安捷倫最新 PXI 功能測(cè)試系統(tǒng)亮相Nepcon
安捷倫科技公司日前宣布,旗下最新款 PXI 功能測(cè)試系統(tǒng)、邊界掃描分析儀以及最新在線測(cè)試系統(tǒng)將亮相 NEPCON 中國(guó)電子展(NEPCON EMT China 2014)。本屆展會(huì)將于 4 月 23 日至 25 日在上海世博展覽館舉行,安捷倫在 1G60 號(hào)展位。
本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/245842.htm安捷倫專(zhuān)家將展示:
· 新型 Agilent TS-8989A,業(yè)內(nèi)唯一一款經(jīng)濟(jì)高效、完全集成、擁有大電流開(kāi)關(guān)的PXI功能測(cè)試系統(tǒng),適用于汽車(chē)電子功能測(cè)試。
· 功能強(qiáng)大的 TS-5400 PXI 系列功能測(cè)試系統(tǒng),可以為汽車(chē)、航空航天與國(guó)防以及工業(yè)控制制造商提供現(xiàn)成可用的 PXI 硬件和軟件平臺(tái),并且支持單一或多個(gè)被測(cè)器件測(cè)試。
· 多功能 x1149 臺(tái)式邊界掃描分析儀,榮獲 EDN 雜志“2014 年最佳測(cè)試獎(jiǎng)”。x1149 提供快速測(cè)試周轉(zhuǎn)速度和廣泛的測(cè)試功能,可涵蓋從設(shè)計(jì)與驗(yàn)證到新產(chǎn)品引進(jìn)與批量生產(chǎn)的各個(gè)階段。x1149 演示還包括固態(tài)硬盤(pán)測(cè)試和 Intel Silicon View 技術(shù)。
· 低成本 Medalist i1000D ICT,市場(chǎng)上體積最小的在線測(cè)試系統(tǒng),配有電路板自動(dòng)裝載設(shè)備,可自動(dòng)對(duì)智能手機(jī)、LED 以及汽車(chē)保險(xiǎn)絲盒等器件執(zhí)行制造測(cè)試。i1000D 提供數(shù)字測(cè)試、邊界掃描和串行編程功能。
· 完全集成的 Medalist i3070 系列 5 在線測(cè)試系統(tǒng),使用短線夾具,憑借出色的測(cè)試移植性和可重復(fù)性而倍受客戶青睞。該款屢獲殊榮的套件產(chǎn)品支持受限接入測(cè)試和 LED 測(cè)試,并配有簡(jiǎn)單易用的界面。
· Agilent i1000D 診斷測(cè)試儀,一款定制模塊化 ICT 儀器,適用于研發(fā)、維護(hù)和并行功能測(cè)試,能夠加快原型啟動(dòng)速度并提供精確的維修診斷。
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