三相異步電機(jī)參數(shù)的測試

0 引言

在異步電機(jī)的矢量控制系統(tǒng)中，電動機(jī)的參數(shù)是十分重要的物理量。在電機(jī)學(xué)中利用電動機(jī)的參數(shù)構(gòu)成等值電路，以此為基礎(chǔ)可以對三相電動機(jī)的各種運(yùn)行特性進(jìn)行分析。變頻調(diào)速中采用的矢量控制，控制系統(tǒng)性能完全依賴于所使用的電機(jī)參數(shù)的準(zhǔn)確程度，如果參數(shù)不準(zhǔn)確，將直接導(dǎo)致矢量控制性能指標(biāo)下降，甚至導(dǎo)致變頻器不能正常工作。

三相異步電動機(jī)的基本參數(shù)包括定子電阻、定子漏感、轉(zhuǎn)子電阻、轉(zhuǎn)子漏感、定轉(zhuǎn)子互感。這些參數(shù)的確定，可以利用電機(jī)設(shè)計(jì)制造時(shí)的技術(shù)數(shù)據(jù)進(jìn)行理論計(jì)算，但計(jì)算復(fù)雜，并且與實(shí)際有較大誤差;也可以采用試驗(yàn)方法確定，下面具體介紹在變頻器中采用試驗(yàn)的方法對各參數(shù)的測試。

1 參數(shù)測定試驗(yàn)

在變頻器中，測試參數(shù)主要有兩種方法：一種是在線測試，一種是離線測試。在線測試方法主要有卡爾曼濾波法、模型參考自適應(yīng)法、滑模變結(jié)構(gòu)法等，這些方法要求處理器具有較高的處理速度，對系統(tǒng)硬件要求較高;離線測試方法主要有頻率響應(yīng)試驗(yàn)、階躍響應(yīng)試驗(yàn)等，但測試精度不高，存在計(jì)算復(fù)雜、程序計(jì)算量大等問題，故很少采用。

這里主要介紹根據(jù)傳統(tǒng)的電機(jī)學(xué)試驗(yàn)原理，在變頻器中對電機(jī)參數(shù)進(jìn)行離線測試，通過對其采取相應(yīng)的措施達(dá)到測試參數(shù)的高精確度。

1.1 采用直流伏安法測試電機(jī)的定子電阻

在變頻器系統(tǒng)中，采用直流伏安法測試定子電阻的關(guān)鍵是如何得到低壓直流電源，當(dāng)變頻器直接連接到電網(wǎng)時(shí)，其直流母線電壓較高，通常的辦法是對直流母線進(jìn)行電壓斬波控制，得到一個(gè)平均值很低、周期固定且占空比固定的高頻電壓

脈沖系列，這樣經(jīng)過定子繞組中的電感濾波后，就得到一個(gè)脈動很小的直流電流。

如果占空比為D，直流母線電壓為Udc，電流為I，則相應(yīng)的定子電阻值為

在測試中為了防止變頻器出現(xiàn)過電流，應(yīng)該正確考慮占空比的設(shè)定，在實(shí)際測試中可以采用電流閉環(huán)加PI 調(diào)節(jié)器得出占空比的方法控制電流大小，如圖1 所示。

圖1 中，I * 為控制目標(biāo)，即給定電流，I 為反饋電流，即實(shí)際運(yùn)行電流。

試驗(yàn)時(shí)，變頻器中的開關(guān)器件IGBT 的導(dǎo)通壓降，對測試值的影響是不能忽略的，對導(dǎo)通壓降補(bǔ)償?shù)恼_與否直接影響到測試電阻精度的高低，導(dǎo)通壓降除了IGBT的導(dǎo)通壓降，還有續(xù)流二極管的導(dǎo)通壓降。同時(shí)，由于IGBT在開通和關(guān)斷過程中都有一定的延時(shí)，為了準(zhǔn)確計(jì)算輸出的直流電壓，這部分延時(shí)也不能忽略。

1.2 利用堵轉(zhuǎn)試驗(yàn)測試轉(zhuǎn)子電阻及定轉(zhuǎn)子漏感

在實(shí)際的應(yīng)用中，對電機(jī)進(jìn)行堵轉(zhuǎn)比較困難，在此采用單相短路試驗(yàn)代替三相試驗(yàn)，當(dāng)電機(jī)加上單相正弦電壓時(shí)，沒有電磁轉(zhuǎn)矩產(chǎn)生，其電磁現(xiàn)象與三相堵轉(zhuǎn)時(shí)基本相同，測試中，讓電機(jī)的某一相開路，在另外兩相之間通入單相的正弦交流電，然后通入一定的電流，此時(shí)測試定子上的電壓，電流和輸入功率，這樣即可計(jì)算出電機(jī)的短路電阻和短路電抗。

在堵轉(zhuǎn)試驗(yàn)中，為了防止過電流現(xiàn)象，可以采用測定子電阻的方法加入一個(gè)PI 閉環(huán)控制，但同時(shí)也需要考慮IGBT 的壓降和續(xù)流二極管的壓降產(chǎn)生的影響。在變頻器運(yùn)行測試中，為了防止變頻器中的上下橋臂直通現(xiàn)象，逆變器同一橋臂的上下開關(guān)之間的動作必須加入一段死區(qū)時(shí)間，一般為3~5μs，由于死區(qū)時(shí)間產(chǎn)生的誤脈沖對系統(tǒng)性能的影響較大，必須重點(diǎn)考慮，因此，對高精度的參數(shù)測試，死區(qū)時(shí)間是不可忽略的一個(gè)重要因素。

在考慮到死區(qū)時(shí)間的影響和IGBT 的開通關(guān)斷的時(shí)間后，實(shí)際的輸出電壓和給定的PWM 脈沖之間的關(guān)系表示如圖3 所示。