基于FPGA實現(xiàn)感性元件電阻測試
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圖4、通過定點設計模型生成FPGA代碼
4、 測試驗證
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圖5、感性電阻測試FPGA代碼
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圖6、未進行降采樣濾波電阻測試效果
如圖6所示,起始跳變是由于線圈充電瞬間造成的,但是由于未進行由于線圈感應電動勢影響所以電阻變化較大,如圖7細化觀察。
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圖7、電阻變化較大
通過降采樣濾波算法,濾除由于電流不穩(wěn)定造成的感性線圈產(chǎn)生電動勢導致的電阻波動誤差,如圖8所示,感應線圈電阻測試穩(wěn)定,通過與6位半DMM比較,結果一致。
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圖8、通過降采樣濾波后的電阻測試
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