羅德與施瓦茨推出具備業(yè)界領(lǐng)先的相位噪聲性能和高輸出功率的高端模擬射頻和微波信號發(fā)生器

　　R&S SMA100B在所有頻率上提供最低相位噪聲的純凈信號(1GHZ，20KHZ頻偏，-152dBc/Hz)。6GHz版本的儀器可以產(chǎn)生高達(dá) 38 dBm的射頻輸出功率，20GHz版本的儀器可在微波頻段產(chǎn)生高達(dá) 32 dBm的輸出功率。在整個頻率范圍內(nèi)諧波分量都是極低的，當(dāng)在6GHz以上頻段輸出 18 dBm的輸出功率時(shí)，諧波分量甚至顯著低于-70dBc。輸出信號為1GHz時(shí)，雜散分量低于-110dBc。

　　羅德與施瓦茨公司信號源，音頻分析儀和功率計(jì)部門副總裁Andreas Pauly表示“R&S SMA100B讓客戶可以驗(yàn)證他們被測件的真實(shí)性能，因?yàn)樾盘栐幢旧硇阅懿粫绊憸y試結(jié)果，R&S SMA100B 提供前所未有的優(yōu)異性能，幫助我們客戶取得將產(chǎn)品推向市場的技術(shù)領(lǐng)先地位”。

　　用于高精度ADC和DAC測試的極純凈信號

　　最新水平的ADC和DAC測試需要相位噪聲和寬帶噪聲最低的絕對純凈信號，還能夠額外提供除了提供極度純凈的模擬RF信號，R&S SMA100B還是世界上唯一能夠提供額外第二路，可獨(dú)立設(shè)置，極度純凈和高達(dá)6GHZ同步時(shí)鐘信號的模擬信號源。因此，用戶可以使用單臺模擬信號源量化其ADC。時(shí)鐘頻綜輸出信號具備極度低的寬帶相位噪聲(100MHZ，-175dBc/Hz，30MHz頻偏)，可以用來測試現(xiàn)代ADC的信噪比，也使R&S SMA100B成為了測量高性能ADC的理想?yún)⒖肌?/p>

　　Analog Devices公司，高速A/D轉(zhuǎn)換器測試總監(jiān)Ron Goga表示，“羅德與施瓦茨之前推出它的極低相噪R&S SMA100A 信號發(fā)生器，在過去十年里一直盡最大能力幫助我們評估、測試和定義我們世界級的A/D轉(zhuǎn)換器，作為它的繼承者，SMA100A具有更低的相位噪聲”， “兩家公司保持著緊密合作，具有20GHz 極度純凈信號的模擬RF 信號源R&S SMA100B的及時(shí)發(fā)布與Analog Devices最新射頻系列轉(zhuǎn)換器的發(fā)布緊密吻合，該轉(zhuǎn)換器系列包含新雙3GSPS 14位A/D轉(zhuǎn)換器 AD9208和雙12GSPS 16位D/A轉(zhuǎn)換器AD9172，最先進(jìn)的R&S SMA100B 使我們能夠在最耀眼的舞臺繼續(xù)展示我們的RF數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器”。

　　R&S SMA100B 同樣是量化DAC時(shí)時(shí)鐘源的完美選擇。發(fā)生器極低的相位噪聲產(chǎn)生最小化的信號抖動從而不會影響DAC的實(shí)際測試結(jié)果。

　　滿足苛刻應(yīng)用最好的雷達(dá)信號源

　　R&S SMA100B 擁有強(qiáng)大的脈沖調(diào)制器和發(fā)生器，具備極短的上升/下降時(shí)間和高達(dá)90dB的開關(guān)比，最新的數(shù)字，高精度自動電平控制(ALC)保證窄脈沖的峰值功率電平是高度精確和可重復(fù)。閉環(huán)電平控制可以被應(yīng)用在脈寬大于100ns的場景。這些特性使得在測試具備無與倫比的準(zhǔn)確的先進(jìn)雷達(dá)接收機(jī)在苛刻的脈沖場景中測試成為可能。

　　在雷達(dá)系統(tǒng)整機(jī)裝配前，極純凈的本地振蕩器信號通常需要替代驗(yàn)證。R&S SMA100A由于其可提供具備超低迫近相位噪聲(10GHz,10Hz頻偏，-83dBc/Hz)的高電平信號，是替代本振的理想解決方案。

　　高質(zhì)量，先進(jìn)的基站需要嚴(yán)格的阻塞測試

　　基站接收機(jī)的選擇性有許多準(zhǔn)則評估，包括對強(qiáng)干擾抑制的有多好。當(dāng)使用SMA100B模擬帶內(nèi)和帶外干擾時(shí)，儀器的超低相位噪聲選件保證了模擬干擾源的相位噪聲和寬帶噪聲對有用信號的影響降至最低。借助R&S SMA100B的極佳信號質(zhì)量，基站真實(shí)的干擾抑制性能可以被準(zhǔn)確的衡量(例如：10GHz寬帶噪聲，30MHz頻偏，低于-160dBc/Hz)。

　　無磨損，電子步進(jìn)衰減器和最高輸出功率用于生產(chǎn)環(huán)境

　　超高的輸出功率選件使R&S SMA100B能夠提供高達(dá)38 dBm的輸出功率，在自動化測試環(huán)境中消除外置放大器的需求，在20GHz儀器里，集成的、無磨損的電子步進(jìn)衰減器現(xiàn)在作為標(biāo)配，羅德與施瓦茨最大化提升了在需要無數(shù)次電平周期切換的測試系統(tǒng)中的使用壽命，而幾乎不需考慮儀器的磨損。這種解決方案還提供了在微波信號源中有史以來極快的電平設(shè)置時(shí)間。