開關(guān)電源32個(gè)測試項(xiàng)（三）

23.高溫高濕儲(chǔ)存測試

一、目的:

測試高溫高濕儲(chǔ)存環(huán)境對(duì)S.M.P.S.的結(jié)構(gòu),元件及整機(jī)電氣的影響,以考量S.M.P.S.結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及零件選用的合理性.

二.使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE /交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD /電子負(fù)載;

(3). AC POWER METER /功率表;

(4). TEMP. CHAMBER /溫控室;

(5). HI-POT TESTER /高壓測試儀

三.測試條件:

儲(chǔ)存高溫高濕條件:通常為溫度70±2℃,濕度90-95%試驗(yàn)時(shí)間24Hrs(非操作條件).

四、測試方法:

(1).試驗(yàn)前記錄待測品輸入功率,輸出電壓及HI-POT狀況;

(2).將確認(rèn)后的待測品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi),依規(guī)格設(shè)定其溫度和濕度,然后啟動(dòng)溫控室;

(3).試驗(yàn)24Hrs,試驗(yàn)結(jié)束后在空氣中放置至少4Hrs,再確認(rèn)待測品外觀,結(jié)構(gòu)及電氣性能是否有異常.

五、注意事項(xiàng):

(1).產(chǎn)品試驗(yàn)期間與試驗(yàn)后,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象.

(2).試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻測試需符合規(guī)格書要求.

24.低溫操作測試

一、目的:

測試低溫環(huán)境對(duì)S.M.P.S.操作過程中的結(jié)構(gòu),元件及整機(jī)電氣的影響,用以考量S.M.P.S.結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及零件選用的合理性.

二.使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE /交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD /電子負(fù)載;

(3). AC POWER METER /功率表;

(4). TEMP. CHAMBER /溫控室;

(5). HI-POT TESTER /高壓測試儀;

三.測試條件:

(1).依SPEC.要求:輸入條件(RATED VOLTAGE),輸出負(fù)載(FULL LOAD)和操作溫度(OPERATION TEMP.),通常溫度為:(0℃).

(2).試驗(yàn)時(shí)間: 4Hrs.

四、測試方法:

(1).將待測品置于溫控室內(nèi),依規(guī)格設(shè)定好輸入輸出測試條件,然后開機(jī).

(2).依規(guī)格設(shè)定好溫控室的溫度,然后啟動(dòng)溫控室.

(3).定時(shí)記錄待測品輸入功率和輸出電壓,以及待測品是否有異常;

(4).做完測試后將待測品從溫控室中移出,在常溫環(huán)境下恢復(fù)至少4小時(shí),然后確認(rèn)其外觀和電氣性能有無異常.

五、注意事項(xiàng):

(1).產(chǎn)品試驗(yàn)期間與試驗(yàn)后,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象.

(2).試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻測試需符合規(guī)格書要求.

25.低溫儲(chǔ)存測試

一、目的:

測試低溫儲(chǔ)存環(huán)境對(duì)S.M.P.S.的結(jié)構(gòu),元件及整機(jī)電氣的影響,用以考量S.M.P.S.結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及零件選用的合理性.

二.使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE /交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD /電子負(fù)載;

(3). AC POWER METER /功率表;

(4). TEMP. CHAMBER /溫控室;

(5). HI-POT TESTER /高壓測試儀;

三.測試條件:

儲(chǔ)存低溫條件:通常為溫度-30℃,試驗(yàn)時(shí)間24Hrs(非操作條件).

四、測試方法:

(1).試驗(yàn)前記錄待測品輸入功率,輸出電壓及HI-POT狀況.

(2).將確認(rèn)后的待測品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi),依規(guī)格設(shè)定其溫度,然后啟動(dòng)溫控室.

(3).試驗(yàn)24Hrs,試驗(yàn)結(jié)束后在空氣中放置至少4Hrs,再將待測品做HI-POT測試,記錄測試結(jié)果,之后確認(rèn)待測品的外觀,結(jié)構(gòu)及

電氣性能是否有異常.

五、注意事項(xiàng):

(1).產(chǎn)品試驗(yàn)期間與試驗(yàn)后,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象.

(2).試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻測試需符合規(guī)格書要求.

26.低溫啟動(dòng)測試

一、目的:

測試低溫儲(chǔ)存環(huán)境對(duì)S.M.P.S.的整機(jī)電氣的影響,用以考量S.M.P.S.電氣及零件選用的合理性.

二.使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE /交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD /電子負(fù)載;

(3). AC POWER METER /功率表;

(4). TEMP. CHAMBER /溫控室;

三.測試條件:

儲(chǔ)存低溫條件:通常為操作溫度0℃條件下降低到-10 ±2℃,儲(chǔ)存時(shí)間至少4Hrs.

四、測試方法:

(1).試驗(yàn)前記錄待測品輸入功率,輸出電壓及HI-POT狀況.

(2).將確認(rèn)后的待測品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi),依規(guī)格設(shè)定其溫度,然后啟動(dòng)溫控室.

(3).試驗(yàn)溫度儲(chǔ)存至少4Hrs,然后分別在115Vac/60Hz 230Vac/50Hz和輸出最大負(fù)載條件下開關(guān)機(jī)各20次,確認(rèn)待測品電氣性能是否正常.

五、注意事項(xiàng):

(1).在產(chǎn)品性能測試期間或測試之后,產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象.

(2).設(shè)定的環(huán)境溫度為操作低溫的溫度再降-10度.

27.溫度循環(huán)測試

一、目的:

測試針對(duì)S.M.P.S.所有組成零件的加速性測試,用來顯露出在實(shí)際操作中所可能出現(xiàn)的問題.

二.使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE /交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD /電子負(fù)載;

(3). AC POWER METER /功率表;

(4). TEMP. CHAMBER /溫控室;

(5). HI-POT TESTER /高壓測試儀;

三.測試條件:

操作溫度條件:通常為低溫度-40 ℃ 、25℃、33℃和高溫度66 ℃(濕度: 50-90%),試驗(yàn)至少24個(gè)循環(huán).

四、測試方法:

(1).試驗(yàn)前記錄待測品輸入功率,輸出電壓及HI-POT狀況.

(2).將確認(rèn)后的待測品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi),以無包裝,非操作狀態(tài)下.

(3).設(shè)定溫度順序?yàn)?6±2 ℃保持1小時(shí), 33±2 ℃和濕度90±2%保持1小時(shí), -40±2 ℃保持1小時(shí), 25±2 ℃和濕度50±2%保持30分鐘,為一個(gè)循環(huán).

(4).啟動(dòng)恒溫恒濕機(jī),然后記錄其溫度與時(shí)間的圖形,監(jiān)視系統(tǒng)所記錄的過程,

(5).試驗(yàn)完成后,溫度回到室溫再將待測物從恒溫恒濕機(jī)中移出,放置樣品在空氣中4Hr再確認(rèn)外觀,結(jié)構(gòu)及電氣性能是否有異常.

五、注意事項(xiàng):

(1).經(jīng)過冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的性能與外觀不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象.

(2).經(jīng)過冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻應(yīng)符合規(guī)格書要求.

28.冷熱沖擊測試

一、目的:

測試高,低溫度沖擊對(duì)S.M.P.S.的影響,用來揭露各組成元件的弱點(diǎn).

二.使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE /交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD /電子負(fù)載;

(3). AC POWER METER /功率表;

(4). TEMP. CHAMBER /溫控室;

(5). HI-POT TESTER /高壓測試儀;

三.測試條件:

(1).依SPEC.要求:儲(chǔ)存最高(70℃),低溫度(-30℃),測試共10個(gè)循環(huán),高低溫轉(zhuǎn)換時(shí)間為2min;

(2).依客戶所提供的試驗(yàn)條件.

四、測試方法:

(1).在溫控室內(nèi)待測品由常溫25 ℃向低溫通常為-30 ℃轉(zhuǎn)變,并低溫烘烤1Hr.

(2).溫控室由低溫-30 ℃向高溫通常為70 ℃轉(zhuǎn)變,轉(zhuǎn)變時(shí)間為2min.,并高溫烘烤1Hr.

(3).在高溫70 ℃和低溫-30 ℃之間循環(huán)10個(gè)周期后,溫度回到常溫將S.M.P.S.取出(至少恢復(fù)4小時(shí)).

(4).確認(rèn)待測品的標(biāo)簽、外殼、耐壓和電氣性能有無與測試前的差異.

五、注意事項(xiàng):

(1).經(jīng)過冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的性能與外觀不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象.

(2).經(jīng)過冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻應(yīng)符合規(guī)格書要求.

(3).產(chǎn)品為非操作條件.

28.冷熱沖擊測試

一、目的:

測試S.M.P.S.在規(guī)格耐壓和時(shí)間條件下,是否產(chǎn)生電弧ARCING,其CUT OFF CURRENT是否滿足SPEC.要求,及是否會(huì)對(duì)S.M.P.S.造成損傷.

二.使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE /交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD /電子負(fù)載;

(3). AC POWER METER /功率表;

(4). HI-POT TESTER /高壓測試儀;

三.測試條件:

依SPEC.要求:耐壓值(4242Vdc / 3000Vac)、操作時(shí)間(1 minute)和CUT OFF CURRENT(3.5mA)值;

四、測試方法:

(1).依SPEC.設(shè)定好耐壓WITHSTANDING VOLTAGE,操作時(shí)間TIME, CUT OFF CURRENT值.

(2).將待測品與耐壓測試儀依要求連接,進(jìn)行耐壓測試,觀察是否有產(chǎn)生電弧ARCING,及漏電流CUT OFF CURRENT是否過大.

(3).耐壓測試后,確認(rèn)待測品輸入功率與輸出電壓是否正常.

五、注意事項(xiàng):

(1).測試前應(yīng)先設(shè)定好耐壓測試儀的測試條件,待測品的輸入與輸出分別應(yīng)與測試儀接觸良好.

(2).耐壓的規(guī)格值設(shè)定參考安規(guī)要求.

30.跌落測試

一、目的:

了解S.M.P.S.由一定高度,不同面進(jìn)行跌落DROP,其結(jié)構(gòu),電氣等特性的變化狀況.

二.使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE /交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD /電子負(fù)載;

(3). AC POWER METER /功率表;

(4). HI-POT TESTER /高壓測試儀;

三.測試條件:

依SPEC.要求:規(guī)定的跌落高度、跌落次數(shù)和剛硬的水平面.

四、測試方法:

(1).所有待測品需先經(jīng)過電氣上的測試及目視檢查，以保證測試前沒任何可見的損壞存在.

(2).確定六個(gè)面(小-大)順序依次進(jìn)行跌落.

(3).使待測品由規(guī)定的高度及項(xiàng)(2)所確定的測試點(diǎn)各進(jìn)行一次跌落,每跌落一次均須對(duì)其電氣及絕緣等進(jìn)行確認(rèn),記錄正?；虍惓＝Y(jié)果.

31.絕緣阻抗測試

一、目的:

測量待測物帶電部件與輸出電路之間和帶電部件與膠殼之間的絕緣阻抗值.

二.使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE /交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD /電子負(fù)載;

(3). AC POWER METER /功率表;

(4). HI-POT TESTER /高壓測試儀;

三.測試條件:

(1).依SPEC.要求:施加500V直流電壓后進(jìn)行測試的絕緣阻抗值要高10MOhm(常規(guī)定義).

四、測試方法:

(1).確認(rèn)好電氣性能后,在絕緣阻抗測試儀中設(shè)定好施加的電壓(500Vdc)和測試的時(shí)間(1 Minute).

(2).將待測物輸入端和輸出端分別短路連接,然后分別連接測試儀對(duì)應(yīng)端進(jìn)行測試.

(3).再將待測物輸入端和外殼之間分別與測試儀對(duì)應(yīng)端連接進(jìn)行測試.

(4).確認(rèn)待測物的測試絕緣阻抗值是否高于SPEC.要求值10MOhm.

五、注意事項(xiàng):

(1).阻抗要求值依安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)要求定義.

32.額定電壓輸出電流測試

一、目的:

測試S.M.P.S.在AC LINE及OUTPUT VOLT.一定時(shí),其輸出電流值.

二.使用儀器設(shè)備:

(1). AC SOURCE /交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD /電子負(fù)載;

三.測試條件:

四、測試方法:

(1).固定輸入電壓與頻率,依條件設(shè)定CV模式下的輸出電壓.

(2).開機(jī)后待輸出穩(wěn)定時(shí)記錄輸出電流值.

(3).切換輸入電壓與頻率,記錄不同輸入電壓時(shí)的輸出電流值.

(4).在輸出電壓值不同條件下分別記錄輸出電流值.

五、注意事項(xiàng):

記錄輸出電流值前待測品電流值需穩(wěn)定.