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一招搞定4G LTE終端產(chǎn)品測(cè)試

作者: 時(shí)間:2017-01-12 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
  2015年是我國(guó)LTE發(fā)展和普及重要的一年。三大運(yùn)營(yíng)獲得4G牌照并開(kāi)展了LTE網(wǎng)絡(luò)規(guī)劃建設(shè)和實(shí)際運(yùn)營(yíng),就4G LTE而言,到2015年預(yù)計(jì)中國(guó)TD-LTE 4G基站建設(shè)將超過(guò)100萬(wàn),網(wǎng)絡(luò)總投資將超過(guò)2300億元,中國(guó)電信確定了在4G領(lǐng)域投資將達(dá)到550億元,中國(guó)聯(lián)通每年在4G領(lǐng)域也將投資100億元左右,如此巨大的資金涌入,必將使4G生態(tài)系統(tǒng)更具活力、充滿各種機(jī)遇與挑戰(zhàn),高帶寬、低時(shí)延、實(shí)時(shí)業(yè)務(wù)已然是未來(lái)發(fā)展的要求,相關(guān)產(chǎn)業(yè)也將實(shí)現(xiàn)融合,以加速互聯(lián)促使物聯(lián)網(wǎng)新時(shí)代的到來(lái)。

  面對(duì)這一市場(chǎng)發(fā)展趨勢(shì),怎樣才能把握住行業(yè)發(fā)展的脈搏與用戶的需求?4G時(shí)代下終端設(shè)備又存在哪些新的機(jī)遇與挑戰(zhàn)?在激烈市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)如何保持自身的發(fā)展優(yōu)勢(shì)?在電子發(fā)燒友舉辦的“4G/LTE技術(shù)與論壇”上,安立業(yè)務(wù)拓展經(jīng)理萬(wàn)力銘先生給我們帶來(lái)了在4G領(lǐng)域中終端測(cè)試一體化解決方案。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/201701/337843.htm

  

  安立業(yè)務(wù)拓展經(jīng)理萬(wàn)力銘表示,安立可以提供完整的LTE測(cè)試解決方案,從芯片級(jí)研發(fā)方案到產(chǎn)品級(jí)研發(fā)方案再到生產(chǎn)測(cè)試方案與完善終端測(cè)試系統(tǒng),能實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確把握終端產(chǎn)品最后一道關(guān)口。

  萬(wàn)經(jīng)理表示,安立可以提供完整的LTE產(chǎn)品線,開(kāi)發(fā)、制造、工程及一體化的服務(wù)模式,業(yè)務(wù)覆蓋于全球網(wǎng)絡(luò),力主于全球的4G/LTE市場(chǎng),主要在四大領(lǐng)域提供測(cè)試服務(wù)。一是針對(duì)移動(dòng)寬帶網(wǎng)絡(luò),能滿足互操作性測(cè)試和運(yùn)營(yíng)商接收測(cè)試、生產(chǎn)測(cè)試以及一致性測(cè)試;二是針對(duì)通信網(wǎng)絡(luò)領(lǐng)域,對(duì)無(wú)線網(wǎng)絡(luò)基站網(wǎng)絡(luò)、無(wú)線回程連接的網(wǎng)絡(luò)、有線通信連接網(wǎng)絡(luò)等可靠性問(wèn)題上;三是電子元器件及系統(tǒng),電子元器件與公共和商業(yè)部門(mén)無(wú)線通訊設(shè)備和汽車(chē)電子等的質(zhì)量評(píng)估、制造業(yè)和毫米波/微波通信系統(tǒng)等領(lǐng)域;四是在光學(xué)和高速設(shè)備上,安立提供高效率的光器件和高速電子設(shè)備,助力于光通信系統(tǒng)、醫(yī)學(xué)、工業(yè)和防災(zāi)領(lǐng)域發(fā)展,如UFED (超高速電子器件)、移相器、光器件上都能提供好的測(cè)試方案。

  

  LTE產(chǎn)品線整體展示圖

  芯片級(jí)研究:RTD + 信令測(cè)試儀系統(tǒng)

  當(dāng)前芯片公司普遍采用編程語(yǔ)言來(lái)設(shè)計(jì)芯片的測(cè)試流程,代碼語(yǔ)言卻帶來(lái)了諸多問(wèn)題,如需要大量文檔/注釋?zhuān)瑏?lái)保證代碼的可讀性;編寫(xiě)者和維護(hù)者之間的轉(zhuǎn)移非常困難;協(xié)議規(guī)范的改變,導(dǎo)致測(cè)試用例的維護(hù)工作非常大等等。萬(wàn)經(jīng)理指出,安立公司提供RTD (快速測(cè)試設(shè)計(jì)師)+ 信令測(cè)試儀完整測(cè)試系統(tǒng)解決方案,可以幫助使用者快速完成LTE芯片協(xié)議的開(kāi)發(fā)、性能測(cè)試。

  

  產(chǎn)品級(jí)研究:一套應(yīng)用測(cè)試“交鑰匙”

  據(jù)現(xiàn)場(chǎng)介紹,安立的LTE應(yīng)用測(cè)試包括了功耗測(cè)試、回歸測(cè)試、語(yǔ)音質(zhì)量、VOLTED等領(lǐng)域測(cè)試整套系統(tǒng),是一套各類(lèi)應(yīng)用測(cè)試的“交鑰匙”方案。同時(shí),還有圖形化UI、內(nèi)置測(cè)試腳本,可以方便簡(jiǎn)潔的進(jìn)行測(cè)試。


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