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EMI測(cè)試那點(diǎn)事——高速數(shù)據(jù)引起的EMI問(wèn)題

作者: 時(shí)間:2017-01-12 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

此時(shí)底噪明顯下降,280MHz處為-71dBm,當(dāng)我們?cè)賹㈩l譜分析時(shí)間段右移至完全沒(méi)有突發(fā)幅度處時(shí),得到如下測(cè)試結(jié)果:

此時(shí)底噪已經(jīng)降低到-85dBm一下,原來(lái)280MHz頻點(diǎn)處被底噪淹沒(méi)的-73dBm的信號(hào)此時(shí)已經(jīng)顯現(xiàn)出來(lái)。

由于該電路板EMI呈周期性變化,既然FPGA的設(shè)計(jì)難以在短時(shí)間內(nèi)更改,我們能否通過(guò)有效的控制手段,讓有用的射頻信號(hào)在突發(fā)周期間隔中底噪較低的時(shí)刻發(fā)射,而在突發(fā)幅度時(shí)刻不發(fā)射有用信息?客戶(hù)認(rèn)為此方法可行。底噪呈周期性變化,必定與電路板中某種控制信號(hào)相關(guān),雖然我們已經(jīng)測(cè)試出突發(fā)底噪變化的周期,但如果我們不知道這種周期與哪種控制相關(guān),上述設(shè)想就難以實(shí)現(xiàn)。客戶(hù)對(duì)其內(nèi)部控制時(shí)序相當(dāng)熟悉,94uS的周期剛好是該電路板高速USB信號(hào)傳輸控制周期。為了驗(yàn)證這一假設(shè),我們將MDO示波器通道1接到高速USB控制測(cè)試點(diǎn),同時(shí)測(cè)試射頻頻譜,得到如下結(jié)果:

以上測(cè)試結(jié)果充分證明了通道1中的高速USB信號(hào)與底噪突發(fā)抬升的規(guī)律相同,證明二者相關(guān)。高速USB的時(shí)序由嵌入式程序控制,因此只要在程序中控制射頻在高速USB信號(hào)發(fā)出后延遲50uS發(fā)射,發(fā)射持續(xù)時(shí)間小于40uS即可。

案例總結(jié):

本案例利用MDO跨域分析及調(diào)制域分析功能,成功地確認(rèn)EMI與高速USB信號(hào)相關(guān),通過(guò)時(shí)序控制,跨域有效避免以前難以解決的問(wèn)題。


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