同時對兩臺設(shè)備進(jìn)行EMI測試時為何通不過?

在對電源進(jìn)行EMI測試的過程中，開發(fā)者大多會將每個電源進(jìn)行單獨的測試。但是在一些特殊的情況中，需要將兩個電源共同進(jìn)行EMI的測試，此時就有可能出現(xiàn)一種情況，那就是兩個電源分別進(jìn)行測試時順利通過。但是當(dāng)兩個電源同時進(jìn)行測試時則會無法通過，這是為什么呢?

這種情況其實并不難解決。兩個電源串接或者并接出現(xiàn)EMI不良的問題，主要還是這種接法電源端口的電容、電感導(dǎo)致相互影響導(dǎo)致測試的頻率特性發(fā)生變化引起的結(jié)果。

一般來說電源產(chǎn)品開發(fā)過程中都會進(jìn)行EMI性能測試，測試要求都是在現(xiàn)有標(biāo)準(zhǔn)的限值的基礎(chǔ)上在降低6dB，作為設(shè)計余量。

但是實際上電源廠家在EMI測試過程中后端的負(fù)載是純電阻負(fù)載，這樣和實際負(fù)載是會有一定差距的。所以想要避免這種情況的出現(xiàn)就需要檢測設(shè)備的設(shè)計余量足夠大，并且需要在技術(shù)手冊應(yīng)用電路中設(shè)計更加詳細(xì)的外圍應(yīng)用參考電路。