是德科技開(kāi)發(fā)應(yīng)用ENA網(wǎng)絡(luò)分析儀MIPI D-PHY v1.1接口S參數(shù)和阻抗測(cè)試實(shí)施方法

　　是德科技公司日前宣布，支持發(fā)射機(jī)/接收機(jī)接口S 參數(shù)和阻抗測(cè)試的實(shí)施法(MOI)文件現(xiàn)已發(fā)布。實(shí)施法符合MIPI 聯(lián)盟D-PHY 規(guī)范版本1.1 要求，配有包含狀態(tài)文件的測(cè)試套件(狀態(tài)文件可以簡(jiǎn)化設(shè)置和測(cè)量)，需使用ENA 系列網(wǎng)絡(luò)分析儀的增強(qiáng)時(shí)域分析選件(E5071C-TDR)。

　　現(xiàn)代移動(dòng)設(shè)備需要能夠處理高速數(shù)據(jù)信號(hào)并且接口功耗較低的物理層(PHY)。MIPI D-PHY 是針對(duì)CSI 和DSI 等協(xié)議的高頻、極低功率物理層標(biāo)準(zhǔn)。這些協(xié)議可用于連接移動(dòng)設(shè)備的攝像頭和顯示屏等器件。要確保符合MIPI D-PHY標(biāo)準(zhǔn)，接口必須在實(shí)際工作條件根據(jù)D-PHY 一致性測(cè)試套件V1.1 接受測(cè)試。

　　是德科技的實(shí)施方法可以為工程師提供測(cè)量流程指導(dǎo)，確保測(cè)試符合最新MIPI D-PHY 規(guī)范的接口S 參數(shù)和阻抗測(cè)試要求。結(jié)合MIPI D-PHY v1.1 實(shí)施方法和狀態(tài)文件，半導(dǎo)體制造商和產(chǎn)品集成商可以借助E5071C-TDR 提升一致性測(cè)試效率。

　　是德科技副總裁兼元器件測(cè)試事業(yè)部總經(jīng)理Akira Nukiyama表示：“是德科技提供豐富的高速數(shù)字應(yīng)用實(shí)施方法，例如HDMI、USB 和PCI Express 等。最新的MIPI D-PHY v1.1 實(shí)施方法再次論證了是德科技的決心，即努力滿足客戶的需求，保證為客戶提供強(qiáng)大的功能，幫助他們應(yīng)對(duì)高速測(cè)量挑戰(zhàn)。”

　　應(yīng)用E5071C-TDR 的MIPI D-PHY v1.1 一致性測(cè)試的實(shí)施方法文件現(xiàn)已發(fā)布。