新聞中心

EEPW首頁 > 測試測量 > 業(yè)界動態(tài) > 攜碳基材料及電子器件測試方案,泰克科技亮相CarbonSemi 2022

攜碳基材料及電子器件測試方案,泰克科技亮相CarbonSemi 2022

作者: 時間:2022-07-29 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

2022年8月3-5日,公司亮相由DT新材料主辦的第二屆碳基半導(dǎo)體材料與器件產(chǎn)業(yè)發(fā)展論壇( 2022)展位號A7,相約浙江寧波東港喜來登酒店,歡迎大家蒞臨展位參觀交流!

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/202207/436835.htm

公司成立于1946年,是世界第一臺觸發(fā)式示波器的發(fā)明者,作為一家全球領(lǐng)先的測試測量儀器及系統(tǒng)方案提供商,泰克推出的各種解決方案在過去的 75年間,為許多人類重大進(jìn)步提供了強有力的支持, 涵蓋醫(yī)療、 通信、 移動和太空等領(lǐng)域。泰克辦事處遍布于 21 個國家和地區(qū),致力于為即將創(chuàng)造未來的全球科學(xué)家、工程師和技術(shù)人員提供服務(wù)和支持。

泰克產(chǎn)品主要包括示波器、信號源、源表、頻譜分析儀及各類探頭與附件。另外于2010年被泰克收購的吉時利(Keithley)儀器公司,作為精密電子測試行業(yè)的領(lǐng)導(dǎo)者,也為超導(dǎo)性、納米材料、金屬、高分子材料、絕緣體和半導(dǎo)體的研究提供科學(xué)的以進(jìn)行高精確度的精細(xì)測量。

image.png

Keithley 4200A-SCS 參數(shù)分析儀

使用 4200A-SCS參數(shù)分析儀(參數(shù)測試儀)加快各類材料、半導(dǎo)體器件和先進(jìn)工藝的開發(fā),完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業(yè)內(nèi)性能領(lǐng)先電學(xué)特性參數(shù)分析儀,提供同步電流電壓曲線測試 (I-V曲線測試)、電容-電壓曲線測試 (C-V曲線測試) 和超快脈沖 I-V曲線測量。

image.png

2400 圖形化系列 SMU

Keithley 2400 圖形化系列 SMU 儀器提供四象限精密電壓和電流源/負(fù)載,外加直觀觸摸屏用戶界面上的測量。這些儀器可同時提供 10 fA - 10 A 脈沖電流和/或 100nV - 200V 電壓(實現(xiàn) 1000W 脈沖和 100W 直流總功率)并對其進(jìn)行測量,從而使用戶可以 Touch,Test,Invent?(觸摸、測試、創(chuàng)新)。

image.png

Keithley 6200/2182A 系列超低電阻配置

6220直流電流源和6221交流/直流電流源是非常易于使用的超低電流噪聲電流源。低電流的產(chǎn)生在從許多研發(fā)到生產(chǎn),尤其是在半導(dǎo)體、納米技術(shù)和超導(dǎo)行業(yè)方面的測試環(huán)境應(yīng)用非常重要。高準(zhǔn)確度的源和內(nèi)建控制功能使6220和6221成為霍爾測量、使用delta模式的電阻測量、脈沖測量和微分電導(dǎo)測量等應(yīng)用的理想選擇。

對精密、低電流源的需求。對當(dāng)今小型和高功率效率電子器件的測試和特性分 析需要輸出低電平電流,這需要采用精密的低電流源。較低的激勵電流在器件兩端 產(chǎn)生較低(因而更難測量)的電壓。將6220或6221與2182A納伏表組合可以妥善地處理這兩方面的挑戰(zhàn)。

1659088773554288.png

SiC功率器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)

DPT 1000A 功率器件動態(tài)測試系統(tǒng)由領(lǐng)銜開發(fā),專門用于針對三代半導(dǎo)體功率器件的動態(tài)特性分析測試,旨在解決客戶在功率器件動態(tài)特性表征中常見的疑難問題,包括如何設(shè)計高速工作的驅(qū)動電路,如何適配多種芯片封裝形式,如何選擇和連接探頭進(jìn)行信號測試,如何優(yōu)化和抑制測試過程中的噪聲和干擾。幫助客戶在研發(fā)設(shè)計和試產(chǎn)階段,快速評估器件性能,更快應(yīng)對市場需求改善產(chǎn)品性能。

image.png

DPT 1000A 功率器件動態(tài)測試系統(tǒng)的主要特點

●   定制化系統(tǒng)設(shè)計,豐富的硬件配置和高靈活性的驅(qū)動電路

●   自動化測試軟件,測試功能豐富,可以自動配置,測試和生成數(shù)據(jù)報告

●   高帶寬/ 高分辨率測試設(shè)備,在高速開關(guān)條件下準(zhǔn)確表征功率器件

●   覆蓋高壓,中壓,低壓,pmos等不同封裝芯片測試和雪崩參數(shù)測試功能




評論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉