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AWG在高速串行信號接收性能測試中的應(yīng)用(二)

作者: 時間:2017-01-09 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
1, SATAG1/G2/G3的一致性測試:

目前SATA Workgroup已經(jīng)發(fā)布了發(fā)送端,線纜以及接收端的一致性測試規(guī)范和實現(xiàn)方法。SATA Gen I ,Gen II GIII的接收端抖動容限一致性測試,要求DUT遵守采用特定幀信息結(jié)構(gòu)(FIS-Frame Information Structure)的內(nèi)置自檢(BIST-Built-In Self Test)指令,在收到特定序列的BIST-L(環(huán)回)幀時,串行收發(fā)機(包括發(fā)射機、接收機和SERDES)單元被設(shè)計成進入專用環(huán)回模式。在設(shè)備處于這種模式時,由測試儀器(信號源)發(fā)送含抖動的信號給DUT的接收端,然后DUT的發(fā)送端就會對已經(jīng)收到的信號作出正確的響應(yīng),最后由錯誤幀檢測器(Frame error detector)去檢測DUT的發(fā)送端響應(yīng)輸出的數(shù)據(jù)是否正確。或者可以逐步調(diào)大信號源注入的抖動幅度,直到Frame error detector檢測到錯誤幀出現(xiàn),此時獲得的抖動幅度就是接收端的抖動容限值。這種方法必不可少,因為整個收發(fā)機通常是在芯片上實現(xiàn)的,因此不能接入內(nèi)部信號路徑進行探測。傳統(tǒng)上,BIST-L指令一直是外部PC提供的,外部PC上運行專門的應(yīng)用軟件來強迫DUT進入回環(huán)模式。遺憾的是,一旦斷開BIST信號源以后,大多數(shù)收發(fā)機就會自動退出回環(huán)模式,返回正常操作,因此無法再繼續(xù)進行測試!應(yīng)對這一挑戰(zhàn)的常用解決方案是通過功率合成器向DUT輸送BIST-L命令。功率合成器的另一個輸出連接到提供測試數(shù)據(jù)流的信號發(fā)生器上,如圖11所示。通過在測試電路中使用電源組合器,數(shù)據(jù)發(fā)生器可以在環(huán)回模式激活時,開始把測試數(shù)據(jù)發(fā)送到DUT,而不要求斷開連接。功率合成器是一種可行的解決方案,但有它的缺點。很明顯,它提高了復(fù)雜度,增加了連接錯誤、電氣接觸不良及出現(xiàn)其它機械問題的機會。它還需要校準(zhǔn)所有輸入源,保證正確引入抖動成分。最重要的是,功率合成器會使數(shù)據(jù)信號電壓衰減高達50%。通過提高數(shù)據(jù)發(fā)生器的輸出幅度,通??梢越鉀Q這個問題,但它會限制儀器的性能;此外,提高幅度會不可避免地引入噪聲和失真。

圖11數(shù)字信號源實現(xiàn)SATA接收端抖動容限測試的方法

但如果采用AWG直接合成方法的話,儀器可以代替PC發(fā)送BIST-FIS指令。換句話說,AWG的輸出是一條連續(xù)的數(shù)據(jù)流,其中先是BIST-FIS命令,然后是抖動的數(shù)據(jù),在兩者之間不會有中斷。它不需要功率合成器或運行BIST-FIS軟件的PC。圖12是僅由兩臺儀器組成的基于AWG的抖動容限測試系統(tǒng):一臺儀器生成輸入信號,一臺儀器讀取輸出。AWG的存儲器不區(qū)分BIST-FIS數(shù)據(jù)、帶外信號、時鐘信號或?qū)嶋H數(shù)據(jù)流及其異常事件。


圖12直接數(shù)字合成信號源實現(xiàn)SATA抖動容限測試方法

2.Displayport一致性測試

在display port Compliance Test Specification Version1的接收端抖動容限測試中,要求信號源提供包含不同的抖動頻率,抖動幅度以及抖動成分的信號,輸入到Sink的接收端,然后看Sink的誤碼率來考驗接收端的PLL性能,如下表1,這對于傳統(tǒng)的數(shù)字信號源是一個挑戰(zhàn),請看圖的傳統(tǒng)數(shù)字信號源的解決方案,為了合成復(fù)雜的抖動成分,需要額外的增加一個噪聲信號發(fā)生器和矢量信號發(fā)生器,而且兩者還需要用Power Divider合成起來去給數(shù)字信號源去注入抖動。而圖14的使用直接合成信號源實現(xiàn)方法的獨特優(yōu)勢在于它只需按一個鍵,就可以輸出合成的信號,這些信號包含正弦、ISI、Rj、Pj抖動、預(yù)加重、平衡、跳變時間和幅度控制,連接簡便而且測試的一致性和可重復(fù)性均很高。


表1 DisplayPort Sink抖動容限測試規(guī)范中要求輸入信號的抖動特性


圖13數(shù)字信號源實現(xiàn)DisplayPort接收端抖動容限測試的方法


圖14直接數(shù)字合成信號源實現(xiàn)DisplayPort抖動容限測試的方法

3.HDMI的一致性測試.

在HDMI的CTS1.4的規(guī)范中,要求在Sink的抖動容限測試中除了加入兩種頻率的抖動外,還需要加入TTC(transition time converter)以及Cable emulator以保證信號的上升時間以及抖動成分符合規(guī)范要求。數(shù)字信號源使用圖15的方式來實現(xiàn)。

對于TTC,要求不同的測試頻率加入不同的TTC.
分別為:74.25MHz/450ps;148.5MHz/220ps;165MHz/200ps;222.75MHz/150ps;340MHz/60ps
對于Cable emulator,同樣要求在不同的測試頻率使用5種不同特性的cable emulator.如下表2.

Typical(MHz)1st Cable Emulator2nd Cable Emulator
27Type1 Cat1+Cat2Type2 27MHz
74.25Type1 Cat1Type2 75MHz
148.5Type1 Cat2Type3
222.75Type1 Cat2Type3
340Type1 Cat2Type3

對于Automotive的Type E的接口,又新增加了兩種類型的Cable Emulator而且目前只能支持74.25MHz,未來的148.5和更高分辯率還需要增加更多的Cable Emulator.
Automotive Cable Emulator
27Type 1Automotive1+Automotive2
74.25Type 1Automotive1

表2HDMI Sink抖動容限測試所要求的Cable emulator的類型

根據(jù)規(guī)范,對于Sink的測試,要求測試其在不同的時鐘頻率下的性能,這就會導(dǎo)致在測試過程中頻繁的更換不同的TTC和Cable emulator.除了花費大量的時間外還會導(dǎo)致頻繁的改變連接導(dǎo)致的信號接觸不良等因素造成的測試差異。另外由于Cable emulator和TTC價格昂貴,而且有部分類型的Cable emulator設(shè)備廠商并不對外銷售,使客戶無法購買或者需要額外支出大筆費用。

而采用直接合成信號的方式產(chǎn)生信號的話,則可以不需要額外的TTC和Cable emulator,而TTC和Cable emulator的特性均可以采用AWG來進行模擬。如圖16所示,通過AWG輸出的信號就是包含了規(guī)定的抖動頻率和抖動幅度而且加入了TTC和Cable emulator所帶來的抖動和衰減的影響。換言之,可以直接將AWG的輸出直接連接到DUT的輸入端進行測試,而不需要進行復(fù)雜的附件連接。


圖15數(shù)字信號源實現(xiàn)HDMI接收端抖動容限測試的方法



圖16直接數(shù)字合成信號源實現(xiàn)HDMI抖動容限測試的方法


4.USB 3.0的一致性測試:
當(dāng)進行抖動容限測試的時候,除了發(fā)送端和接收端的參考時鐘必須加入SSC以外,預(yù)加重電平設(shè)置為-3dB,電壓設(shè)為0.75V,DUT設(shè)置為環(huán)回模式,測試需要注入確定性抖動Dj(確定性抖動的改變是通過對Sj每次注入改變)和隨機抖動(Rj不變)。測試點在TP1注入抖動的要求如下
FrequencySJRJ
500kHz400ps2.42ps
1MHz200ps2.42ps
2MHz100ps2.42ps
4.9MHz40ps2.42ps
50MHz40ps2.42ps
帶有直接合成技術(shù)的AWG7000B系列,它能夠直接創(chuàng)建帶有抖動的碼型和預(yù)加重等,代替了之前需要使用包括BERT、噪聲發(fā)生器和抖動發(fā)生器三臺儀器的方案,大大提高了測試的精確度和效率。由于它能夠生成更高測試要求的受損波形,即使今后測試規(guī)范更新和改進,也完全可以滿足要求。
泰克的AWG7122B通過SerialXpress可以非常方便的生成各種受損波形,加入PJ,RJ,ISI以及預(yù)加重;可以方便的進行Reference Cable Emulation ;仿真用戶自定義長度的線纜,用戶可以確定自己的DUT能夠正常工作的線纜的最大長度;產(chǎn)生用戶自定義SSC profile(比如測試需要仿真SSC的Noise以及df/dt的變化);進行Sj的注入無需考慮硬件的限制,完全通過軟件產(chǎn)生;支持復(fù)雜的預(yù)加重功能要求;直接合成相應(yīng)波形進行LFPS的測試。
下圖是Agilent的USB3.0的配置方案,需要多臺儀器進行組合。

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