如何搭建電磁干擾測試系統(tǒng) EMC自動測量的標(biāo)準(zhǔn)化進(jìn)展
概述
本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/226991.htm本文描述了如何搭建一個自動的電磁干擾(EMI)測試系統(tǒng),重點介紹了測試過程中出現(xiàn)的問題及其相應(yīng)解決方法,并介紹了如何正確的配置系統(tǒng)及其參數(shù)。為規(guī)避錯誤及不同測試環(huán)境和測試員之間的差異,自動化EMI測量的標(biāo)準(zhǔn)化是很有必要的。
1.關(guān)于自動化電磁兼容(EMC)測量
1.1 效率
具有合適的測試及控制方法的自動EMC測量可提高實驗室效率、避免浪費(fèi)時間。通過自動測量可遠(yuǎn)離那些大量煩瑣冗余的重復(fù)性EMI測量。
1.2 一致性
完整的測試系統(tǒng)消除了因人工讀寫和記錄引起的誤差,而且軟件可以保持與儀器設(shè)置的一致性。因此,自動EMC測試系統(tǒng)能夠給出高度可重現(xiàn)的測試結(jié)果。 從根本上來說,不管是人工測量還是軟件控制下的測量,幅射電平的精確度是沒有區(qū)別的。在兩種情形下,測量的不確定性來自測試裝置所使用的設(shè)備的精度標(biāo)準(zhǔn)。
另一方面,軟件控制下的儀器的不同設(shè)置可產(chǎn)生不同的測試結(jié)果。所以,與自動EMI測量相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)正在興起。在測量過程中,我們必須根據(jù)CISPR16-2標(biāo)準(zhǔn)來配置軟件和儀器。
為確保測試結(jié)果的有效性,測試系統(tǒng)具有校正因子及自動監(jiān)視功能。
1.3 測試結(jié)果和數(shù)據(jù)的管理
對軟件來說能夠非常方便和高效地創(chuàng)建一個數(shù)據(jù)庫,以便保存和檢查測試結(jié)果。
1.4 自動測量期間的問題
盡管使用自動測量有許多優(yōu)點,但我們?nèi)孕鑿?qiáng)調(diào)可能導(dǎo)致錯誤結(jié)果的一些要點,諸如頻率掃描過程中的問題、測量時間設(shè)置、關(guān)鍵數(shù)據(jù)簡化與篩選、天線高度、校準(zhǔn)及修正。
2. 用于EMI測量的掃描規(guī)則—參數(shù)配置
2.1 EMI測試的頻率掃描步驟
在EMI測量過程中,測試員時常關(guān)注是否忽視了一些頻點。在接收機(jī)模式中,測試頻率按步進(jìn)方式(逐點)掃描,因此為了避免忽略頻點,如何設(shè)置步距是 非常重要的。在頻譜分析儀模式中,測試頻率是連續(xù)掃描的,但顯示在頻譜儀上的頻點數(shù)卻是有限的,因此如何定位峰值的真實頻率至關(guān)重要。
在接收機(jī)模式中,該如何設(shè)置步距呢?步距必須小于中頻(IF)帶寬的一半,通常我們使用IF帶寬的一半。
依據(jù)EMC標(biāo)準(zhǔn),接收機(jī)的IF帶寬定義為-6dB帶寬。如果我們使用不合適的步距,則會有一些峰值丟失或出現(xiàn)錯誤結(jié)果。例如,若步距等于IF帶寬, 一些頻點(兩相鄰測試點的中間)的測試結(jié)果將比正確的測量值少6dB(圖1);若步距少于1/2 IF帶寬,則錯誤將會小于1dB(圖2)。
依據(jù)EMC標(biāo)準(zhǔn),我們可以使用帶有-6dB IF帶寬和預(yù)選擇器的頻譜分析儀。在分析儀模式中,顯示頻點的數(shù)目將影響測試結(jié)果。如果我們想在結(jié)果曲線上知道準(zhǔn)確的頻率值,則需要做局部掃描(放大頻率 軸)。在局部掃描過程中,須設(shè)置為SPAN/(頻點數(shù))1/2 RBW。
2.2 測量時間和掃描速率
測量與掃描接收機(jī)的測量次數(shù)與掃描速率應(yīng)設(shè)置為可測量最大幅射電平。
在預(yù)掃描期間,通常使用最小掃描與保持時間。
針對峰值點的最終測量,每一頻率的保持時間需足夠長以便測量信號峰值。
3.EMI自
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