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系統(tǒng)電源噪聲的頻譜分析及其輻射發(fā)射趨勢(shì)預(yù)測(cè)

作者: 時(shí)間:2012-03-23 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

若要得到更低頻率的以及以更高的分辨率進(jìn)行觀察,則需要示波器有能力分析很長(zhǎng)的數(shù)據(jù)以及以更高的采樣率進(jìn)行采樣,另外當(dāng)示波器在長(zhǎng)存儲(chǔ)高采樣狀態(tài)下進(jìn)行分析,示波器的速度將會(huì)受到很大的影響。當(dāng)前新出的WP 7 ZI以及WM 8 ZI系列示波器憑借頂級(jí)的CPU(四核)硬件系統(tǒng)以及64Vista操作系統(tǒng),再加上獨(dú)有的XstreamII信號(hào)處理技術(shù),使得其在長(zhǎng)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)處理方面速度優(yōu)勢(shì)非常明顯,對(duì)100MS甚至更長(zhǎng)的數(shù)據(jù)進(jìn)行運(yùn)算只需要數(shù)秒的時(shí)間。

二、力科示波器在分析方面的特

1、最長(zhǎng)的可分析存儲(chǔ)深

為了觀察到較低頻段的信號(hào)以及得到較高的分辨率,需要采集足夠多的數(shù)據(jù)進(jìn)行FFT分析。那么是不是采集存儲(chǔ)深度越深,用于FFT分析的數(shù)據(jù)就越多呢?其實(shí)情況并非如此,很多示波器可用于FFT運(yùn)算的點(diǎn)數(shù)是有一定的限制的,也就是說(shuō)雖然能夠采集到很多數(shù)據(jù),但是只有一部分可以真正的用于FFT運(yùn)算,通常把能夠真正用于運(yùn)算的最大數(shù)據(jù)存儲(chǔ)深度叫做可分析存儲(chǔ)深度。當(dāng)然,對(duì)于需要用第三方軟件來(lái)處理數(shù)據(jù)而只需要借助示波器來(lái)捕獲的話,更大的采集內(nèi)存能夠提供更多的采集數(shù)據(jù),也就是說(shuō)采集內(nèi)存深度在此時(shí)才更有意義。力科示波器的最大采集存儲(chǔ)深度即為最大可分析存儲(chǔ)深度,最長(zhǎng)可達(dá)到512MS的可分析存儲(chǔ)深度。

2、可以提供更高的采樣率

新出的WP 7 ZI系列示波器可以提供在同類別示波器中最高的采樣率,可達(dá)40GS/S;WM 8 ZI系列示波器則可以提供高達(dá)80GS/S的采樣率。

3、極快的處理速度

對(duì)于100MS甚至更深的數(shù)據(jù)量進(jìn)行FFT運(yùn)算通常只需要數(shù)秒的時(shí)間;對(duì)于100MS的數(shù)據(jù)進(jìn)行眼圖測(cè)試,通常也只需20秒左右的時(shí)間。

4、非常便捷的高級(jí)頻譜分析儀選件

Lecroy的最新款示波器WP760 ZI新增了一個(gè)頻譜分析儀選件,該選件的操作界面非常類似于RS等頻譜儀,可以很便捷的設(shè)定center frequency、span范圍等,且可以實(shí)時(shí)顯示峰值點(diǎn)的頻率值及對(duì)應(yīng)幅度值大小,操作起來(lái)非常方便簡(jiǎn)潔,界面如下圖4所示:

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4 Lecroy WP760ZI新增的頻譜分析儀選件

三、某系統(tǒng)的測(cè)試及其對(duì)應(yīng)的電源噪聲頻譜測(cè)試

下圖5為某一系統(tǒng)的結(jié)果圖,我們看到在低頻段(30MHZ-70MHZ范圍以內(nèi))能量有點(diǎn)超標(biāo):

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5 某系統(tǒng)的

測(cè)得相應(yīng)電源平面上的電源噪聲頻譜為:

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6 某系統(tǒng)的電源噪聲頻譜圖

從電源的FFT頻譜分析圖上可以比較明顯的看到,確實(shí)在低頻段30MHZ左右出現(xiàn)明顯的峰值,和實(shí)際的輻射發(fā)射測(cè)試結(jié)果確有一定的對(duì)應(yīng)關(guān)系。

四、總結(jié)

本文嘗試從單板或者系統(tǒng)的電源噪聲的頻譜分析來(lái)推測(cè)單板或者系統(tǒng)的輻射發(fā)射趨勢(shì),僅僅提供一些嘗試,更有說(shuō)服力的結(jié)論還需要進(jìn)一步的試驗(yàn)和積累分析。同時(shí),借助此嘗試介紹了Lecroy在長(zhǎng)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)分析方面的一些特點(diǎn),僅供參考。

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