一種打破教科書(shū)上的按鍵檢測(cè)方法

傳統(tǒng)的教科書(shū)，無(wú)一例外都是采用delay的方法檢測(cè)按鍵，但是這種方法有很多缺陷，今天發(fā)一貼說(shuō)說(shuō)，各位大俠不要見(jiàn)笑，初級(jí)菜鳥(niǎo)可以借鑒。

傳統(tǒng)的處理方法：在第一次檢測(cè)到有鍵按下時(shí)，執(zhí)行一段延時(shí) 10ms 的子程序以后再確認(rèn)該按鍵電平是否能保持閉合狀態(tài)的電平，如果保持閉合狀態(tài)電平，則確認(rèn)為真正有鍵按下，從而消除抖動(dòng)的影響.

缺點(diǎn)：

1. 傳統(tǒng)的處理方法執(zhí)行 10ms 的延時(shí)子程序，會(huì)降低程序的實(shí)時(shí)性。

2. 傳統(tǒng)的處理方法一次按鍵動(dòng)作的確認(rèn)，只檢測(cè)兩次，在高抗干擾環(huán)境下的會(huì)有按鍵的誤動(dòng)作。

建議：

1. 建議彈跳時(shí)間為 100ms 才可有效通過(guò) EFT 雜訊認(rèn)證。

2. 建議主程序中連續(xù)檢查 100ms 的穩(wěn)定低電平才可認(rèn)定按鍵按下成立。

3. 相同道理連續(xù)檢查 100ms 高電平才可認(rèn)定按鍵彈起。

4. 為了保證 MCU 的執(zhí)行效率，按鍵的檢測(cè)盡量不要使用 Delay 的方式，可以考慮采用輪詢檢測(cè)和計(jì)時(shí)器配合的方式進(jìn)行。

方法如下：

在發(fā)現(xiàn)低電平后，我們每一個(gè)循環(huán)(時(shí)基)去讀取一次電平，并與上次進(jìn)行比較，若是相同則計(jì)數(shù)器加 1，直至達(dá)到足夠的次數(shù)就進(jìn)行處理，否則計(jì)數(shù)器清零，重新開(kāi)始。