戰(zhàn)經(jīng)驗(yàn) | Cortex-M核除0操作的報(bào)錯(cuò)機(jī)制話題
1. 前言
本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/202501/466513.htm除0操作屬于錯(cuò)誤操作,在ARM Cortex-M平臺上會(huì)有相應(yīng)的報(bào)錯(cuò)機(jī)制。但這邊會(huì)涉及到整型數(shù)的除0以及浮點(diǎn)數(shù)的除0,另外還會(huì)涉及錯(cuò)誤產(chǎn)生后的報(bào)錯(cuò)機(jī)制,是中斷還是錯(cuò)誤位,本文會(huì)對這個(gè)報(bào)錯(cuò)機(jī)制加以說明。使用STM32H723做為測試芯片。
2. 整形數(shù)除0操作報(bào)錯(cuò)
默認(rèn)情況下,STM32H723對整形數(shù)的除0操作,會(huì)忽略掉錯(cuò)誤,原因在于默認(rèn)情況下 SCB->CCR寄存器默認(rèn)配置中這個(gè)除0操作是非捕獲狀態(tài),如果想要系統(tǒng)報(bào)錯(cuò),需要把 DIV_0_TRP這個(gè)位置1,這樣,當(dāng)執(zhí)行除0操作的時(shí)候會(huì)進(jìn)入hardfault,并且有標(biāo)志位產(chǎn)生。
▲ 圖1. SCB CCR默認(rèn)地址和復(fù)位初值
▲ 圖2. DIV_0_TRP位于bit4
▲ 圖3. DIV_0_TRP參數(shù)說明
測試執(zhí)行整型數(shù)除0操作代碼。
/* Enable System clock */ __HAL_RCC_SYSCFG_CLK_ENABLE(); /* Enable DIV_0_TRP */ SCB->CCR |= (1<<4); /* Div value set to 0 */ IDiv = 0; /* Exctue div 0 */ Iout = Iin/IDiv;
▲ 圖4. Fault Report-除0錯(cuò)誤
▲ 圖5. 查看進(jìn)入Hardfault的程序位置
▲ 圖6. 找到因?yàn)槌?導(dǎo)致的進(jìn)入Hardfault
3. 浮點(diǎn)數(shù)除0的報(bào)錯(cuò)機(jī)制
浮點(diǎn)數(shù)的除0操作,沒有專門的Hardfault觸發(fā)機(jī)制,也就不能產(chǎn)生中斷,只能通過對FPU單元的讀取進(jìn)行判別,而且在調(diào)試模式下,通過IAR讀取寄存器的結(jié)果是正確的,而通過Keil的讀取會(huì)有錯(cuò)誤,實(shí)際已經(jīng)發(fā)生了浮點(diǎn)除0操作,但Keil的FPU->SCR寄存器DZC沒有置位。
▲ 圖7. FPSCR寄存器
執(zhí)行浮點(diǎn)除0的測試代碼:
static volatile float fin = 0.9f,fout,fdiv; static volatile uint16_t Mark; /* Div value set to 0 */ fdiv = 0.0f; /* Exctue float div 0 */ fout = fin/fdiv; /* Get wrong mask value */ Mark = __get_FPSCR();
▲ 圖8. IAR的浮點(diǎn)除0后DZC標(biāo)志位置位
▲ 圖9. Keil浮點(diǎn)除0后DZC標(biāo)志位有誤
讀取FPSCR寄存器,返回錯(cuò)誤碼0x02(除0操作)。
▲ 圖10. 讀取FPSCR
4. 結(jié)論
本文通過對除0操作的報(bào)錯(cuò)機(jī)制做細(xì)致說明,可以看到整型除0可以有Hardfault的中斷產(chǎn)生,而浮點(diǎn)的除0只能通過標(biāo)志位判別,實(shí)際使用過程中盡量避免這種錯(cuò)誤的操作。
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