電源的緩啟動電路設(shè)計及原理 (諾基亞西門子版本)
在電信工業(yè)和微波電路設(shè)計領(lǐng)域,普遍使用MOS管控制沖擊電流的方達到電流緩啟動的目的。MOS管有導(dǎo)通阻抗Rds_on低和驅(qū)動簡單的特點,在周圍加上少量元器件就可以構(gòu)成緩慢啟動電路。雖然電路比較簡單,但只有吃透MOS管的相關(guān)開關(guān)特性后才能對這個電路有深入的理解。
本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/201808/386150.htm本文首先從MOSFET的開通過程進行敘述:
盡管MOSFET在開關(guān)電源、電機控制等一些電子系統(tǒng)中得到廣泛的應(yīng)用,但是許多電子工程師并沒有十分清楚的理解MOSFET開關(guān)過程,以及MOSFET在開關(guān)過程中所處的狀態(tài)一般來說,電子工程師通?;跂艠O電荷理解MOSFET的開通的過程,如圖1所示此圖在MOSFET數(shù)據(jù)表中可以查到
圖1 AOT460柵極電荷特性
MOSFET的D和S極加電壓為VDD,當(dāng)驅(qū)動開通脈沖加到MOSFET的G和S極時,輸入電容Ciss充電,G和S極電壓Vgs線性上升并到達門檻電壓VGS(th),Vgs上升到VGS(th)之前漏極電流Id≈0A,沒有漏極電流流過,Vds的電壓保持VDD不變。
當(dāng)Vgs到達VGS(th)時,漏極開始流過電流Id,然后Vgs繼續(xù)上升,Id也逐漸上升,Vds仍然保持VDD當(dāng)Vgs到達米勒平臺電壓VGS(pl)時,Id也上升到負載電流最大值ID,Vds的電壓開始從VDD下降。
米勒平臺期間,Id電流維持ID,Vds電壓不斷降低。
米勒平臺結(jié)束時刻,Id電流仍然維持ID,Vds電壓降低到一個較低的值米勒平臺結(jié)束后,Id電流仍然維持ID,Vds電壓繼續(xù)降低,但此時降低的斜率很小,因此降低的幅度也很小,最后穩(wěn)定在Vds=Id×Rds(on)因此通常可以認為米勒平臺結(jié)束后MOSFET基本上已經(jīng)導(dǎo)通。
對于上述的過程,理解難點在于為什么在米勒平臺區(qū),Vgs的電壓恒定?驅(qū)動電路仍然對柵極提供驅(qū)動電流,仍然對柵極電容充電,為什么柵極的電壓不上升?而且柵極電荷特性對于形象的理解MOSFET的開通過程并不直觀因此,下面將基于漏極導(dǎo)通特性理解MOSFET開通過程。
MOSFET的漏極導(dǎo)通特性與開關(guān)過程。
MOSFET的漏極導(dǎo)通特性如圖2所示MOSFET與三極管一樣,當(dāng)MOSFET應(yīng)用于放大電路時,通常要使用此曲線研究其放大特性只是三極管使用的基極電流、集電極電流和放大倍數(shù),而MOSFET使用柵極電壓、漏極電流和跨導(dǎo)。
圖2 AOT460的漏極導(dǎo)通特性
三極管有三個工作區(qū):截止區(qū)、放大區(qū)和飽和區(qū),MOSFET對應(yīng)是關(guān)斷區(qū)、恒流區(qū)和可變電阻區(qū)注意:MOSFET恒流區(qū)有時也稱飽和區(qū)或放大區(qū)當(dāng)驅(qū)動開通脈沖加到MOSFET的G和S極時,Vgs的電壓逐漸升高時,MOSFET的開通軌跡A-B-C-D如圖3中的路線所示:
圖3 AOT460的開通軌跡
開通前,MOSFET起始工作點位于圖3的右下角A點,AOT460的VDD電壓為48V,Vgs的電壓逐漸升高,Id電流為0,Vgs的電壓達到VGS(th),Id電流從0開始逐漸增大。
A-B就是Vgs的電壓從VGS(th)增加到VGS(pl)的過程從A到B點的過程中,可以非常直觀的發(fā)現(xiàn),此過程工作于MOSFET的恒流區(qū),也就是Vgs電壓和Id電流自動找平衡的過程,即Vgs電壓的變化伴隨著Id電流相應(yīng)的變化,其變化關(guān)系就是MOSFET的跨導(dǎo):Gfs=Id/Vgs,跨導(dǎo)可以在MOSFET數(shù)據(jù)表中查到。
當(dāng)Id電流達到負載的最大允許電流ID時,此時對應(yīng)的柵級電壓Vgs(pl)=Id/gFS由于此時Id電流恒定,因此柵極Vgs電壓也恒定不變,見圖3中的B-C,此時MOSFET處于相對穩(wěn)定的恒流區(qū),工作于放大器的狀態(tài)。
開通前,Vgd的電壓為Vgs-Vds,為負壓,進入米勒平臺,Vgd的負電壓絕對值不斷下降,過0后轉(zhuǎn)為正電壓驅(qū)動電路的電流絕大部分流過CGD,以掃除米勒電容的電荷,因此柵極的電壓基本維持不變Vds電壓降低到很低的值后,米勒電容的電荷基本上被掃除,即圖3中的C點,于是,柵極的電壓在驅(qū)動電流的充電下又開始升高,如圖3中的C-D,使MOSFET進一步完全導(dǎo)通。
C-D為可變電阻區(qū),相應(yīng)的Vgs電壓對應(yīng)著一定的Vds電壓Vgs電壓達到最大值,Vds電壓達到最小值,由于Id電流為ID恒定,因此Vds的電壓即為ID和MOSFET的導(dǎo)通電阻的乘積。
基于MOSFET的漏極導(dǎo)通特性曲線可以直觀的理解MOSFET開通時,跨越關(guān)斷區(qū)、恒流區(qū)和可變電阻區(qū)的過程米勒平臺即為恒流區(qū),MOSFET工作于放大狀態(tài),Id電流為Vgs電壓和跨導(dǎo)乘積。
電路原理詳細說明:
MOS管是電壓控制器件,其極間電容等效電路如圖4所示。
圖4. 帶外接電容C2的N型MOS管極間電容等效電路
MOS管的極間電容柵漏電容Cgd、柵源電容Cgs、漏源電容Cds可以由以下公式確定:
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