一步步優(yōu)化反激式設(shè)計
通過最大化占空比的利用系數(shù)U(D)函數(shù)可以得到最佳占空比:
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利用系數(shù)(Ui)是用輸出功率除以二次側(cè)開關(guān)MOSFET和整流二極管的總最大應(yīng)力之和得出的。
圖中的兩條曲線顯示了只考慮開關(guān)MOSFET應(yīng)力(藍色虛線)計算出來的利用系數(shù),以及考慮了二次側(cè)開關(guān)MOSFET和整流二極管(紅色虛線)的利用系數(shù)。
要優(yōu)化額定輸入電壓的電源效率,一次側(cè)/二次側(cè)變壓器匝比應(yīng)利用占空比來計算,以使利用系數(shù)最大化,其典型值在30-40%之間。
(圖2:典型反激式轉(zhuǎn)換器的利用系數(shù)與占空比的關(guān)系,最大化利用系數(shù)的占空比為30-40%)
上面的曲線考慮的是有源元件上的理論應(yīng)力電壓。在實踐中,更重要的是評估MOSFET最大應(yīng)力電壓和變壓器數(shù)匝比是怎樣隨其選擇的最大占空比而變化的,并選擇一個可以在開關(guān)MOSFET的一定最大擊穿電壓內(nèi)給出“圓形(round)”匝數(shù)比值的值。
確定一次側(cè)電感:
選擇一次側(cè)和二次側(cè)電感有幾個標準。
第一,選擇可以確保從滿載到某些最小負載均在連續(xù)模式運行的一次側(cè)電感。
第二,通過確定最大二次側(cè)紋波電流來計算一次側(cè)和二次側(cè)電感。
第三,計算一次側(cè)電感,以保持盡可能高的右半平面零點(RHP),從而最大限度地提高閉環(huán)穿越頻率。
在實踐中,第一個標準只用于特殊情況,而選擇的磁化電感可作為變壓器尺寸、峰值電流和RHP零點之間很好的折衷。
為了通過確定二次側(cè)最大紋波電流來計算一次側(cè)和二次側(cè)電感,可以用下式計算出二次側(cè)電感( )和一次側(cè)電感( ):
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式中 是開關(guān)頻率, 是允許的二次側(cè)紋波電流,通常設(shè)置在約為輸出電流有效值的30-50%:
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那么,等效一次側(cè)電感可從下式獲得:
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如前所述,一次側(cè)電感和占空比會影響右半平面零點(RHP)。RHP增加了閉環(huán)控制特性的相位滯后,迫使最大穿越頻率不超過RHP頻率的1/4。
RHP是占空比、負載和電感的函數(shù),可以引發(fā)和增加環(huán)路增益,同時降低環(huán)路相位裕度。通常的做法是確定最差情況的RHPZ頻率,并設(shè)置環(huán)路單位增益頻率低于RHPZ的三分之一。
在反激式拓撲結(jié)構(gòu)中,計算RHPZ的公式是:
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可以選擇一次側(cè)電感來削弱這種不良效果。
圖3的曲線顯示了一次側(cè)電感對一次側(cè)和二次側(cè)電流和RHP零點的影響:
隨著電感的增加紋波電流會減小,因此輸入/輸出紋波電壓和電容大小也可能減小。但增加的電感增加了變壓器一次側(cè)二次側(cè)繞組數(shù),同時減少了RHP零點。
常識建議不應(yīng)使用過大的電感,以免影響整個系統(tǒng)的整體閉環(huán)性能和尺寸,還有反激式變壓器的損耗。
上述圖形和公式只有在連續(xù)傳導(dǎo)模式下的反激式運行才是有效的。
(圖3:典型反激式設(shè)計的一次側(cè)、二次側(cè)紋波電流、RHP零點與一次側(cè)電感的關(guān)系)
選擇功率開關(guān)MOSFET,并計算其損耗:
MOSFET的選擇基于最大應(yīng)力電壓、最大峰值輸入電流、總功率損耗、最大允許工作溫度,以及驅(qū)動器的電流驅(qū)動能力。
MOSFET的源漏擊穿(Vds)必須大于:
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MOSFET的連續(xù)漏電流(Id)必須大于一次側(cè)峰值電流( ,公式15)。
除了最大額定電壓和最大額定電流,MOSFET的其他三個重要參數(shù)是Rds(on)、柵極閾值電壓和柵極電容。
開關(guān)MOSFET的損耗有三種類型,即導(dǎo)通損耗、開關(guān)損耗和柵極電荷損耗:
?導(dǎo)通損耗等于 損耗,因此在導(dǎo)通狀態(tài)下源極和漏極之間的總電阻 要盡可能的低。
? 開關(guān)損耗等于:開關(guān)時間*Vds*I*頻率。開關(guān)時間、上升時間和下降時間是MOSFET柵漏極米勒電荷Qgd、驅(qū)動器內(nèi)部電阻和閾值電壓的函數(shù),最小柵極電壓Vgs(th)有助于電流通過MOSFET的漏源極。
? 柵極電荷損耗是由柵極電容充電,以及隨后的每個周期對地放電引起的。柵極電荷損耗等于:頻率* Qg(tot)* Vdr
不幸的是,電阻最低的器件往往有較高的柵極電容。
開關(guān)損耗也會受柵極電容的影響。如果柵極驅(qū)動器對大容量電容充電,則MOSFET需要時間進行線性區(qū)提升,則損耗增加。上升時間越快,開關(guān)損耗越低。不幸的是,這將導(dǎo)致高頻噪聲。
導(dǎo)通損耗不取決于頻率,它還取決于 和一次側(cè)RMS電流 的平方:
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在連續(xù)傳導(dǎo)模式下,反激式運行的一次側(cè)電流看起來像圖4上部所示的梯形
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