The Evolution of Realtime Testing 實(shí)時(shí)測(cè)試的演變
實(shí)時(shí)測(cè)試技術(shù)指在一個(gè)實(shí)時(shí)環(huán)境中實(shí)現(xiàn)測(cè)試應(yīng)用,主要用于幫助測(cè)試系統(tǒng)獲得更高的可靠性和/或確定性。因此,實(shí)時(shí)測(cè)試 技術(shù)在許多產(chǎn)品和系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)過(guò)程中扮演者重要的角色。比如對(duì)耐用性,使用壽命有要求以及其它一些需要長(zhǎng)期持續(xù)運(yùn)行或者需要在無(wú)人值班的情況下運(yùn)行的測(cè)試系 統(tǒng),這些系統(tǒng)要求實(shí)時(shí)執(zhí)行平臺(tái)提供卓越的可靠性。需要使用實(shí)時(shí)測(cè)試技術(shù)的例子還包括環(huán)境試驗(yàn)單元,測(cè)功機(jī),硬件在環(huán)(HIL)仿真器以及其他類(lèi)似的執(zhí)行閉環(huán)控制的測(cè)試系統(tǒng),這些系統(tǒng)要求實(shí)時(shí)執(zhí)行平臺(tái)具有低抖動(dòng)確定性。通過(guò)研究幾個(gè)實(shí)時(shí)測(cè)試(RTT)的應(yīng)用,我們可以看到它們是如何演變以應(yīng)對(duì)當(dāng)今測(cè)試工程師所面臨的各種挑戰(zhàn)的。
相關(guān)推薦
技術(shù)專(zhuān)區(qū)
- FPGA
- DSP
- MCU
- 示波器
- 步進(jìn)電機(jī)
- Zigbee
- LabVIEW
- Arduino
- RFID
- NFC
- STM32
- Protel
- GPS
- MSP430
- Multisim
- 濾波器
- CAN總線
- 開(kāi)關(guān)電源
- 單片機(jī)
- PCB
- USB
- ARM
- CPLD
- 連接器
- MEMS
- CMOS
- MIPS
- EMC
- EDA
- ROM
- 陀螺儀
- VHDL
- 比較器
- Verilog
- 穩(wěn)壓電源
- RAM
- AVR
- 傳感器
- 可控硅
- IGBT
- 嵌入式開(kāi)發(fā)
- 逆變器
- Quartus
- RS-232
- Cyclone
- 電位器
- 電機(jī)控制
- 藍(lán)牙
- PLC
- PWM
- 汽車(chē)電子
- 轉(zhuǎn)換器
- 電源管理
- 信號(hào)放大器
評(píng)論