電磁兼容實驗室都需要配置哪些儀器

　　預兼容測試并無定義，但最起碼我們有理由假定測試必須在盡可能接近標準要求的條件下進行。

　　1)傳導發(fā)射的測試

　　多年來，電子產(chǎn)品制造商遇到的最困難的問題可能就是在傳導發(fā)射方面，因此本文首先就此進行討論。

　　這個裝置是根據(jù)CISPR22(EN55022)組建的，而且使用的設備必須符合CISPR16-1的要求。該裝置主要包括：EUT(被測設備)，如果它是臺式的，必須安放在一個距地面80cm高的絕緣桌上;輔助設備(外設)，按正常使用方式連接，未使用的輸入和輸出必須正確端接，多余的電纜必須截短，或繞成直徑30~40cm的一卷。頻譜分析儀(或EMI接收器)在0.15~30MHz的頻率范圍內(nèi)必須具有9kHz的分辨率帶寬(RBW)。測量過程在CISPR16-1和產(chǎn)品規(guī)范標準中有詳細描述，如果正確執(zhí)行，其結(jié)果與第三方實驗室的測試將3)諧波和閃爍測試

　　諧波和閃爍測試沒有環(huán)境方面的要求。只需將EUT連接到諧波分析儀的電源入口，并根據(jù)廠商的說明和標準的要求執(zhí)行測試即可。同樣，測試設備將包含一些已有的設置，但工程師必須確保這些測試設置符合自己產(chǎn)品的標準要求。如果評估時使用其他方法(如便攜式電源諧波分析儀)，請仔細閱讀標準要求，然后再評估測量結(jié)果。

　　4)ESD抗擾度測試

　　ESD抗擾度測試對于大型設備可能并不是很重要。但在今天這個各種產(chǎn)品普遍小型化的時代，ESD測試已成為大部分設備的“關鍵”EMC測試之一，例如對便攜式計算器、MP3和MD播放器、USB存儲棒、音頻設備等等。

　　由圖可見，EUT仍然安放在一張絕緣桌上，位于HCP(水平耦合平面，由一種金屬傳導材料制成)上，并通過一個絕緣抗靜電襯墊與其隔離。VCP(垂直耦合平面)和HCP分別連接到地參考平面，每個連接端各使用一只470kΩ的電阻。對于EUT的每個側(cè)面和VCP、HCP，以及EUT上每個用手能觸摸到的金屬表面，分別使用鋒利尖端進行接觸放電(直接放電)，通常每個極性5次。對于機箱的所有塑料部分，則利用圓形尖端進行空氣放電(間接放電)。

　　5)輻射電磁場抗擾度的測試

　　輻射電磁場抗擾度的測試裝置與輻射發(fā)射測試非常類似，但是在這項測試中，信號發(fā)生器和功率放大器將饋送給天線，以便在EUT附近產(chǎn)生“均勻電磁場”(±6dB)(在頻率范圍80~1000VSPACE=12HSPACE=12alt="電磁兼容實驗室都需要配置哪些儀器">MHz、AM、1kHz、80%調(diào)制深度下為3V/m或10V/m)。需要注意的是，不同產(chǎn)品的頻率范圍也不相同。

　　6)傳導騷擾抗擾度測試

　　傳導騷擾抗擾度測試的目的是在EUT端口輸入建立3V電平(有效值，150kHz~230MHz、AM、1kHz、80%調(diào)制深度)。信號發(fā)生器和功率放大器必須提供足夠的功率，以便CDN能將信號耦合到被測線。由于測試項目3)、7)、8)、9)、10)使用的是高度專業(yè)化的設備，如果實驗室中有這些設備，工程師無需太多操作，只要正確連接EUT就可以了，最重要的任務是監(jiān)控EUT的工作方式。

如何進行近場測試

　　本文前面的介紹部分講過，近場測試非常適合產(chǎn)品開發(fā)階段。在這個階段，標準測試方法或許能給出精確的結(jié)果，但卻無法顯示問題的來源所在。在挑選元件時，有些控制器芯片的輻射要比其他芯片低40dB，或具有更高的抗擾度。即使在產(chǎn)品開發(fā)完成，執(zhí)行兼容測試未通過之后，標準測試方法也幾乎無法給出有關問題來源的任何