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高性能接觸電阻測試系統(tǒng)

作者: 時間:2012-07-11 來源:網絡 收藏

利用共用端子測量32個觸點

  圖 2,利用共用端子測量32個觸點

  在有些情況下,可能需要以獨特的串聯(lián)方式將開關的數(shù)量減少一半,如圖 2所示。在本例中,所有的接片都被串聯(lián)在一起,每個底座均被連接到一個雙刀開關。在這種情況下,帶有7701型低電壓32通道差分多路選通模塊的2750型多用表/開關系統(tǒng)可測試32個觸點。利用2750型主機中的5塊7701型模塊,可測試最多160個觸點。

  圖3所示為一個高性能系統(tǒng),能夠以相當小的電流(100 μA)測量非常低的電阻(μΩ)。在該系統(tǒng)中,2400型源表輸出測試電流,2182A型納伏表測量每個觸點上的壓降。2182A和2400均通過7011型40通道多路選通卡切換至每個觸點。2400型提供了一個可編程的電壓跟隨限值,所以系統(tǒng)能夠確保干電路測試條件。

高性能接觸電阻測試系統(tǒng)圖示

  圖3,高性能測試系統(tǒng)

  一塊7011型和一個7001型開關主機可切換20個觸點。7011型被配置為兩組20通道。利用主機的4到開關模式,兩組可被同時打開或閉合。

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