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提升示波器波形質(zhì)量,要靠OFF/ENVELOPE/AVERAGE這三種算法?

作者: 時(shí)間:2017-06-03 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

提到波形算法,容易想到里數(shù)學(xué)運(yùn)算功能“math”可以實(shí)現(xiàn)幾十種的算法,完全滿足應(yīng)用需要,其中有個(gè)特色算法就是實(shí)時(shí)的算法,可以實(shí)時(shí)顯示頻譜,實(shí)現(xiàn)時(shí)域和頻域聯(lián)調(diào)的功能。該文談的算法主要針對(duì)測試波形做相應(yīng)的算法,提升波形質(zhì)量,分為三種:OFF,ENVELOPE,AVERAGE。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/201706/347633.htm

幾個(gè)概念

為了更直觀的說明波形算法這個(gè)概念,首先貼出圖1,從圖中可以看到在數(shù)據(jù)采集通道中,內(nèi)插模式、抽取模式以及波形算法是在同一數(shù)據(jù)處理通道上,從采集的數(shù)據(jù)經(jīng)過內(nèi)插模式或者抽取模式后,你可以根據(jù)測試需要選擇合適的波形算法對(duì)多次采集的波形進(jìn)行算法處理,內(nèi)插模式和抽取模式可以與波形算法自由組合,選擇比較靈活。本篇以4種抽取模式與3種波形算法的組合來主要說明波形算法的應(yīng)用。

圖1 RS數(shù)據(jù)處理通路

到這里,可能很多人會(huì)有疑惑:又是一個(gè)average,之前上一篇抽取模式短文里Hi-RESOLUTION抽取模式里也采用了average,這兩種處理方式同樣是針對(duì)同一采集數(shù)據(jù)處理的,一前一后,有什么差異?筆者在第一次見到這個(gè)的時(shí)候,確實(shí)存在這樣的疑問,后續(xù)將跟大家一起分享下這兩個(gè)average的同與不同。

在《的抽取模式》一文中已說明抽取的四種模式分別為:SAMPLE,PEAK-DETECT,HI-RESOLUTION,RMS。本文所要介紹的波形算法分為如下三種:OFF,ENVELOPE,AVERAGE。可以實(shí)現(xiàn)的組合如下圖2所示。

圖2 抽取模式與波形算法可以實(shí)現(xiàn)的組合

示波器抽取模式是對(duì)采集的數(shù)據(jù)點(diǎn)進(jìn)行分析計(jì)算,即對(duì)相鄰的N個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)做相應(yīng)的算法,把N個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)做算法,計(jì)算成一個(gè)點(diǎn),以此類推到采集的所有數(shù)據(jù)點(diǎn),這樣可以降低波形采樣率。經(jīng)過抽取后的數(shù)據(jù)點(diǎn)組合成波形,而示波器的波形算法正是對(duì)N個(gè)連續(xù)采樣的波形采用不同的算法優(yōu)化波形質(zhì)量,更加真實(shí)的測量信號(hào)波形。

同理,示波器的內(nèi)插模式與波形算法的組合,是對(duì)ADC采集的數(shù)據(jù)點(diǎn)做不同的內(nèi)插,然后把內(nèi)插后的波形采用不同的波形算法,優(yōu)化測試波形。

下面對(duì)三種波形算法定義分別作簡要的介紹。

· OFF

這是最簡單的一種方式,顧名思義,就是對(duì)波形不做任何處理,即關(guān)閉或者旁路波形算法,直接送到示波器后續(xù)相應(yīng)測試測量部分,并在示波器屏幕上顯示出來。

· ENVELOPE

在N個(gè)連續(xù)采樣的波形里,在時(shí)刻Ti對(duì)應(yīng)于N個(gè)波形里的最大值和最小值分別為Vimax、Vimin,則對(duì)這N個(gè)波形做ENVELOPE算法后,就是把對(duì)應(yīng)的每個(gè)Ti時(shí)刻的最大值Vimax和最小值Vimin組合成一個(gè)新的波形,這樣會(huì)有最大值組合成的一條曲線和最小值組合成的一條曲線,這兩條曲線組合成包絡(luò),即為波形算法里的ENVELOPE的含義。

· AVERAGE

同上原理,在N個(gè)連續(xù)采樣的波形里,在時(shí)刻Ti對(duì)應(yīng)于N個(gè)波形里的幅值分別為Vi1、Vi2、Vi3、……ViN,則對(duì)這N個(gè)波形做AVERAGE算法后,在Ti時(shí)刻的幅值為V=(Vi1+Vi2+Vi3+……+ViN)/N。在其他時(shí)刻,采用類似算法,這樣在不同時(shí)刻點(diǎn)計(jì)算出來的值組合成新的波形即為通過AVERAGE波形算法計(jì)算的波形。

不同波形算法對(duì)比

結(jié)合示波器抽取模式,下面根據(jù)實(shí)際測試結(jié)果分析對(duì)應(yīng)于不同抽取模式下,不同波形算法的優(yōu)異差異,見圖2。關(guān)于示波器抽取模式的分析,可以參照《示波器的抽取模式》一文。本文所測試信號(hào)為RS示波器自帶標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)1KHz方波。3.1 SAMPLE模式

在示波器抽取模式為SAMPLE時(shí),OFF和AVERAGE這兩種不同波形算法計(jì)算后的波形分別見圖3,圖4。由這三幅測試波形對(duì)比可以明顯發(fā)現(xiàn),沒做波形算法時(shí),波形的幅度波動(dòng)比較大,這時(shí)候在測試幅值時(shí)就會(huì)引入較大的誤差,影響測試準(zhǔn)確度。再來看看在SAMPLE抽取模式下,對(duì)波形做AVERAGE算法的測試波形,波形比較干凈,其實(shí)就是對(duì)圖3中的各個(gè)波形之間做了平均,消除了隨機(jī)誤差,采用這種算法只能對(duì)于周期波形進(jìn)行使用。

圖4 SAMPLE抽取模式下,OFF波形算法測試波形

圖5 SAMPLE抽取模式下,AVERAGE波形算法測試波形

PEAK DETECT模式

在PEAK DETECT抽取模式下,不做任何波形算法時(shí),見圖6,數(shù)據(jù)抽取后兩條曲線為最大值的包絡(luò)和最小值的包絡(luò),跟《示波器的抽取模式》一文所測波形一致。從圖7看以看出,根據(jù)波形算法的計(jì)算方式,對(duì)N個(gè)波形,在每個(gè)Ti時(shí)刻,對(duì)應(yīng)的最小值和最大值分別組成包絡(luò),即為采用ENVELOPE算法計(jì)算的兩條包絡(luò)線。通過這個(gè)算法,可以很容易分析測量信號(hào)幅值的波動(dòng)范圍,為在線測試提供判斷依據(jù)。

圖6 PEAK DETECT抽取模式下,OFF波形算法測試波形

圖7 PEAK DETECT抽取模式下,ENVELOPE波形算法測試波形3.3 HI-RESOLUTION模式

在HI-RESOLUTION模式下,對(duì)采集的數(shù)據(jù)點(diǎn)先做了高精度計(jì)算,在這個(gè)模式下可以達(dá)到12bit分析精度,見圖8,為沒有做任何波形算法的測試波形。對(duì)這樣的連續(xù)N個(gè)HI-RESOLUTION抽取的波形,再做AVERAGE算法,進(jìn)一步減少了測試幅值的隨機(jī)波動(dòng),這樣測試出來的幅值會(huì)更加接近真實(shí)值,減少測試誤差,有圖9的測試波形可以看出,在HI-RESOLUTION抽取模式下,對(duì)比在做AVERAGE和沒做時(shí)的波形,做AVERAGE算法的測試波形比較平滑,消除隨機(jī)誤差,但是需要注意的是,這個(gè)算法只能適用在周期信號(hào)測試。

圖8 HI_RESOLUTION抽取模式下,OFF波形算法測試波形

圖9 HI_RESOLUTION抽取模式下,AVERAGE波形算法測試波形

RMS模式

在RMS抽取模式下,同理,這里分三種波形算法對(duì)RMS抽取模式的連續(xù)N個(gè)波形計(jì)算,分別得到的測試波形如圖10,圖11,圖12所示。圖10為RMS抽取模式下,不做任何波形算法的測試波形個(gè)。圖11為RMS抽取模式下,運(yùn)用AVERAGE波形算法測試的波形。圖12為RMS抽取模式下,運(yùn)用ENVELOPE波形算法的測試波形。

圖10 RMS抽取模式下,OFF波形算法測試波形

圖11 RMS抽取模式下,AVERAGE波形算法測試波形

圖12 RMS抽取模式下,ENVELOPE波形算法測試波形

結(jié)論

綜上所述,三種波形算法:OFF,AVERAGE,ENVELOP。根據(jù)測試需要,選擇不同的波形算法。一般情況下,我們示波器默認(rèn)情況為在SAMPLE抽取模式下,不做任何波形算法。那么這里也簡單總結(jié)下,波形算法的應(yīng)用的使用情況。

AVERAGE波形算法,主要適用在隨機(jī)噪聲比較多的信號(hào)里,通過平均算法的計(jì)算,減少隨機(jī)誤差的影響,更加真實(shí)的測試信號(hào)幅度,只能適用于周期信號(hào)的測試。

ENVELOPE波形算法,在測試信號(hào)波形時(shí),通過包絡(luò)波形算法,對(duì)于具有隨機(jī)噪聲這樣的信號(hào)來測試,可以看到由最大值和最小值組成的包絡(luò)反映了噪聲的輪廓,即上限和下限,可以客觀的反映噪聲的幅值大小,為產(chǎn)品開發(fā)設(shè)計(jì)提供參考。

我們需要根據(jù)實(shí)際測試情況來選擇波形算法,同樣對(duì)于抽取,內(nèi)插模式也一樣,選擇合適的方式。



關(guān)鍵詞: 示波器 FFT ADC

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