎖定,而且從理論上講,在每個 PFD 周期中不再需要占用圖 1 示出的 ICP_UP 和 ICP_DN 電流源。然而,這么做將在環(huán)路響應(yīng)中產(chǎn)生一個“死區(qū)”,因為在小信號環(huán)路增益 (實際上是一個開環(huán)) 中存在顯著的下降。該死區(qū)通過強制 ICP_UP 和 ICP_DN 在每個 PFD 周期中產(chǎn)生極窄的脈沖來消除。此類脈沖通常被稱為防反沖脈沖。這會在 fPFD 及其諧波處的 VCO 調(diào)諧電壓上產(chǎn)生能量分量。因為這些頻率在正確設(shè)計的 PLL 環(huán)路帶寬之外,所以負反饋無法抵消這些脈沖。然后,VCO 受到這些能量分量的頻率調(diào)制 (FM),相關(guān)的雜散噪聲出現(xiàn)在 fPFD 及其諧波上,所有噪聲都以 LO 為中心。
在防反沖脈沖之間,充電泵電流源關(guān)斷 (三態(tài))。當(dāng)處于三態(tài)時,充電泵有一定的固有泄漏電流。在有源環(huán)路濾波器中會采用一個運算放大器 (如圖 7 所示),該運算放大器的輸入偏置和失調(diào)電流會引入另一個泄漏電流源。這些不想要的電流合起來,無論是提供還是吸收,都會在環(huán)路濾波器兩端引起電壓漂移,從而在 VCO 調(diào)諧電壓中引起漂移。負反饋環(huán)路在每個 PFD 周期中從充電泵引入一個單極性電流脈沖,這樣平均調(diào)諧電壓就能使 VCO 產(chǎn)生正確頻率,從而可以矯正這種異常情況。這些脈沖在 fPFD 上產(chǎn)生能量,如前所述,這也會引起以 LO 為中心的雜散以及 fPFD 和其諧波的頻率偏移。
在整數(shù) N PLL 中,由于系統(tǒng)頻率步進大小的要求,常常選擇相對較小的fPFD。這意味著,與 PFD 周期相比,防反沖脈沖寬度極小,尤其是采用目前的高速 IC 技術(shù)時。因此,大的泄漏電流使得總的充電泵脈沖變成單極性,而且往往是基準(zhǔn)雜散噪聲的主要原因。這種現(xiàn)象后面將進行更深入的討論。
基準(zhǔn)雜散噪聲對系統(tǒng)性能的影響
在特定通信頻帶中,有多個占用相等帶寬的通道。在所有通道中,兩個相鄰?fù)ǖ乐行念l率之間的間隔是相等的,而且以通道間隔表示。由于一些原因,任何兩個相鄰?fù)ǖ佬盘枏姸戎g常常有較大變化。
在多通道無線通信系統(tǒng)中,一種典型情況是,較強的通道與所需要但較弱的通道相鄰,如圖 4 所示。圖中僅顯示了其中一個所關(guān)注的 LO 基準(zhǔn)雜散噪聲。
圖 4:由基準(zhǔn)雜散噪聲導(dǎo)致的相鄰?fù)ǖ栏蓴_
在整數(shù) N PLL 中,通常選擇等于通道間隔的 fPFD,這意味著基準(zhǔn)雜散噪聲的位置與 LO 的距離等于通道間隔。這些雜散噪聲將所有相鄰和附近的通道轉(zhuǎn)換到中頻 (fIF) 以及 LO 的中心,將所需要的通道混頻到同一頻率上。這些不想要的通道,與想要通道中的信號是不相關(guān)的,成為疊加到想要信號上的升高噪聲層,限制了信噪比。
泄漏電流與基準(zhǔn)雜散噪聲之間的關(guān)系
以數(shù)學(xué)方法預(yù)測 PLL IC的相位噪聲大小相對簡單,可以通過計算準(zhǔn)確地確定。然而,基準(zhǔn)雜散噪聲大小的預(yù)測一直以來都被認為是很復(fù)雜的。本節(jié)利用簡單的計算,得出一種準(zhǔn)確預(yù)測泄漏電流導(dǎo)致的基準(zhǔn)雜散噪聲大小的方法。
無源環(huán)路濾波器舉例
一個采用典型無源環(huán)路濾波器的 PLL 系統(tǒng)如圖 5 所示,其中包括以 I_Leakage 表示的電流源,代表充電泵的泄漏電流。假定 PLL 是鎖定的,那么 I_Leakage 在充電泵關(guān)斷時,減少了 CP 保持的電量。當(dāng)充電泵每PFD 周期接通一次時,ICP_UP 通過加上一個短的電流脈沖,補充 CP 損失的電量。反饋強制 V_Tune (V_Tune_Avg) 端的平均電壓恒定,從而保持正確的 LO 頻率。圖 6 以圖形說明了這個過程。
圖 5:采用無源環(huán)路濾波器的 PLL 系統(tǒng),I_Leakage 代表充電泵泄漏電流
圖 6:CP 通過 I_Leakage 放電,每 PFD 周期再通過 ICP_UP 充電
要推導(dǎo)所得雜散噪聲,需要對環(huán)路穩(wěn)定性的要求有所了解,首先是 LBW 限制。PLL 系統(tǒng)的 LBW 設(shè)計為至少比 fPFD 少 10 倍:
這意味著,PFD 周期為:
為了建立具有大量相位裕度的穩(wěn)定環(huán)路,在環(huán)路中插入一個由圖 5 中 RZ 和 CI 組成的零點,位置大約在 1/3 LBW 處。
在最后一個等式中用 TPFD 替代 LBW,產(chǎn)生
這意味著,PFD 周期幾乎是比零點τZ 時間常數(shù)短 5 倍。這表明,在一個 TPFD 周期中 CP 兩端產(chǎn)生的紋波大多不會被 CI 看到。閉環(huán)帶寬 LBW 近似等于開環(huán)增益的單位增益交叉點 (unity crossing)。既然該零點位于環(huán)路帶寬之內(nèi) (位于開環(huán)增益單位增益交叉點的 1/3 處),那么 CI 兩端的電壓由負反饋決定,而且在大多數(shù)情況下等于 DC 值。
實事求是地講,在圖 6 所示的 PFD 周期中,僅 CP 在放電和充電。
如果用一個恒定電流源 I 給電容器 C 充電和放電,那么經(jīng)過一段給定的時間ΔT,該電容器兩端的電壓由以下等式給出:
為了在 LO 端保持固定輸出頻率,圖 6 中放電周期發(fā)生的電壓下降等于充電周期的電壓上升。也就是:
其中,TCharge 是充電泵電流在每個 PFD 周期工作的時間。
充電泵電流 I_CP 的大小通常在 mA 范圍,I_Leakage 的大小通常在 nA 范圍,這意味著:
這表明,CP 兩端的紋波電壓可以用鋸齒波表示。
為了研究這種鋸齒波對 LO 信號頻譜的影響,而且既然該波形是一種周期函數(shù),那么該鋸齒波可以用傅立葉級數(shù) (Fourier Series) 分析分解成其頻率分量:
其中:
其中 n = 1,基頻峰值為:
二階諧波峰值為:
等等。
在圖 6 中等于 V_Tune_Avg 的 DC 值按照所要求的 LO 頻率由負反饋設(shè)定。然而,AC 組件通過 VCO 的調(diào)諧引腳對 VCO 進行頻率調(diào)制,調(diào)諧靈敏度為 KVCO,結(jié)果產(chǎn)生了以 fPFD 為基頻的雙邊帶雜散噪聲。附錄導(dǎo)出了以下等式,稍后會用到這個等式。
因為 fPFD 是基頻和最低頻率分量,按照設(shè)計,至少比開環(huán)增益的 0dB 交叉點高 10 倍。在這些 AC 分量的負反饋影響是微不足道。
為了算出基頻基準(zhǔn)雜散噪聲與載波的功率比,設(shè) fm = fPFD、Em = Vpk-Fund 和
就二階諧波基準(zhǔn)
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