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新型耐壓測(cè)試系統(tǒng)研究

作者: 時(shí)間:2011-11-30 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

新型研究

介紹由工業(yè)PC控制的且符合IEC61010標(biāo)準(zhǔn)的。系統(tǒng)由程控電源、測(cè)試回路、信號(hào)采樣/調(diào)理電路和數(shù)據(jù)采集接口卡等部分組成。實(shí)驗(yàn)表明,系統(tǒng)工作穩(wěn)定,數(shù)據(jù)重復(fù)精度高。
  關(guān)鍵詞:;測(cè)試;工業(yè)PC

Research on a New Type of Withstanding Voltage Testing System
YANG Shengbing, LI Dong, WANG Xiaofei, WANG Yanlin
(Department of Electronic Engineering, Beijing Institude of Machinery,
Beijing 100085, China)
  Key words: withstanding voltage; test; IPC
  電器裝置、絕緣材料和絕緣結(jié)構(gòu)的耐壓能力,反映了實(shí)際工作狀態(tài)下設(shè)備的安全性能,是一個(gè)對(duì)人體安全有著直接影響的電參數(shù)。因此,進(jìn)行耐壓測(cè)試是檢驗(yàn)安全性能的重要技術(shù)指標(biāo)之一。?
  耐壓測(cè)試的基礎(chǔ)理論是:將一個(gè)產(chǎn)品暴露在非常惡劣的環(huán)境之下,如果產(chǎn)品能夠在這種惡劣的環(huán)境之下能維持正常狀況,就可以確定在正常的環(huán)境之下工作也一定可以維持正常的狀況。耐壓測(cè)試主要達(dá)到如下目的:1.檢查絕緣耐受工作電壓或過電壓的能力;2.檢查電氣設(shè)備絕緣制造或檢修質(zhì)量;3.排除因原材料,加工或運(yùn)輸對(duì)絕緣的影響因素;4.檢查絕緣電氣間隙和爬電距離。
  進(jìn)行耐壓測(cè)試時(shí)(如圖1所示),由高壓發(fā)生器產(chǎn)生一設(shè)定的高電壓,通過控制開關(guān)K的開合,把一個(gè)高于正常工作的電壓加在被測(cè)設(shè)備上進(jìn)行測(cè)試,所加電壓值由高壓發(fā)生器兩端的電壓表測(cè)定,這個(gè)電壓必須持續(xù)一段規(guī)定的時(shí)間,通過觀測(cè)回路中電流表的漏電流值的大小來確定被測(cè)試件的耐壓能力。如果一個(gè)被測(cè)設(shè)備或零部件在規(guī)定的時(shí)間內(nèi),其漏電電流亦保持在規(guī)定的范圍內(nèi),就可以確定這個(gè)被測(cè)設(shè)備在正常條件下能安全地運(yùn)行。
  不同的產(chǎn)品有不同的技術(shù)規(guī)格。對(duì)一般器具來說,耐壓測(cè)試是測(cè)試火線與機(jī)殼之間的漏電流值?;疽?guī)定是:以兩倍于被測(cè)物的工作電壓,再加1000V,作為測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)電壓。有些產(chǎn)品的測(cè)試電壓可能高于兩倍工作電壓加1000V。在IEC61010中規(guī)定,在5s內(nèi)測(cè)試電壓逐漸地上升到所要求的試驗(yàn)電壓值(例如5kV等),然后保持規(guī)定的時(shí)間(5s),同時(shí)測(cè)得回路的漏電流值,以便確定耐壓測(cè)試是否符合測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),再在規(guī)定的時(shí)間(例如5s)內(nèi),將試驗(yàn)電壓逐漸地降至零。[1]?
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  由電源、信號(hào)采集、調(diào)理、A/D轉(zhuǎn)換、SPWM發(fā)生器和計(jì)算機(jī)等構(gòu)成。進(jìn)行耐壓測(cè)試時(shí),計(jì)算機(jī)輸出適當(dāng)?shù)臄?shù)字量,得到對(duì)應(yīng)的SPWM波,從而在變壓器高壓側(cè)產(chǎn)生一規(guī)定的高電壓,該電壓施加在被測(cè)試件上。計(jì)算機(jī)通過電壓、電流傳感器采集試件兩端的電壓和測(cè)試回路的電流參數(shù),通過閉環(huán)控制技術(shù)可以得到測(cè)試規(guī)定的電壓,再通過軟件就可以測(cè)定被測(cè)試件的耐壓能力。本文介紹的新型耐壓測(cè)試系統(tǒng)符合最新IEC61010標(biāo)準(zhǔn),采用工業(yè)計(jì)算機(jī)控制技術(shù);實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)測(cè)試過程,軟件界面友好,操作簡(jiǎn)單,能方便與其他幾項(xiàng)測(cè)試參數(shù)組合進(jìn)行綜合測(cè)試。需要說明的是,耐壓測(cè)試系統(tǒng)是儀器儀表安全性能綜合測(cè)試系統(tǒng)項(xiàng)目的一項(xiàng)指標(biāo)。主要指標(biāo)有:耐壓輸出0~5kV,自動(dòng)升壓(AC);漏電流0.1~20mA,任意設(shè)定(AC);準(zhǔn)確度(1~3)%;測(cè)試時(shí)間5s(IEC61010規(guī)定為5s,但可以根據(jù)需要任意設(shè)定)。耐壓測(cè)試系統(tǒng)圖見圖2。
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  電壓采樣由與高壓變壓器共繞組的傳感器來實(shí)現(xiàn),電壓傳感器的高壓側(cè)在0~5000V之間變化,而采樣低壓輸出側(cè)在0~5V之間變化,它們之間具有較好的線性關(guān)系;采樣電壓進(jìn)入信號(hào)調(diào)理部分之前采用了光隔措施。電流的采樣由串聯(lián)在測(cè)試回路中的電流互感器來完成。由于漏電流最大設(shè)定值在20mA,電流傳感器選用原邊電流是40mA、副邊電流是17mA的電流互感器。調(diào)理好的信號(hào)經(jīng)過采集板卡中的多路模擬開關(guān)、A/D采集到計(jì)算機(jī)后,求出均方根值;最后通過試驗(yàn)對(duì)采集信號(hào)進(jìn)行標(biāo)定后,將相應(yīng)的函數(shù)關(guān)系保存在程序中,然后按照測(cè)試的需要,通過軟件進(jìn)行標(biāo)度變換,求出實(shí)際測(cè)試的電壓值、電流值、測(cè)試時(shí)間等。其中標(biāo)度變換包括放大環(huán)節(jié)處理、阻值轉(zhuǎn)換、傳輸比換算以及系統(tǒng)綜合標(biāo)定等步驟。
2.2計(jì)算機(jī)接口電路及控制邏輯、控制電平接口
  數(shù)據(jù)采集電路采用自行設(shè)計(jì)的ISA板卡,包括地址譯碼電路、總線接口、A/D轉(zhuǎn)換、模擬開關(guān)等部分;可以完成模擬量的輸入/輸出、數(shù)字量的輸入/輸出。
  系統(tǒng)中,通過數(shù)字輸出信號(hào)的高低控制交流接觸器的開合,包括耐壓測(cè)試儀的啟動(dòng)、保護(hù)、停止,以及通過數(shù)字輸出信號(hào)的控制來實(shí)現(xiàn)電源模塊中的SPWM信號(hào)的產(chǎn)生、驅(qū)動(dòng)信號(hào)的啟動(dòng)與封鎖等邏輯控制。另外,系統(tǒng)的操作都是由計(jì)算機(jī)程序來實(shí)現(xiàn)的,而計(jì)算機(jī)總線的數(shù)據(jù)采集卡的數(shù)字I/O信號(hào)邏輯電平不能直接驅(qū)動(dòng)接觸器,因此,在硬件電路上設(shè)計(jì)了相關(guān)的控制電平轉(zhuǎn)換電路,比如:通過固態(tài)繼電器SSR來驅(qū)動(dòng)接?觸器。
2.3電源
  電源部分采用計(jì)算機(jī)閉環(huán)控制技術(shù)。交流電壓U?1(50Hz、220V)經(jīng)過整流、濾波后產(chǎn)生的直流電壓U?2在(0.9~1.414)[2]倍交流電源電壓值范圍內(nèi)變化;單相逆變由IGBT構(gòu)成的H橋來實(shí)現(xiàn),通過控制IGBT的H橋臂的門極觸發(fā)脈沖序列得到所需要的交流電壓。該系統(tǒng)設(shè)計(jì)的脈沖序列采用SPWM波進(jìn)行控制,計(jì)算機(jī)輸出適當(dāng)?shù)臄?shù)字信號(hào),通過電壓采樣環(huán)節(jié)構(gòu)成閉環(huán),輸出基本連續(xù)可調(diào)的交流電壓;在交流輸出側(cè)再加一級(jí)濾波環(huán)節(jié)得到比較理想的正弦波。而控制SPWM波是通過控制調(diào)制度m(正弦波幅值和三角波幅值之比)來實(shí)現(xiàn)的;改變正弦波的幅值,使調(diào)制度m變化(調(diào)制度m具有256個(gè)可變值),從而達(dá)到控制耐壓測(cè)試儀的測(cè)試電壓的目的。逆變輸出的交流電壓U3是0.5倍直流側(cè)電壓與調(diào)制度m的乘積[2]。由于耐壓測(cè)試需要較高的電壓,為此,設(shè)計(jì)了一級(jí)升壓變壓環(huán)節(jié)。通過電壓采樣環(huán)節(jié)和采用計(jì)算機(jī)閉環(huán)控制技術(shù),將設(shè)定的測(cè)試高壓U4施加在被測(cè)設(shè)備上進(jìn)行測(cè)試(圖3)。
  軟件部分主要完成數(shù)據(jù)的采集、存儲(chǔ)、分析、輸出、顯示等任務(wù),當(dāng)然,軟件的實(shí)現(xiàn)過程要體現(xiàn)IEC61010中的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。通過程序?qū)崿F(xiàn)測(cè)試電源部分的準(zhǔn)確控制。待測(cè)試電壓達(dá)到測(cè)試要求值時(shí),啟動(dòng)計(jì)時(shí)開始測(cè)試,測(cè)試結(jié)束后相應(yīng)的測(cè)試指標(biāo)都顯示在軟件界面上,同時(shí)顯示產(chǎn)品是否合格,并產(chǎn)生報(bào)警(測(cè)試主流程圖見圖4)。無論在升壓還是恒壓過程中,發(fā)生被試樣品擊穿現(xiàn)象時(shí)則試驗(yàn)裝置急速降壓至零,并發(fā)出聲光報(bào)警信號(hào),顯示出試樣的實(shí)際擊穿電壓值以及實(shí)際擊穿電流大小。此軟件還可以實(shí)現(xiàn)測(cè)試前自校準(zhǔn)、自診斷,自動(dòng)消除可能的誤差因素或?qū)收蠄?bào)警等[3]、[4]。?
  用測(cè)試軟件控制升壓變壓器產(chǎn)生高電壓,施加在大負(fù)載電阻上,通過電流互感器采集漏電流;在IEC61010標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試要求下,以不同的高壓進(jìn)行多次試驗(yàn)測(cè)試,測(cè)量數(shù)據(jù)重復(fù)精度高;通過變換不同的大負(fù)載電阻,測(cè)量數(shù)據(jù)線性度高;與實(shí)際的耐壓測(cè)試儀器進(jìn)行比對(duì)試驗(yàn),數(shù)據(jù)一致性較好。測(cè)得的漏電流見表1。我們?cè)O(shè)計(jì)的耐壓測(cè)試系統(tǒng)通過計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)測(cè)、控、顯一體化,具有超標(biāo)報(bào)警等功能;軟件界面友好,操作簡(jiǎn)單,容易升級(jí)。

參考文獻(xiàn)?
[2]陳國(guó)呈.PWM變頻調(diào)速及軟開關(guān)電力變換技術(shù)[M].北京:機(jī)械工業(yè)出版社,2001.
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[4]賴壽宏.微型計(jì)算機(jī)控制技術(shù)[M].北京:機(jī)械工業(yè)出版社,2002.
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  故障現(xiàn)象:電路在使用中出現(xiàn)通訊錯(cuò)誤。檢查51本身串口及8251工作皆正常,最后發(fā)現(xiàn)循環(huán)對(duì)6264進(jìn)行讀寫操作時(shí),間或出現(xiàn)錯(cuò)誤。因?yàn)楦鞔谕ㄓ崟r(shí),緩存的數(shù)據(jù)會(huì)存入6264。分析這可能是造成故障的根源。
  進(jìn)一步檢查51和RAM6264之間工作的時(shí)序。根據(jù)ATMEL公司的器件手冊(cè),其寫波形如下:
  故障分析:現(xiàn)在大部分電路采用CMOS器件。而CMOS器件的門限電平(2.0~2.5V)和TTL電平(0.8~2.0V)不一樣。89C52的ALE在輸出時(shí),下降沿有時(shí)會(huì)出現(xiàn)尖峰,而地址鎖存芯片采用了74HCT373。由于兩種電平判斷的差異,ALE的毛刺將數(shù)據(jù)當(dāng)?shù)刂分匦骆i存,造成錯(cuò)誤。
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  由于福祿克公司的199C示波表具有臺(tái)式數(shù)字存儲(chǔ)示波器的性能,200MHz的帶寬,2.5GS/s的采樣率;兩個(gè)浮地隔離的輸入通道;可用電池工作,體積小,重量輕,攜帶方便,故特別適合現(xiàn)場(chǎng)調(diào)試電路,查找故障。
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