測(cè)試環(huán)路濾波器及射頻電路設(shè)計(jì)詳解
小數(shù)分頻頻率合成器在測(cè)試時(shí)必須外接一個(gè)環(huán)路濾波器電路與壓控振蕩器才能構(gòu)成一個(gè)完整的鎖相環(huán)電路。其外圍電路中環(huán)路濾波器的設(shè)計(jì)好壞將直接影響到芯片的性能測(cè)試。以ADF4153小數(shù)分頻頻率合成器為例,研究了其外圍環(huán)路濾波器的設(shè)計(jì)方法,給出了基于芯片測(cè)試的環(huán)路濾波器設(shè)計(jì)流程,并進(jìn)行了驗(yàn)證測(cè)試。測(cè)試結(jié)果表明,該濾波器可滿足小數(shù)分頻頻率合成器芯片測(cè)試的需要。在進(jìn)行小數(shù)分頻頻率合成器的芯片測(cè)試時(shí),數(shù)字部分可以通過常規(guī)的數(shù)字測(cè)試方法即可以實(shí)現(xiàn);而輸出射頻信號(hào)的相位噪聲、雜散噪聲則需要芯片工作在正常的輸出狀態(tài)下才能測(cè)試。小數(shù)分頻頻率合成器芯片在測(cè)試時(shí)需要與外接環(huán)路濾波器(LF)、壓控振蕩器(VCO)才能構(gòu)成完整的鎖相環(huán)回路,在具備正常的芯片功能的前提下才能實(shí)現(xiàn)對(duì)其相位噪聲、雜散噪聲下的測(cè)試。
本文引用地址:http://m.butianyuan.cn/article/272350.htm壓控振蕩器均使用現(xiàn)成的器件,在挑選器件時(shí)注意性能指標(biāo)的匹配就可以,只有環(huán)路濾波器才是需要計(jì)算和設(shè)計(jì)的。環(huán)路濾波器在整個(gè)電路中主要作為一個(gè)低通濾波器,它將芯片鑒相器輸出的脈沖信號(hào)進(jìn)行低通濾波,將高頻分量濾除,最終得到一個(gè)相對(duì)平滑的直流電壓信號(hào)去控制VCO工作,從而獲得一個(gè)穩(wěn)定的頻率輸出。環(huán)路濾波器的性能將直接影響到小數(shù)分頻頻率合成器芯片性能的測(cè)試。
本文以ADF 4153型小數(shù)分頻頻率合成器為例,給出了容易實(shí)現(xiàn)的三階環(huán)路濾波器的設(shè)計(jì)方法,能夠滿足芯片實(shí)際測(cè)試的需要。
外接環(huán)路濾波器的設(shè)計(jì)
環(huán)路濾波器是電荷泵鎖相環(huán)電路的重要環(huán)節(jié),它連接在電荷泵和壓控振蕩器之間。鎖相環(huán)的基本頻率特性是由環(huán)路濾波器決定的。實(shí)際上,正是由于環(huán)路濾波器的存在,鎖相環(huán)才可以選擇工作在任意的中心頻率和帶寬內(nèi)。環(huán)路濾波器的類型多種多樣,大致分為有源濾波器和無源濾波器兩大類,無源濾波器與有源濾波器相比,其優(yōu)點(diǎn)在于:結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、低噪聲、高穩(wěn)定度和易以實(shí)現(xiàn)。
最常見的無源濾波器是如圖1所示的三階濾波器。一般而言,環(huán)路濾波器的帶寬應(yīng)為PFD頻率(通道間隔)的1/10.提高環(huán)路帶寬會(huì)縮短鎖定時(shí)間。但環(huán)路帶寬過大會(huì)大幅度地增加不穩(wěn)定性,從而導(dǎo)致鎖相環(huán)無法鎖定的狀態(tài)。
圖1三階環(huán)路濾波器
環(huán)路濾波器設(shè)計(jì)參數(shù)的選擇
為了研究環(huán)路濾波器對(duì)鎖相環(huán)輸出頻率相位噪聲的影響,設(shè)計(jì)出符合芯片測(cè)試需要的外圍環(huán)路濾波器。我們?cè)贏DIsimPLL軟件中進(jìn)行了如下仿真配置。器件型號(hào):ADF 4153,fPFD=25MHz(理想信號(hào)源),INT=69,F(xiàn)RAC=101,MOD=125,VCO采用ZComm公司的V674ME34-LF,在該配置下,預(yù)期輸出的RFOUT=1.7452GHz.
a)設(shè)定環(huán)路濾波器帶寬為20kHz,相位裕度50°,其相位噪聲的仿真情況如圖2所示。
圖2環(huán)路帶寬20kHz時(shí)的相位噪聲仿真圖
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