放大器的噪聲
CMOS 單電源放大器就讓全球的單電源系統(tǒng)設計人員受益非淺。影響雙電源放大器總諧波失真加噪聲 (THD+N) 特性的主要因素是輸入噪聲和輸出級交叉失真。
單電源放大器的 THD+N 性能源于放大器的輸入和輸出級。然而,輸入級對 THD+N 的影響又讓單電源放大器的這種規(guī)范本身復雜化。
有兩種單電源放大器拓撲可以接受電源之間的輸入信號。圖 1a 所示拓撲具有一個互補差動輸入級。在該拓撲中,放大器的輸入位于負軌附近時,PMOS 晶體管為“開”,而 NMOS 晶體管為“關”。當放大器的輸入更接近于正電壓軌時,NMOS 晶體管為“開”,而 PMOS 晶體管為“關”。
圖 1 互補輸入級、單電源放大器:a)。帶一個正充電泵的單差動對輸入級:b)
這種設計拓撲在共模輸入范圍會存在極大的放大器失調(diào)電壓差異。在接地電壓附近的輸入范圍,PMOS 晶體管的失調(diào)誤差為主要誤差。在正電源附近的區(qū)域,NMOS 晶體管對主導失調(diào)誤差。由于放大器的輸入通過這兩個區(qū)域之間,因此兩個對均為“開”。最終結果是,輸入失調(diào)電壓將在兩個級之間變化。當 PMOS 和 NMOS 均為“開”時,共模電壓區(qū)域約為 400 mV。這種交叉失真現(xiàn)象會影響放大器的總諧波失真 (THD)。如果您以一種非反相結構來配置互補輸入放大器,則輸入交叉失真就會影響放大器的 THD+N 性能。例如,在圖 2 中,如果不出現(xiàn)輸入過渡區(qū)域,則 THD+N 等于0.0006%。如果 THD+N 測試包括了放大器的輸入交叉失真,則 THD+N 等于 0.004%。您可以利用一種反相結構來避免出現(xiàn)這類放大器交叉失真。
圖 2 一個互補輸入級單電源放大器的 THD+N 性能
另一個主要的 THD+N 影響因素是運算放大器的輸出級。通常,單電源放大器的輸出級有一個 AB 拓撲(請參見圖 1a)。輸出信號做軌至軌掃描時,輸出級顯示出了一種與輸入級交叉失真類似的交叉失真,因為輸出級在晶體管之間切換。一般而言,更高電平的輸出級靜態(tài)電流可以降低放大器的 THD。
放大器的輸入噪聲是影響 THD+N 規(guī)范的另一個因素。高級別的輸入噪聲和/或高閉環(huán)增益都會增加放大器的總 THD+N 水平。
要想優(yōu)化互補輸入單電源放大器的 THD+N 性能,可將放大器置于一個反相增益結構中,并保持低閉環(huán)增益。如果系統(tǒng)要求放大器配置為非反相緩沖器,則選擇一個具有單差動輸入級和充電泵的放大器更為合適。
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