寶鋼厚板軋機(jī)厚度及凸度測(cè)量技術(shù)
寶鋼厚板廠軋機(jī)測(cè)厚儀和凸度儀是厚板軋制過程主要產(chǎn)品質(zhì)量特性(厚度和凸度)控制系統(tǒng)的測(cè)量裝置,設(shè)計(jì)產(chǎn)品寬度范圍到5 m,厚度范圍5~125 mm。由于產(chǎn)品精度要求,對(duì)于厚度和凸度控制有較高的功能和精度要求,對(duì)測(cè)量系統(tǒng)的測(cè)厚儀和凸度儀的實(shí)時(shí)性和準(zhǔn)確度就有相應(yīng)需求,因此采用合適的測(cè)量方法、對(duì)測(cè)量過程可能的影響量的補(bǔ)償技術(shù)等都是該測(cè)量系統(tǒng)的特點(diǎn),同時(shí)測(cè)量裝置本身的技術(shù)特點(diǎn)也保證了它的可靠性。
1 厚度及凸度測(cè)量系統(tǒng)構(gòu)成
寶鋼厚板廠軋機(jī)測(cè)厚儀和凸度儀是從德國(guó)IMS 公司引進(jìn)的放射性同位素厚度測(cè)量系統(tǒng)。與其它公司以及寶鋼以前使用的測(cè)厚儀相比較,IMS 公司新的設(shè)備采用了Interbus 總線、測(cè)量信號(hào)數(shù)字化和計(jì)算機(jī)網(wǎng)絡(luò)以及測(cè)量通道冗余技術(shù),整個(gè)系統(tǒng)的架構(gòu)清晰、緊湊,簡(jiǎn)單而又高效,代表了測(cè)厚儀及其它特殊儀表最新發(fā)展方向。
1.1 厚度及凸度測(cè)量原理
放射性同位素(137Cs)核衰變產(chǎn)生的γ 射線穿透被測(cè)物時(shí),由于散射和吸收而產(chǎn)生強(qiáng)度的衰減,衰減的程度與被測(cè)物種類、厚度等因素有關(guān),關(guān)系如公式1: 式中:I 表示射線穿過被測(cè)物時(shí)的強(qiáng)度;I0 表示射線未穿過被測(cè)物時(shí)的強(qiáng)度;μ 表示被測(cè)物的質(zhì)量吸收系數(shù);ρ表示被測(cè)物的密度;dh 表示被測(cè)物的厚度。
在實(shí)際應(yīng)用過程中,鋼種的不同會(huì)導(dǎo)致其密度(ρ)不同,相應(yīng)的質(zhì)量吸收系數(shù)(μ)也會(huì)發(fā)生改變,對(duì)于一種具體的鋼種,只要知道其中的化學(xué)成分含量,可以利用式(4)進(jìn)行計(jì)算得到合金補(bǔ)償系數(shù)。 式中:Ai 為鋼種合金補(bǔ)償系數(shù);Ai(ρ)為鋼種密度的補(bǔ)償系數(shù);Ai(Z)為鋼種質(zhì)量吸收系數(shù)的補(bǔ)償系數(shù);ρFe=7.853 8g/cm3,為鐵的標(biāo)準(zhǔn)密度;ρx 為元素X 的密度;μx 為X 元素的質(zhì)量吸收系數(shù);μFe 為鐵元素的質(zhì)量吸收系數(shù);G%(x)為X 元素在帶鋼中的含量。
在厚板軋制過程中,被測(cè)的厚板實(shí)際上是處于高溫狀態(tài)下,產(chǎn)品厚度需要測(cè)厚儀輸出的是冷態(tài)時(shí)的厚度,因此需要將熱態(tài)厚度根據(jù)式(5)轉(zhuǎn)換成冷態(tài)厚度。
(5)
式中:dh 為溫度為t 時(shí)厚板的厚度(熱態(tài)厚度);d0 為溫度為t0 時(shí)厚板的溫度(通常為常溫,冷態(tài)厚度);α:厚板的線性膨脹系數(shù)。綜合式(1)、式(4)、式(5),經(jīng)過補(bǔ)償后的鋼板冷態(tài)厚度為: 1.2 系統(tǒng)的構(gòu)成
整個(gè)厚度及凸度測(cè)量系統(tǒng)由兩臺(tái)設(shè)備構(gòu)成,分別是單點(diǎn)測(cè)厚儀和凸度儀。每臺(tái)設(shè)備主要部件有安裝在現(xiàn)場(chǎng)的檢測(cè)單元包括50 居里137Cs 放射源、電離室、驅(qū)動(dòng)裝置等以及中央控制系統(tǒng)組成。測(cè)厚儀和凸度儀共用1 套中央控制系統(tǒng)包括中央處理單元、Interbus 總線模塊等。此外還有一些輔助設(shè)備,如冷卻水控制單元、鼓風(fēng)機(jī)、壓縮空氣過濾裝置。單點(diǎn)測(cè)厚儀現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)單元直接安裝在軋機(jī)軋輥和立輥之間,由于安裝空間的限制,采用固定安裝方式;凸度儀現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)單元集中于可驅(qū)動(dòng)的C 型架內(nèi)安裝在軋機(jī)出口,離軋機(jī)機(jī)架約10 m 遠(yuǎn),采用三組放射源和探測(cè)器,如圖1 所示,分別定義為CS 側(cè)、CL 側(cè)和DS 側(cè),其中CL 探測(cè)器固定測(cè)量厚板中心,CS側(cè)和DS 側(cè)探測(cè)器既可以設(shè)定要求測(cè)量厚板的邊部厚度,也可以采用連續(xù)掃描方式測(cè)量厚板邊部到中心的厚度,根據(jù)3 組探測(cè)器的測(cè)量結(jié)果形成厚板的凸度、楔度。 單點(diǎn)測(cè)厚儀1 組探測(cè)器共有8 個(gè)測(cè)量通道(電離室),凸度儀每組探測(cè)器有4 個(gè)測(cè)量通道,共12 個(gè)測(cè)量通道。當(dāng)射線穿過厚板進(jìn)入電離室時(shí)產(chǎn)生的微電流信號(hào)在測(cè)量頭內(nèi)部進(jìn)行兩級(jí)放大處理,并轉(zhuǎn)換成數(shù)字電壓信號(hào)。
評(píng)論