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LED驅(qū)動器的可靠性和電磁兼容性測試方案(二)

作者: 時間:2013-11-29 來源:網(wǎng)絡 收藏

六 兼容性測試的經(jīng)濟效應

  兼容性測試的初期成本很高,需要大量昂貴的設備來構建測試環(huán)境,即便是外發(fā)委托測試,也會產(chǎn)生許多費用,隨著產(chǎn)品的多樣化,投入費用只會比前者更 多。除此以外,設計者們還需要對測試過程中暴露出的不合格或不理想的環(huán)節(jié)做出修改,人力、物力、財力上都會承擔一定的負擔。因此,很多制造商會對是否有必 要進行兼容性測試這一問題上產(chǎn)生疑慮。

  然而,從長遠來看,能夠引入兼容性測試這個概念的商家,各種好處將會在后期越來越多的得以體現(xiàn)。我們知道,EMC設計和EMC測試是相輔相成的。 EMC測試直接反映了EMC設計的好壞。只有在產(chǎn)品的EMC設計和研發(fā)過程中進行EMC相容性的預測和評估,才能及早發(fā)現(xiàn)可能存在的電磁干擾,并采取有效 的抑制和防范措施,從而確保系統(tǒng)的。EMC設計一個經(jīng)驗累積的過程,積累越多的經(jīng)驗,就越能減少在修改設計和補救措施上的花費。另一方面,如今 產(chǎn)品質(zhì)量的重要性逐漸被更多的人所認識,做過兼容性測試的產(chǎn)品較之沒有做過兼容性測試的產(chǎn)品在性能質(zhì)量及方面有更高的保障,這對于樹立良好的品牌形 象帶來更多的經(jīng)濟收益是至關重要的。

  七 兼容性測試與LED性能標準

  LED照明技術問世以后,由于缺少固態(tài)照明(SSL)的標準使市場上出現(xiàn)了諸多混亂。不同廠商間測試方法和術語的不同使新興的LED產(chǎn)品很難與傳統(tǒng) 照明產(chǎn)品進行比較,LED產(chǎn)品間也無法比較。為解決這一困境,在2008年由一些權威組織和機構聯(lián)合頒布了LM-79和LM-80標準:前者是固態(tài)照明設 備電子和光度的認可測試方法,可以計算LED產(chǎn)品的燈具效率(通過光凈光輸出量除以輸出功率計算每瓦流明量),燈具效率是測量LED產(chǎn)品性能最可靠的途 徑,通過衡量燈具性能替代曾經(jīng)依賴的傳統(tǒng)手段來區(qū)別燈具等級和燈具功效,這項標準為幫助建立燈具性能的精確比較提供基礎,不僅僅是固態(tài)照明產(chǎn)品同時也針對 各種光源;后者是LED光源流明衰減核定測量方法,通過對光源流明衰減方式的定義,從而對LED預期壽命進行評估,與靠燈絲發(fā)光的光源不一樣(燈絲發(fā)光的 燈會完全失效不亮),而發(fā)光二極管通常不會這樣,LED的光會隨著時間慢慢的減弱,這是所謂的流明衰減,這項標準是對流明衰減測試的方法制訂了一套標準。 除此以外,還有一些關于LED的性能標準,在此不一一列舉了。如今的LED照明器件及系統(tǒng)的兼容性測試,應該結合這些標準,從而獲取更多有關LED照明器 件及系統(tǒng)在日常真實的電氣環(huán)境中的使用性能知識。

  八 兼容性測試環(huán)境設計的實例

  在此以SJ-T2355-半導體發(fā)光二極管芯片的靜電抗干擾測試為例,簡單說明兼容性測試應該如何具體去實施,以及如何檢驗。

  SJ-T2355-半導體發(fā)光二極管芯片的靜電放電敏感性測試和分類:

  1) 人體模式的靜電放電敏感性測試

  LED驅(qū)動器的可靠性和電磁兼容性測試方案(二)

  圖1人體模式的靜電放電敏感性測試原理圖

  ① 雙極性脈沖發(fā)生器應該設計為避免重復充電和產(chǎn)生雙脈沖。不能靠交換A、B端點來獲得雙極性性能。

 ?、?開關SW1須在脈沖通過后關閉10ms~100ms,以確保被試插座不在充電狀態(tài),它也應該先于下個脈沖到來前至少開啟10ms。電阻R1和開關串聯(lián)以確 保器件有一個慢放電,這樣就避免了一個帶電器件模式放電的可能性。

 ?、?圖1中評價電阻負載1為:一種截面為0.83mm2~0.21mm2鍍錫銅短路線,跨距適合試驗插座。負載2為:500Ω,±1%,1000V,低電感薄 膜電阻。

 ?、?示波器要求:最小靈敏度100mA/cm(電流傳感器),帶寬350MHz,最小寫入速率1cm/ns。


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關鍵詞: LED驅(qū)動器 可靠性 電磁兼容性 測試方案

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