Xradia推出創(chuàng)新性3D X光成像設備UltraXRM-L200

Xradia公司近日宣布推出新款基于實驗室使用的計算機斷層掃描（CT）系統(tǒng)---UltraXRM-L200，該掃描系統(tǒng)在實驗室環(huán)境下能提供50納米分辨率的類似同步的三維成像。UltraXRM-L200是超高分辨率UltraXRM?納米系列X射線顯微鏡的最新成員。這款顯微鏡采用了最初研究用于同步研究裝置的最先進的X射線光學組件，以實現(xiàn)實驗室環(huán)境下的一流分辨率和效率。

“我們的承諾是不斷開發(fā)推動研究進步的系統(tǒng)，”Xradia公司創(chuàng)建人、總裁兼首席技術官Wenbing Yun博士表示。“最終，在實驗室環(huán)境以及在同步裝置中，我們在這一領域占有強大的領導地位，我們希望能幫助研究人員專注于他們自己的研究，而不是將他們的時間和資源都花費到打造他們的使用工具上。只有Xradia公司能商業(yè)化地供應這一分辨率(50納米)的X射線CT顯微鏡。 ”

Xradia公司的UltraXRM- L200顯微鏡將一個采用了專利的X射線光學部件的高通量實驗室X光光源整合到了一個獨立的CT掃描儀中。UltraXRM- L200的應用范圍不斷增大，包括應用于先進材料的開發(fā)、軟組織和骨骼的生命科學研究、對巖石孔隙進行研究以分析石油和天然氣鉆探的可行性模型，以及用于半導體封裝失效分析。

據(jù)弗吉尼亞理工大學生物醫(yī)學成像系教授兼主任Ge Wang博士表示，“Xradia公司的超高分辨率成像系統(tǒng)為我們提供了有關結構內部的詳細三維立體數(shù)據(jù)，并且不需要把相關的區(qū)域進行切割或切片---這擴展了所有研究實驗室的能力，因為我們可以在各種條件下測試，包括時差(time-lapsed)四維成像。UltraXRM-L200將有助于填補現(xiàn)有的高分辨率成像設備(如 SEM, TEM和AFM)與光學顯微鏡以及傳統(tǒng)的微型電腦成像系統(tǒng)之間的空白。”