iNEMI解決電路板的質(zhì)量問(wèn)題

　　推廣邊界掃描技術(shù)

　　邊界掃描技術(shù)的演變幾乎可追溯到二十年前，其目的是為了解決擁擠復(fù)雜的PCB上邏輯節(jié)點(diǎn)的訪問(wèn)空間（access）不斷減少的問(wèn)題（圖2）。由于該技術(shù)的設(shè)計(jì)時(shí)間長(zhǎng)，占用大量寶貴的空間，加之人們認(rèn)為采用邊界掃描對(duì)電路板“性能”的影響即使難以確定，也是不利影響，所以設(shè)計(jì)者一直抵制使用該技術(shù)。

　　電路板技術(shù)的演變?nèi)找嫫仁箿y(cè)試工程師在電路板設(shè)計(jì)中采用邊界掃描。因此，電路板測(cè)試TIG啟動(dòng)一個(gè)項(xiàng)目，以期確定元件制造商的接受程度，并制定策略來(lái)提高接受程度和鼓勵(lì)元件級(jí)方案的標(biāo)準(zhǔn)化。由于思科產(chǎn)品和流程的本質(zhì)決定，很久之前邊界掃描就成為其一個(gè)重中之重的問(wèn)題，所以該公司的Steve Butkovich被選為項(xiàng)目負(fù)責(zé)人。其他參與者包括原始設(shè)備制造商（OEM）和合同制造商等各家公司的代表。

　　Butkovich評(píng)論說(shuō)：“當(dāng)被問(wèn)到他們?yōu)槭裁床桓鼰崆榈刂С诌@一技術(shù)時(shí)，元件供應(yīng)商稱沒(méi)有市場(chǎng)，客戶沒(méi)有足夠的需求。我們項(xiàng)目的目的之一就是在行業(yè)論壇中向供應(yīng)商提出對(duì)該技術(shù)的需求，而非只是由幾家個(gè)別公司提出。通過(guò)采用這種方式，我們賦予這種技術(shù)更大的意義?！?P>　　Butkovich表示，器件技術(shù)的進(jìn)步大大減弱設(shè)計(jì)者早期爭(zhēng)論的有效性。他說(shuō)：“開(kāi)始，一些實(shí)施邊界掃描技術(shù)的元件供應(yīng)商做得不太好。額外電路可能使器件增加四五千個(gè)門，但是當(dāng)門減少時(shí)，邊界掃描占用的空間就失去了意義。自動(dòng)化工具使設(shè)計(jì)者的時(shí)間縮短為幾天。曾經(jīng)高達(dá)15%的額外成本已降到添加邊界掃描根本不會(huì)增加器件成本的程度。”

　　Butkovich稱，在行業(yè)論壇中將對(duì)邊界掃描的需求擺在供應(yīng)商的面前，被提到了一個(gè)新的高度，強(qiáng)調(diào)的是這種能力對(duì)于許多產(chǎn)品測(cè)試都是必不可少的。廠商不應(yīng)將包含邊界掃描元件看作是一項(xiàng)競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)，而是看作所有產(chǎn)品制造商都應(yīng)支持的一項(xiàng)基本要求。

　　他繼續(xù)說(shuō)：“我們都看到，在達(dá)到足夠的測(cè)試覆蓋率方面，傳統(tǒng)的ICT方法已變得空前困難和不實(shí)用。由于我們生產(chǎn)的產(chǎn)品類型（圖3）的原因，許多電路中幾乎沒(méi)有包括傳統(tǒng)的訪問(wèn)空間。檢測(cè)沒(méi)有提供任何有效的解決辦法。我們需要有效的電氣測(cè)試。”