基于AVR單片機的激光測距機性能檢測設計方案
筆者設計了一種基于AVR單片機的激光測距機綜合性能檢測設備,借助該設備,對不同型號的激光測距機完成測距精度、測距能力、測距邏輯、單脈沖能量等的數(shù)字化檢測,大大提高了檢測效率和測試精度。
1 設計方案
本方案的基本思想基于模擬激光測距機的工作原理和激光傳輸過程,激光測距機在工作時,首先從其發(fā)射通道發(fā)射一激光脈沖,經(jīng)過大氣傳輸照射在被測物體上,然后漫反射,激光測距機的接收通道接收到漫反射的激光回波,激光測距機內部安裝有激光脈沖的發(fā)射、接收和計時模塊,根據(jù)激光脈沖從發(fā)射到返回的時間可以計算出其走過的距離,從而得到被測目標和激光測距機之間的距離。而本方案的綜合性能檢測設備與激光測距機的接收、發(fā)射通道相對應,分別提供發(fā)射、接收通道,檢測設備內部也相應設置計時模塊,實現(xiàn)相對應一定距離上的目標回波時間、能量的雙重模擬,即可由檢測設備代替目標模擬回波脈沖,實現(xiàn)激光測距機測距性能的自動化、數(shù)字化檢測,綜合性能檢測設備總體構成如圖1所示。
2 系統(tǒng)結構框圖
綜合性能檢測設備電路原理框圖如圖2所示。
主要包括微處理器系統(tǒng)、面板顯示及按鍵控制電路、精密延時信號發(fā)生器、窄脈沖功率驅動及發(fā)光強度控制電路、精密測時器、激光脈沖同步器、激光脈沖能量探測器及前置放大器、高速數(shù)據(jù)采集轉換器及打印機控制電路等。
3 關鍵技術
3.1 “雙頻雙光路耦合”法實現(xiàn)激光測距性能的綜合測試
本方案的基本思想是將目標漫反射的遠方目標回波由半導體激光器模擬,當模擬該回波的光譜和空間特性后,即可驅動激光器的邏輯單元工作。而激光脈沖相應距離上的飛行時間則由精密延時模塊實現(xiàn)。這樣將激光脈沖在空間的延遲特性轉換為時間特性,從而將遠方目標從一定距離拉近到被測儀器前端,代替了激光測距機性能檢測必須要有遠方的實際合作目標的傳統(tǒng)檢測方法。如圖3所示。
3.2 測距邏輯的檢測
當檢測設備接收到“取樣”脈沖后即控制精密延時器開始計時,AVR單片機控制精密延時器分別發(fā)出1個、2個、3個模擬回波脈沖信號,這幾個模擬回波在時間上對應不同的目標距離,這樣在激光測距機的接收通道上就可以接收到幾個激光脈沖,操作激光測距機的“選通”旋鈕,分別對其顯示,即可判斷激光測距機的測距邏輯和距離選通功能是否正常,具體實現(xiàn)方法見圖4。
3.3 測距能力檢測
本方案對激光測距機測程的檢測,首先通過AVR單片機設置精密延時器延時時間為被測激光測距機測程對應的激光脈沖運行時間,當檢測設備接收到“取樣”脈沖后即控制精密延時器開始計時,計時結束后,AVR單片機控制精密延時器分別發(fā)出一個模擬回波脈沖信號,同時,AVR單片機發(fā)光強度控制電路控制半導體激光器發(fā)出激光脈沖的能量,使該能量相當于對應距離目標回波的能量,這樣在激光測距機的接收通道上就可以對應測程上目標回波脈沖,根據(jù)激光測距機的顯示結果,即可判斷激光測距機在光軸正常情況下可否滿足測程指標要求。
3.4 基于技術的精密測時電路模塊
本綜合性能檢測設備采取恒比定時技術研制視頻分離模塊,實現(xiàn)了精密延時及遠方目標回波的精密模擬,原理功能框圖如圖5所示。
3.5 具有自主知識產(chǎn)權的“雙向調節(jié)”式多維調整平臺
綜合性能檢測設備采用具有自主知識產(chǎn)權的“雙向調節(jié)”式調整平臺,實現(xiàn)了激光發(fā)射和接收通道五維可調和快速轉換,使檢測接口對各類激光測距機具有廣泛的通用性。在此之前的激光測距性能檢測都是對某一型號裝備都要研制專用的機械接口,因為各型號的激光測距機在發(fā)射通道和接收通道的口徑大小、水平方向位置、高低方向位置上有很大的差別,甚至在左右位置配置上也有所不同。本課題首次研制成功了“雙向調節(jié)”式調整平臺,使發(fā)射通道和接收通道在高低、水平方向上可以大范圍調節(jié),同時左右位置可以互換,使本檢測設備對各類平臺和單體的激光測距模塊具有廣泛的通用性。
4 結語
該設備可改變以前激光測距性能檢測必須到室外對目標靶進行檢測,并且受到天氣條件限制的現(xiàn)狀,使技術普查和日常維護在室內就可以方便完成,檢測結果數(shù)字化顯示,大大提高了檢測效率和測試精度。檢測設備配備三維調節(jié)平臺,激光發(fā)射和接收裝置位置可以任意調節(jié),并可互換,使調整瞄準非常方便。對不同型號的激光測距機都可以進行檢測。檢測設備還可對激光脈沖能量進行檢測,作為激光能量計使用,可以對各種激光發(fā)射裝備的輸出激光能量進行快速檢測。
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