新聞中心

EEPW首頁(yè) > 嵌入式系統(tǒng) > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > USB3.0靜電放電防護(hù)的最佳解決方案

USB3.0靜電放電防護(hù)的最佳解決方案

作者: 時(shí)間:2011-05-26 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
在今年電腦硬體的熱門(mén)話題中,絕對(duì)是最受矚目的。自從西元2000年USB2.0釋出后,這項(xiàng)應(yīng)用已深植各項(xiàng)電子產(chǎn)品中,在各式各樣的連接埠規(guī)格中, USB應(yīng)可算是使用最廣泛的了。的資料傳輸速率比現(xiàn)有的USB2.0快上十倍,剛好迎合日益大增的高畫(huà)質(zhì)、大容量?jī)?chǔ)存需求。無(wú)論是外接式硬碟、隨身碟、相機(jī)記憶卡均可大幅縮減儲(chǔ)存的時(shí)間。除了在電腦上的應(yīng)用之外,手機(jī)與相機(jī)的傳輸也幾乎都是使用USB規(guī)格,甚至許多產(chǎn)品更直接把充電端與USB結(jié)合,難怪各界皆如此期待的廣泛使用,好讓使用者享受4.8Gbps的傳輸快感。USB3.0介面分成主機(jī)(Host)端與裝置(Device)端,必須先有Host端的支援,周邊的Device端才能搭配;而晶片大廠英特爾及超微自2010年起亦已開(kāi)始研發(fā)將支援USB3.0為南橋規(guī)格,加上微軟Windows 7也確定研發(fā)支援USB3.0的drivers,預(yù)估USB 3.0取代USB2.0已是既定趨勢(shì)。

為實(shí)現(xiàn)十倍于USB2.0的傳輸速度,USB 3.0控制晶片必須使用更先進(jìn)的制程來(lái)設(shè)計(jì)與制造,但這也造成USB 3.0的控制晶片對(duì)ESD的耐受能力快速下降。除此之外,USB 3.0會(huì)被大量用來(lái)傳輸影音資料,對(duì)資料傳輸容錯(cuò)率會(huì)有越嚴(yán)格的要求,使得使用額外的保護(hù)元件來(lái)防止ESD事件對(duì)資料傳輸?shù)母蓴_變得很必要。除了傳輸速度的要求之外,另一個(gè)使用者最普遍的USB應(yīng)用就是隨插即用、隨拔即關(guān)。然而這個(gè)熱插拔動(dòng)作卻也經(jīng)常是造成電子系統(tǒng)工作異常、甚至造成USB連接埠元件毀壞的元兇,因?yàn)槿珈o電放電(ESD)等暫態(tài)雜訊就是來(lái)自這個(gè)熱插拔動(dòng)作。

  要用在USB3.0連接埠的ESD防護(hù)元件必須同時(shí)符合下面三項(xiàng)要求:

  第一、ESD防護(hù)元件本身的寄生電容必須要小,為不影響USB3.0 4.8Gbps的傳輸速率,其寄生電容必須小于0.3pF。

  第二、防護(hù)元件對(duì)ESD的耐受能力必須要高,最少要能承受IEC 61000-4-2接觸模式8kV ESD的轟擊。

  第三、也是最重要的一項(xiàng)要求,防護(hù)元件在ESD事件發(fā)生期間所提供的箝制電壓必須要夠低,不能造成傳輸資料的損壞。

  以上三項(xiàng)要求缺一不可,缺少了任何一個(gè)要項(xiàng),USB3.0連接埠就無(wú)法被完善地保護(hù)。然而要同時(shí)符合以上三項(xiàng)要求的ESD防護(hù)元件,其本身的設(shè)計(jì)難度就相當(dāng)高。

  晶焱科技擁有先進(jìn)的ESD防護(hù)設(shè)計(jì)技術(shù),特別針對(duì)USB3.0的防護(hù)需求,推出AZ1065系列的ESD防護(hù)元件。為避免防護(hù)元件的寄生電容影響USB3.0 4.8Gbps差動(dòng)(Differential)訊號(hào)的高速傳輸,AZ1065的寄生電容已低于0.3pF。在極低的電容特性下,任一接腳在室溫時(shí)仍皆可承受IEC 61000-4-2接觸模式10kV ESD的轟擊。最重要是,以相同寄生電容來(lái)比較,AZ1065擁有最低的ESD箝制電壓,可有效防止資料傳輸時(shí)被ESD事件所干擾,才能讓擁有USB 3.0連接埠的電子系統(tǒng)有機(jī)會(huì)通過(guò)Class-A的IEC 61000-4-2系統(tǒng)級(jí)靜電放電保護(hù)測(cè)試。利用傳輸線脈沖系統(tǒng)(TLP)測(cè)量AZ1065后,可以觀察到如圖一的ESD箝制電壓特性。在IEC 61000-4-2接觸模式6kV的ESD沖擊下(TLP電流等效約為17A),箝制電壓僅有13.4V,將得以有效避免系統(tǒng)產(chǎn)品于靜電測(cè)試時(shí)發(fā)生資料錯(cuò)誤、當(dāng)機(jī)甚至損壞的情況。


  附圖一 AZ1065-06F的ESD箝制電壓測(cè)試曲線

  在電子產(chǎn)品的USB3.0應(yīng)用中,AZ1065-06F將是的最佳解決方案。圖二所示即為裝有ESD防護(hù)元件AZ1065-06F的USB3.0連接埠順利通過(guò)5Gbps的Eye Diagram測(cè)試結(jié)果。


  附圖二 AZ1065-06F 5Gbps的Eye Diagram測(cè)試結(jié)果

  在電子產(chǎn)品朝向輕薄短小的發(fā)展趨勢(shì)下,產(chǎn)品的印刷電路板(PCB)也隨之越來(lái)越小,但在產(chǎn)品功能強(qiáng)大的要求之下,線路也變得更加復(fù)雜,因此PCB的面積已變得寸土寸金,造成產(chǎn)品設(shè)計(jì)時(shí)相當(dāng)大的困擾。AZ1065系列產(chǎn)品提供六個(gè)極低電容的接腳,可同時(shí)保護(hù)USB3.0的兩組差動(dòng)對(duì)(TX and RX)及USB2.0的差動(dòng)對(duì)(D+ and D-),具有縮小PCB面積與降低布局(Layout)復(fù)雜度等優(yōu)點(diǎn),可節(jié)省系統(tǒng)成本。更特別的是AZ1065-06F首先采用交錯(cuò)型式的接腳,以提供PCB Layout時(shí)可利用穿透式(Feedthrough)的設(shè)計(jì),圖三即為AZ1065-06F的接線方式。此種首創(chuàng)的元件接腳方式將可免除繞線時(shí)的諸多困擾,不但對(duì)縮短產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段的PCB Layout工作有相當(dāng)大的幫助,同時(shí)差動(dòng)訊號(hào)線的Layout也將更為對(duì)稱,減少訊號(hào)傳輸錯(cuò)誤的機(jī)會(huì)。


  附圖三 以AZ1065-06F作為USB3.0 ESD防護(hù),線路可利用穿透式Layout達(dá)成



關(guān)鍵詞: USB3.0 靜電放電防護(hù)

評(píng)論


相關(guān)推薦

技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉