針對(duì)無(wú)線測(cè)試的幾種并行測(cè)試架構(gòu)探討

　　II.多DUT測(cè)試可提高測(cè)試吞吐量

　　盡管近幾年來(lái)設(shè)備制造商普遍采用非信令測(cè)試來(lái)大幅縮短測(cè)試時(shí)間，但 是更復(fù)雜的新無(wú)線技術(shù)的出現(xiàn)以及產(chǎn)品周期的不斷縮短進(jìn)一步增加了減少測(cè)試時(shí)間和成本的壓力。例如，802.11ac通過(guò)增加新的數(shù)據(jù)速率、帶寬以及空間流 擴(kuò)展了802.11n。隨著設(shè)備制造商將802.11ac應(yīng)用到產(chǎn)品中，他們不僅需要測(cè)試這個(gè)新標(biāo)準(zhǔn)，而且為了保持向后兼容性，還需要繼續(xù)測(cè)試以前的標(biāo) 準(zhǔn)。

　　此類因素顯著增加了測(cè)試時(shí)間，繼而增加了測(cè)試成本。新的解決方案是芯片組供應(yīng)商、測(cè)試廠商以及最終用戶通過(guò)并行測(cè)試多臺(tái) 設(shè)備來(lái)最大限度提高效率，這一方法也稱為“多DUT”測(cè)試。通過(guò)利用最新的多DUT測(cè)試軟硬件架構(gòu)，設(shè)備制造商可以顯著增加他們的生產(chǎn)測(cè)試吞吐量而不會(huì)增 加測(cè)試成本。這里來(lái)研究和比較各種多DUT測(cè)試方案，其中圖2所示的方案是使用一個(gè)VSA+VSG或VST通過(guò)一個(gè)開(kāi)關(guān)矩陣來(lái)測(cè)試4個(gè)DUT。

　　圖2：多DUT硬件配置范例

　　這里基于這一測(cè)試配置來(lái)討論不同的方法。為了比較這些方法，此處將一個(gè)典型的WLAN測(cè)試分成以下幾個(gè)常見(jiàn)的步驟，并規(guī)定了它們的相對(duì)時(shí)間單位，如表1所示。

　　表1，WLAN測(cè)試的常見(jiàn)組成元素

　　這 些步驟中耗時(shí)最長(zhǎng)的是與待測(cè)設(shè)備進(jìn)行通信來(lái)實(shí)現(xiàn)正確運(yùn)行模式所需的時(shí)間。取決于DUT和測(cè)試計(jì)劃，DUT控制時(shí)間可占總測(cè)試時(shí)間的45%~90%。因此， 如果要開(kāi)發(fā)一個(gè)具有最低總測(cè)試成本的測(cè)試系統(tǒng)，則該系統(tǒng)必須具有低的測(cè)試設(shè)備成本，同時(shí)使測(cè)試設(shè)備的待機(jī)時(shí)間降到最低。

　　C.串行測(cè)試

　　在傳統(tǒng)的測(cè)試計(jì)劃中，設(shè)備通過(guò)一個(gè)由夾具和射頻儀器支持的測(cè)試站進(jìn)行串行測(cè)試。測(cè)試順序與圖3中所示的時(shí)間框圖相似。此類測(cè)試應(yīng)用的主要優(yōu)勢(shì)是非常易于實(shí)現(xiàn)。然而，這種方法并沒(méi)有利用任何類型的軟件或硬件并行機(jī)制，從而導(dǎo)致所有DUT啟動(dòng)期間RF儀器均處于待機(jī)狀態(tài)。

　　圖3：串行測(cè)試時(shí)間框圖

　　D.流水線

　　利用多線程并行軟件架構(gòu)和外部開(kāi)關(guān)電路，已經(jīng)完成啟動(dòng)的DUT在執(zhí)行TX和RX測(cè)試時(shí)，并行軟件線程可控驅(qū)動(dòng)下一個(gè)DUT的啟動(dòng)過(guò)程，從而實(shí)現(xiàn)測(cè)試的流水線執(zhí)行。這種方法減少了儀器的停機(jī)時(shí)間，縮短了高達(dá)35%的測(cè)試時(shí)間，如圖4所示。

　　圖4：流水線測(cè)試的時(shí)間框圖

　　E.并行RX測(cè)試

　　另一種減少測(cè)試時(shí)間的方法是通過(guò)向多個(gè)DUT發(fā)送相同的波形來(lái)同時(shí)執(zhí)行多個(gè)RX測(cè)試。通過(guò)將每個(gè)DUT分配到相應(yīng)的軟件線程，所有DUT均可同時(shí)啟動(dòng)。使用如圖5所示的技術(shù)，多DUT的測(cè)試時(shí)間相比流水線測(cè)試可減少25%，相比串行測(cè)試設(shè)備可減少超過(guò)50%。

　　圖5：并行RX測(cè)試時(shí)間框圖