2602新型測試儀器如何轉(zhuǎn)換集成式的SMU

復(fù)雜的DUT可能在測試夾具循環(huán)至下一個部件之前要求多次的源激勵信號和進(jìn)行相應(yīng)的響應(yīng)信號的測量。縮短測試時(shí)間的第一步可通過將單獨(dú)功能的源－測量儀器轉(zhuǎn)變?yōu)榧墒降?strong>SMU獲得。這將減少觸發(fā)延遲時(shí)間以及在分立儀器和PC控制器之間的數(shù)據(jù)通信時(shí)間。如果SMU具有內(nèi)部程序存儲器[2]，這將進(jìn)一步減少數(shù)據(jù)通信時(shí)間和PC執(zhí)行測試程序的時(shí)間，因?yàn)樵揝MU可從其自身的存儲器中運(yùn)行測試序列。

有些 SMU 具有可運(yùn)行多達(dá) 100個預(yù)定義測試序列的程序存儲器，在測試過程中，可進(jìn)行極限比較、執(zhí)行有條件的測試程序分支或者選擇與否 PC 控制器一同工作。采用這種類型的設(shè)計(jì)，易在單通道系統(tǒng)中獲得在測試時(shí)間上的顯著改進(jìn)。但是，管理多個觸發(fā)器和測試序列是非常困難的，在多SMU系統(tǒng)中進(jìn)行測試時(shí)間的改進(jìn)因而要復(fù)雜得多。(參見文后的“SMU 測試序列的優(yōu)勢”部分)

因?yàn)榇嬖诶щy，所以多SMU系統(tǒng)設(shè)計(jì)可采用測試序列發(fā)生器，存儲多個GPIB命令到SMU內(nèi)，然后由PC控制器發(fā)簡單的SCPI調(diào)用執(zhí)行這些命令。在這樣的設(shè)計(jì)中，系統(tǒng)沒能提供所需的邏輯電路去執(zhí)行極限測試或作出通過/失效判斷，即沒有與DUT 分選處理機(jī)的接口。因此，這類設(shè)計(jì)在數(shù)據(jù)通信總線上仍有大量的GPIB通信[3]。而且，多SMU系統(tǒng)并不能像它們在并行測試中那樣能被有效地運(yùn)用，相反，經(jīng)常被順序訪問這些SMU，因此系統(tǒng)速度與吞吐量的增加不是很大。

現(xiàn)在，速度最快的SMU使用了測試腳本處理器和高速控制總線，多個SMU采用主從架構(gòu)真正實(shí)現(xiàn)并行多通道操作。這種類型的設(shè)計(jì)已經(jīng)用于吉時(shí)利的2601[4]和2602型數(shù)字源表（System SourceMeter?）儀器中。