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PCI-E測(cè)試常見問題總結(jié)-2

作者: 時(shí)間:2017-01-12 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
QUESTION: 在PCI-E的信號(hào)質(zhì)量測(cè)試中需要捕獲多少的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析?

ANSWER: 按照規(guī)范要求,需要捕獲至少1M個(gè)數(shù)據(jù)比特進(jìn)行信號(hào)分析。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/201701/338070.htm

QUESTION: 如果我的被測(cè)件不是標(biāo)準(zhǔn)的PCI-E插槽接口,如何進(jìn)行PCI-E的協(xié)議分析?

ANSWER: 如果被測(cè)件是標(biāo)準(zhǔn)的PCI-E插槽接口,可以把協(xié)議分析儀的Interposer探頭插在主板和插卡間引出信號(hào)至協(xié)議分析儀;如果不是標(biāo)準(zhǔn)的PCI-E插槽接口,可以用飛線探頭焊接在連接器或隔直電容上測(cè)試,不過如果要測(cè)試的線對(duì)數(shù)量很多,焊接會(huì)比較麻煩,所以建議在PCB板上預(yù)留Midbus的探頭接口(信號(hào)事先引出到兩排按一定間距排列和定義的焊盤上)。

QUESTION: 使用PCI-E協(xié)議分析儀能不能直接告訴我總線上的協(xié)議錯(cuò)誤?

ANSWER: 這取決于具體要分析的錯(cuò)誤。PCI-E協(xié)議分析儀只是把總線上的數(shù)據(jù)捕獲下來(lái)并解包分析,對(duì)于一些明顯的錯(cuò)誤,比如校驗(yàn)錯(cuò)誤、幀格式錯(cuò)誤等,協(xié)議分析儀可以在顯示或者統(tǒng)計(jì)分析時(shí)進(jìn)行著重顯示。但是對(duì)于一些更深層次的錯(cuò)誤,協(xié)議分析儀并不能直接給出pass或fail的結(jié)果,而是需要用戶對(duì)捕獲和解碼后的數(shù)據(jù)包的交互過程進(jìn)行分析,從而判斷是否有問題。因此PCI-E的協(xié)議分析儀主要用在芯片的BIOS開發(fā)等調(diào)試階段。協(xié)議的一致性測(cè)試需要使用專門的PTC。



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