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一種基于FPGA的SOC設(shè)計(jì)方案

作者: 時(shí)間:2014-09-14 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

  在圖4中顯示的是FS2工具的用戶界面,設(shè)計(jì)中用到的八條指令,分別是:1>、2>、3>……8>,其中指令1>、2>用來配置片外Flash芯片;指令3>用來選擇將要擦寫的存儲空間,由圖中可知,本設(shè)計(jì)中要進(jìn)行的讀寫操作 的存儲空間是Ox00000000-0x003FFFFF;指令4>用來對Flash指定的存儲空間進(jìn)行擦除操作;指令5>用來把已經(jīng)準(zhǔn)備好的二進(jìn)制文件寫到上述存儲空間中,設(shè)計(jì)中使用的二進(jìn)制文件名是QUICK.HEX;指令6>是用來顯示指定存儲空間中的內(nèi)容,從圖中可看出,寫到存儲空間Ox00000000-0x0000003F的內(nèi)容是18、FO、9F……、12、E3;指令7>執(zhí)行對上述存儲空間寫入的數(shù)據(jù)的擦除操作;指令8>顯示上述存儲單元擦除后的內(nèi)容。

本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/262872.htm

  

 

  圖4 片外Flash的擦寫演示過程

  通過對上述過程的分析可知,所搭建的系統(tǒng)可準(zhǔn)確實(shí)現(xiàn)片外Flash的擦寫操作,進(jìn)而說明了該系統(tǒng)的準(zhǔn)確性。

  3.2 搭建的系統(tǒng)對外設(shè)接口的讀寫操作

  本測試在遵循ARM7先進(jìn)外圍總線APB的讀寫時(shí)序的前提下,定制用戶邏輯外設(shè)PIO,通過該系統(tǒng)對PIO接口進(jìn)行讀寫操作來進(jìn)一步驗(yàn)證設(shè)計(jì)的準(zhǔn)確,驗(yàn)證中的用到的APB總線的讀寫時(shí)序如圖5。

  

 

  圖5 APB總線的讀寫時(shí)序

  下面將主要遵循系統(tǒng)中先進(jìn)的外圍總線APB的讀寫時(shí)序,首先采用硬件描述語言和C代碼,定制八位的用戶邏輯外設(shè)PIO,然后將PIO的輸入端口接到開關(guān)Switch0一Switch7,輸出端口接到八個(gè)發(fā)光二極管Led0一Led7,通過軟硬件調(diào)試,使八位開關(guān)的輸入電平顯示到八個(gè)發(fā)光二極管上,以此來進(jìn)一步驗(yàn)證設(shè)計(jì)中搭建的系統(tǒng)的準(zhǔn)確,針對上述過程及要求,為了更直觀地展示驗(yàn)證結(jié)果,制作了簡單的實(shí)驗(yàn)板,當(dāng)開關(guān)鍵在高電平時(shí),發(fā)光二極管變亮,否則,發(fā)光二極管不亮。其中定制用戶邏輯外設(shè)的主要步驟如下:

  1)規(guī)劃元件的硬件功能;

  2)使用硬件描述來描述硬件邏輯;

  3)單獨(dú)驗(yàn)證元件的硬件功能;

  4)描述寄存器的C頭文件來為軟件定義硬件寄存器映像;

  5)將元件集成到ARM7系統(tǒng)中,使用ARM7來測試寄存器的訪問是否正確,并為該元件編寫軟件驅(qū)動;

  6)執(zhí)行系統(tǒng)級的驗(yàn)證等。

  圖6是在Aetel公司的調(diào)試軟件Sofleonsole和實(shí)驗(yàn)板上的實(shí)際調(diào)試結(jié)果。

  

 

  圖6 調(diào)試結(jié)果

  由圖6顯示的調(diào)試結(jié)果可知,八位開關(guān)Switeh0-Switeh7的輸入分別是11001011和11100101,這個(gè)和八個(gè)發(fā)光二極管Led0-Led7的輸出結(jié)果一致,由此進(jìn)一步驗(yàn)證了設(shè)計(jì)的準(zhǔn)確性。

  4 結(jié)束語

  本文通過對基于ARM7的系統(tǒng)的設(shè)計(jì),介紹了一種Flash結(jié)構(gòu)的器件及其片上系統(tǒng)的設(shè)計(jì)方法,進(jìn)而給出了兩種驗(yàn)證該片上系統(tǒng)準(zhǔn)確性的方法,通過實(shí)際驗(yàn)證,該系統(tǒng)不僅能準(zhǔn)確進(jìn)行片外存儲器的擦寫,而且可以準(zhǔn)確進(jìn)行外設(shè)接口的讀寫的操作,由此驗(yàn)證了設(shè)計(jì)的準(zhǔn)確性。文中所搭建SOC系統(tǒng),可以與符合ARM公司的AHB2.0協(xié)議的北斗基帶芯片無縫連接,在北斗接收機(jī)的設(shè)計(jì)、測試中有重要的參考價(jià)值。

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