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提高M(jìn)SP430G系列單片機(jī)的Flash 擦寫壽命的方法

作者: 時間:2012-12-05 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

2.2.1 軟件描述

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/257217.htm

在軟件實現(xiàn)上,為了便于軟件處理,建議定義一些關(guān)鍵宏定義和結(jié)構(gòu)體,指定 模擬 的起始、結(jié)束地址、頁的大小、子頁的大小、每個頁的子頁數(shù)目等參數(shù),同時將需要操作的參數(shù)封裝起來,便于軟件操作和管理,不建議定義許多離散的標(biāo)志變量。

在軟件操作上, 模擬模塊需要提供幾個API 接口給應(yīng)用程序調(diào)用。

  • 通過typedef 關(guān)鍵字定義設(shè)備類型,typedef unsigned char u8;
  • ChkFstPowerOnInfo()用于檢測芯片是否為第一次上電并初始化 參數(shù)到內(nèi)存,原型如下。
  • Void ChkFstPowerOnInfo(void);
  • Write()用于寫Flash,傳遞的形參包括指向待寫入數(shù)據(jù)的指針,待寫入數(shù)據(jù)在子頁中的起始字節(jié)編號,寫入數(shù)據(jù)的長度,原型如下。
  • void FlashWrite( u8 *array, u8 startNum, u8 length );
  • FlashErase()用于擦除Flash,傳遞的形參是子頁的編號,在擦除函數(shù)中需要根據(jù)子頁的編號判斷是否需要執(zhí)行頁的擦除操作,原型如下。

void FlashErase(u8 seg_sn);

2.2.2 軟件流程圖

軟件啟動后,初始化模擬EEPROM流程圖描述如下。

調(diào)用API,向模擬EEPROM 寫入數(shù)據(jù)的軟件流程如圖五所示。在軟件處理中,要特別注意目標(biāo)指針的切換和保證寫入數(shù)據(jù)的正確性,在代碼空間允許的情況下,可以增加一些校驗算法來保證。

采用劃分子頁的方案總結(jié)如下。

  • 每次寫入模擬EEPROM的數(shù)據(jù)長度為定長,即為子頁的長度。
  • 軟件需要定義一個存儲變量結(jié)構(gòu)體,用于刷新和同步模擬EEPROM內(nèi)容。在將數(shù)據(jù)寫入模擬EEPROM之前,程序員需要按照約定的數(shù)據(jù)格式,在內(nèi)存中將所有的目標(biāo)存儲變量進(jìn)行整理。
  • 在軟件處理上,需要計算當(dāng)前寫入和下一次寫入的物理地址;在每一次執(zhí)行寫入操作后,根據(jù)子頁長度大小,將指向子頁的目的操作指針自動累加。
  • 待一個頁(Page)寫滿后,需要將最后更新的模擬EEPROM數(shù)據(jù)拷貝到下一個頁,再對寫滿頁執(zhí)行一次擦除操作。
  • 在嵌入式軟件處理上需加入合適的校驗機(jī)制,保證寫入數(shù)據(jù)的正確性并監(jiān)測用于模擬EEPROM功能的Flash 子頁是否已經(jīng)失效。

2.3 兩種方案的對比分析

兩種方案的對比分析見表二。

表二 兩種方案的對比分析

虛擬地址加數(shù)據(jù)的方案

劃分子頁的方案

優(yōu)點

對所有存儲變量進(jìn)行了虛擬地址預(yù)分配,完全模擬了EEPROM 的地址加變量數(shù)據(jù)的訪問方式,易于理解并且操作簡便。

對所有存儲變量進(jìn)行了封裝,通過由模擬EEPROM 驅(qū)動模塊提供的API 接口進(jìn)行整體操作,操作簡便。

存儲空間利用率高。

缺點

由于為每個存儲變量分配了虛擬地址,在有限Flash 資源前提下,存儲空間利用率低,理論利用率低于50%。

每次數(shù)據(jù)保存,都需要對整個子頁進(jìn)行寫操作,效率較低。

在每次將數(shù)據(jù)保存到模擬EEPROM 之前,需要應(yīng)用程序?qū)⒋龑懭氲淖兞繑?shù)據(jù)結(jié)構(gòu)體進(jìn)行整理,增加軟件開銷。

總結(jié)

兩種方案都可以提高Flash 的擦寫壽命,用戶可以結(jié)合自己的應(yīng)用設(shè)計進(jìn)行方案選擇;

在有限資源前提下,如需要更大容量的數(shù)據(jù)存儲空間,建議選擇劃分子頁的方式;

在實際應(yīng)用中,可以根據(jù)不同的需求,將存儲變量進(jìn)行分類:將可能頻繁變化和需要保存的非易失性數(shù)據(jù)存儲到Flash 模擬EEPROM(code Flash)中,將不會經(jīng)常改變的非易失性數(shù)據(jù)存儲到信息Flash(information Flash)中,從而增加Flash 模擬EEPROM模塊的利用率,更加靈活的實現(xiàn)數(shù)據(jù)保存。

3. 實際的嵌入式應(yīng)用

根據(jù)軟件需要,建議采用字節(jié)(8bit)做為操作的最小粒度,適用性會更廣泛。

3.1 Flash 存儲器擦寫壽命的提升

對于 系列的Flash 存儲器,可以保證至少10000 次的編程和擦除壽命。如圖六所示。

圖六 系列Flash 編程和擦除壽命

采用劃分小頁結(jié)合至少分配2 個大頁的操作方式,則可以大大增加Flash 模擬EEPROM 的擦寫壽命。例如,對于 系列,如果將每個小頁的尺寸劃分為16 字節(jié),采用2 個大頁(每頁512 字節(jié))作為模擬EEPROM 使用,則可以提供64 個操作子頁((512/16)x2=64),可以保證至少640000 次的擦寫壽命。

3.2 掉電時的異常處理

如果正在進(jìn)行Flash 數(shù)據(jù)存儲時發(fā)生掉電,數(shù)據(jù)可能會保存不成功,存在異常。為了增強(qiáng)健壯性,在軟件處理上,需要考慮設(shè)備異常掉電等可能會導(dǎo)致Flash 擦寫失敗的情況。

在軟件處理中,當(dāng)成功保存Flash 數(shù)據(jù)后,再寫入該子頁的狀態(tài)標(biāo)志。上電后,用戶程序?qū)⒉檎易詈笠淮螌懭氲淖禹摚賹⒃撟禹摰臄?shù)據(jù)內(nèi)容并恢復(fù)到內(nèi)存中的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)中。

4. 系統(tǒng)可靠性設(shè)計

4.1 時鐘源的選擇

由于驅(qū)動Flash 的時鐘源(ACLK、MCLK、SMCLK)和時鐘頻率可以設(shè)定,為了保證在將數(shù)據(jù)寫入模擬EEPROM時的可靠性,建議在將Flash 的時鐘頻率降低后,再對其進(jìn)行操作。例如將Flash 的時鐘頻率降低到1MHz 后,進(jìn)行寫入操作。需要注意,在降低了時鐘頻率后,若此時鐘源也是定時器(Timer)的時鐘源,則可能會影響到定時器的定時準(zhǔn)確性,需要軟件上做好處理。

4.2 代碼在RAM中運行

由于向Flash 寫入數(shù)據(jù)操作是通過執(zhí)行Flash 中程序代碼,對Flash 進(jìn)行擦除和編程操作。由于對Flash 的編程需要mcu 內(nèi)部執(zhí)行一個升壓操作,所以如果有足夠的內(nèi)存空間,建議將編程、擦除等關(guān)鍵代碼拷貝到RAM中運行,可以使用關(guān)鍵字__ramfunc 指定,如下圖七所示。

圖七 使用關(guān)鍵字__ramfunc 將程序指定到Ram 中運行

5. 總結(jié)

本文從軟件方面,以及安全性方面探討了使用MSP430G 系列單片機(jī)在使用Flash 模擬EEPROM方面的應(yīng)用,提供了兩種不同的方式供選擇。兩種方式都可以大幅度提高模擬EEPROM的編寫、擦除壽命,并且滿足高可靠性的應(yīng)用設(shè)計,用戶可以結(jié)合具體的應(yīng)用進(jìn)行選擇。

參考文檔

1. MSP430x2xx family user’s guide (SLAU144)

2. MSP430G2x53 datasheet (SLAS735)

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