OTA與雜散測試

輻射型雜散是指由于機(jī)箱(或機(jī)柜)以及設(shè)備的結(jié)構(gòu)而引起的任何雜散輻射，主要是指由EUT的機(jī)殼、結(jié)構(gòu)及互聯(lián)電纜引起的雜散騷擾。所以說EUT的整機(jī)設(shè)計(jì)，天線質(zhì)量，外殼材料及表面工藝的影響對(duì)輻射雜散存在一定的影響。在測試過程中，曾遇到很多不同因素的影響，比如：EUT機(jī)殼的金屬框，喇叭的金屬網(wǎng)，按鍵板的影響等等。但是這些只是外殼材料及表面工藝的影響，整機(jī)的設(shè)計(jì)、屏蔽占有更重要的地位。

我們?cè)陔s散測試過程中遇到過很多因?yàn)槠帘螁栴}而耗費(fèi)大量時(shí)間的項(xiàng)目. 摩爾實(shí)驗(yàn)室(MORLAB)曾有一個(gè)項(xiàng)目, 被測物(EUT)在傳導(dǎo)雜散測試中指標(biāo)良好,并有10dB的余量，但是在輻射雜散測試中，其2次諧波卻超標(biāo)了10dB。我們對(duì)其進(jìn)行了OTA測試，也發(fā)現(xiàn)TRP指標(biāo)不是很理想。初始以為是天線匹配問題，通過使用網(wǎng)絡(luò)分析儀我們修改了天線匹配。測試后發(fā)現(xiàn)TRP指標(biāo)有了改善，但是在暗室測試輻射雜散指標(biāo)并沒什么改善。通過跟我資深EMC工程師的溝通，了解一個(gè)通過采用了環(huán)形天線（如圖一）來探測干擾源的方法。最后發(fā)現(xiàn)是PA屏蔽不好，使發(fā)射出來的信號(hào)很容易倍頻到高次諧波上形成強(qiáng)干擾。修改后, 再進(jìn)行測試,輻射指標(biāo)達(dá)到了10dB的余量。從這個(gè)例子我們可以看出屏蔽的重要性。 圖一

圖2所示是導(dǎo)致EMC性能不良的可能原因，可以根據(jù)這個(gè)來找出問題所在,并采用環(huán)形天線探測干擾源的方法（結(jié)構(gòu)圖, 如圖3）尋找干擾源：

圖三

環(huán)形天線與頻譜分析儀的射頻電纜連接，設(shè)置頻譜儀在合適的SPAN，并將頻譜儀設(shè)置為尋找并保持最大軌跡點(diǎn)，方便地確定輻射源的位置和特性、輻射泄漏的具體部位和強(qiáng)度。這樣不僅能找出屏蔽效果不好的地方，使得在整機(jī)設(shè)計(jì)時(shí)使用更好的方案。

圖二

MORLAB在OTA的測試中也出現(xiàn)過類似的情況，其測試頻段包括GSM850、PCS1900，在測試中GSM850指標(biāo)很好，但是PCS1900的指標(biāo)很差。測試樣品是一個(gè)手機(jī)底座，所以為了查出是哪個(gè)部分的影響，我們把底座的按鍵板、喇叭網(wǎng)、喇叭及其他的一些附屬器件一個(gè)一個(gè)安裝上去進(jìn)行測試，最終發(fā)現(xiàn)安裝上調(diào)諧器之后，測試結(jié)果比沒安裝上去的結(jié)果相差達(dá)到7dB。仔細(xì)檢查發(fā)現(xiàn)是調(diào)諧器的屏蔽未能做好，調(diào)諧器屏蔽的效果不好, 直接影響了其在測試頻率上出現(xiàn)串?dāng)_, 使得測試結(jié)果不理想。通過相應(yīng)修改后, 測試結(jié)果達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)要求。